专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]有源矩阵基板及其制造方法-CN202010213981.3有效
  • 今井元;大东彻;菊池哲郎;山中昌光;原义仁;川崎达也;铃木正彦;西宫节治 - 夏普株式会社
  • 2020-03-24 - 2023-08-11 - H01L29/417
  • 提供有源矩阵基板,其具备氧化物半导体TFT,能降低寄生电容。有源矩阵基板具备源极总线、下部绝缘层、包含氧化物半导体层的氧化物半导体TFT、栅极总线及多个配线连接部,氧化物半导体层在形成于下部绝缘层的源极用开口部内电连接到源极电极或源极总线,各配线连接部包含:下部导电部,其使用第1导电膜形成;下部绝缘层,其在下部导电部上延伸设置;氧化物连接层,其与氧化物半导体层使用相同氧化物膜形成,并在形成于下部绝缘层的下部开口部内电连接到下部导电部;绝缘层,其覆盖氧化物连接层;以及上部导电部,其在形成于绝缘层的上部开口部内电连接到氧化物连接层,氧化物连接层包含电阻率比氧化物半导体层的沟道区域的电阻率低的区域。
  • 有源矩阵及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置-CN202310038808.8在审
  • 菊池哲郎;铃木正彦;西宫节治;高畑仁志;渡部卓哉;大东彻 - 夏普显示科技株式会社
  • 2023-01-12 - 2023-07-14 - H01L27/12
  • 一种半导体装置,具备基板和支撑于基板并具有包含第1TFT的多个TFT的第1电路,第1TFT具有:半导体层;下部栅极电极,其位于半导体层的基板侧,隔着下部栅极绝缘层与半导体层的一部分重叠;以及上部栅极电极,其位于半导体层的与基板相反的一侧,隔着上部栅极绝缘层与半导体层的一部分重叠,下部栅极电极和上部栅极电极中的一方是第1栅极电极,另一方是第2栅极电极,第1栅极电极被供应第1信号,第2栅极电极被供应与第1信号不同的第2信号,第1TFT在第1信号的高电平电位与低电平电位之间且第2信号的高电平电位与低电平电位之间具有阈值电压,第1信号成为高电平电位的期间与第2信号成为高电平电位的期间构成为相互不重叠。
  • 半导体装置
  • [发明专利]有源矩阵基板及其制造方法-CN202010494210.6有效
  • 菊池哲郎;大东彻;今井元;铃木正彦;西宫节治;原健吾;山中昌光;高畑仁志 - 夏普株式会社
  • 2020-06-03 - 2023-06-27 - H01L27/12
  • 一种有源矩阵基板,具备:基板;多个氧化物半导体TFT;多个栅极总线;多个源极总线;至少1个干配线,其设置于非显示区域,传递信号;及多个其它配线,其分别以与干配线至少部分重叠的方式配置。有源矩阵基板在基板上具有第1金属层、配置在第1金属层的上方的第2金属层及配置在第2金属层的上方的第3金属层。第1、第2及第3金属层中的任意一层包含源极总线,其它任意一层包含栅极总线。干配线形成于第1、第2及第3金属层中的2个金属层。其它配线形成于另1个金属层。干配线具有包含形成于2个金属层中的一方的下部配线和形成于2个金属层中的另一方且隔着绝缘层配置在下部配线上的上部配线的多层结构,下部配线与上部配线是电连接的。
  • 有源矩阵及其制造方法
  • [发明专利]半导体装置-CN201811115059.X有效
  • 菊池哲郎;大东彻;今井元;铃木正彦;西宫节治;上田辉幸;原健吾 - 夏普株式会社
  • 2018-09-25 - 2023-06-27 - H01L27/12
  • 提供具备具有稳定的特性的可靠性高的氧化物半导体TFT的半导体装置。半导体装置中的至少1个薄膜晶体管(101)包括半导体层(7)、栅极电极(3)、栅极绝缘层(5)、源极电极(8)和漏极电极(9),半导体层具有层叠结构,上述层叠结构包括:多个沟道形成层,其包括第1沟道形成层(70A)和第2沟道形成层(70B);以及至少1个中间层,其包括配置于第1沟道形成层和第2沟道形成层之间的第1中间层(71a),第1沟道形成层(70A)配置于比第2沟道形成层(70B)靠栅极绝缘层侧的位置且与栅极绝缘层(5)接触,多个沟道形成层和至少1个中间层均是氧化物半导体层,多个沟道形成层分别具有比至少1个中间层高的迁移率。
  • 半导体装置
  • [发明专利]有源矩阵基板及其制造方法、液晶显示装置的制造方法-CN201910883506.4有效
  • 吉野光;森永润一;菊池哲郎;原健吾 - 夏普株式会社
  • 2019-09-18 - 2023-06-06 - H01L27/12
  • 一种有源矩阵基板的制造方法,包含如下工序:在基板上形成氧化物半导体层、栅极绝缘层及栅极电极;形成具有源极侧开口部和漏极侧开口部的绝缘层;在源极侧开口部内形成源极电极,在漏极侧开口部内形成漏极电极;形成具有第1接触孔的层间绝缘层;在层间绝缘层上和第1接触孔内形成第1透明导电膜;在第1透明导电膜的一部分上使用金属膜形成上部配线部;进行第1透明导电膜的图案化,由此形成像素电极和下部配线部;形成具有第2接触孔的电介质层;以及在电介质层上和第2接触孔内形成共用电极,在从基板的法线方向观看时,第1接触孔的底面与漏极侧开口部的底面至少部分重叠,第2接触孔的底面与源极侧开口部的底面至少部分重叠。
  • 有源矩阵及其制造方法液晶显示装置
  • [发明专利]有源矩阵基板及其制造方法-CN202211024990.3在审
  • 原健吾;大东彻;菊池哲郎;铃木正彦;西宫节治;高畑仁志 - 夏普显示科技株式会社
  • 2022-08-25 - 2023-03-03 - H10K59/123
  • 一种有源矩阵基板,具备第1TFT和第2TFT,第1TFT具有:第1氧化物半导体层,其包含第1沟道区域;第1栅极电极,其配置在第1氧化物半导体层的基板侧;沟道保护层,其配置在第1氧化物半导体层的与基板相反的一侧,覆盖第1沟道区域;以及比沟道保护层靠上层的第1源极电极和第1漏极电极,第2TFT具有:第2氧化物半导体层;第2栅极电极,其配置在第2氧化物半导体层的与基板相反的一侧;以及第2源极电极和第2漏极电极,其配置在覆盖第2栅极电极的层间绝缘层上,第1氧化物半导体层和第2氧化物半导体层是由相同的层叠氧化物半导体膜形成的,第1TFT的沟道保护层与第2TFT的栅极绝缘层是由相同的绝缘膜形成的。
  • 有源矩阵及其制造方法
  • [发明专利]有源矩阵基板的制造方法-CN202010186575.2有效
  • 原健吾;大东彻;今井元;菊池哲郎;铃木正彦;西宫节治;山中昌光;上田辉幸;高畑仁志 - 夏普株式会社
  • 2020-03-17 - 2023-01-31 - G02F1/1362
  • 有源矩阵基板的制造方法包含如下工序:(A),在基板上形成遮光层及下部导电层;(B),以覆盖遮光层及下部导电层的方式形成下部绝缘层;(C),在下部绝缘层上形成氧化物半导体层、栅极绝缘层及栅极电极;(D),以覆盖栅极电极及氧化物半导体层的方式形成层间绝缘层;(E),将源极接触孔及漏极接触孔形成于层间绝缘层,并且以使下部导电层的一部分露出的方式将连接部接触孔形成于层间绝缘层及下部绝缘层;以及(F),在层间绝缘层上形成源极电极、漏极电极及上部电极层。工序(E)包含:工序(e‑1),在层间绝缘膜上形成光致抗蚀剂膜;及工序(e‑2),使用多灰度级掩模将光致抗蚀剂膜曝光,之后进行显影,从而形成光致抗蚀剂层。
  • 有源矩阵制造方法
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201910168669.4有效
  • 菊池哲郎;铃木正彦;西宫节治;上田辉幸;山中昌光;大东彻;今井元;原健吾 - 夏普株式会社
  • 2019-03-06 - 2022-11-18 - H01L29/786
  • 提供具备能具有高迁移率和高可靠性的氧化物半导体TFT的半导体装置。半导体装置具备薄膜晶体管,薄膜晶体管的半导体层具有包括包含In、Ga、Zn及Sn的下部氧化物半导体层和配置于下部氧化物半导体层上且包含In、Ga及Zn的上部氧化物半导体层的层叠结构,下部氧化物半导体层的厚度是20nm以下,下部氧化物半导体层中的Sn相对于全部金属元素的原子数比是5%以上,上部氧化物半导体层不包含Sn,或者上部氧化物半导体层中的Sn相对于全部金属元素的原子数比小于下部氧化物半导体层中的Sn相对于全部金属元素的原子数比,下部氧化物半导体层的侧面与下表面之间的第1角度小于上部氧化物半导体层的侧面与下表面之间的第2角度。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]有源矩阵基板及其制造方法-CN202111578917.6在审
  • 高畑仁志;菊池哲郎;原健吾;西宫节治;铃木正彦;大东彻 - 夏普株式会社
  • 2021-12-22 - 2022-06-28 - H01L27/12
  • 提供一种有源矩阵基板,具备具有顶栅结构并且特性相互不同的多个氧化物半导体TFT。有源矩阵基板具备第1TFT和第2TFT,各TFT的氧化物半导体层包含高电阻区域和低电阻区域,高电阻区域包含在从基板的法线方向观看时与栅极电极重叠的沟道区域以及与栅极绝缘层重叠而与栅极电极不重叠的偏移区域,低电阻区域包含源极接触区域、漏极接触区域以及介于这些接触区域与高电阻区域之间的介设区域,第1TFT的栅极绝缘层包含第1绝缘膜和配置在第1绝缘膜上的第2绝缘膜,第2TFT的栅极绝缘层包含第2绝缘膜而不包含第1绝缘膜,第1TFT的偏移区域的沟道长度方向的合计长度L1大于第2TFT的偏移区域的沟道长度方向的合计长度L2。
  • 有源矩阵及其制造方法
  • [发明专利]有源矩阵基板-CN202111519776.0在审
  • 原健吾;大东彻;菊池哲郎;铃木正彦;西宫节治;高畑仁志 - 夏普株式会社
  • 2021-12-13 - 2022-06-17 - H01L27/12
  • 一种有源矩阵基板,具备包含多个第1TFT的多个氧化物半导体TFT,各氧化物半导体TFT的氧化物半导体层包含沟道区域、源极接触区域以及漏极接触区域,沟道区域具有相互相对的第1端部和第2端部、位于这两个端部的源极接触区域侧的源极侧端部、以及位于这两个端部的漏极接触区域侧的漏极侧端部,各第1TFT还具有位于氧化物半导体层与基板之间的遮光层,遮光层包含开口区域和遮光区域,当从基板的法线方向观察时,遮光区域包含位于第1端部的第1遮光部和位于第2端部的第2遮光部,第1遮光部和第2遮光部分别具有相互相对的第1缘部和第2缘部,第1缘部的至少一部分与沟道区域重叠,第2缘部位于沟道区域的外侧,不与沟道区域重叠。
  • 有源矩阵
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN201780059506.1有效
  • 铃木正彦;今井元;北川英树;菊池哲郎;西宫节治;上田辉幸;原健吾;大东彻;伊藤俊克 - 夏普株式会社
  • 2017-09-21 - 2022-02-25 - H01L29/786
  • 半导体装置具备包含半导体层(7)、栅极电极(3)、栅极绝缘层(5)、源极电极(8)以及漏极电极(9)的薄膜晶体管(101),半导体层(7)具有层叠结构,该层叠结构包含:第1氧化物半导体层(71),其包含In和Zn,第1氧化物半导体层所包含的In相对于全部金属元素的原子数比大于第1氧化物半导体层所包含的Zn相对于全部金属元素的原子数比;第2氧化物半导体层(72),其包含In和Zn,第2氧化物半导体层所包含的Zn相对于全部金属元素的原子数比大于第2氧化物半导体层所包含的In相对于全部金属元素的原子数比;以及中间氧化物半导体层(70),其配置在第1氧化物半导体层与第2氧化物半导体层之间,第1氧化物半导体层和第2氧化物半导体层是结晶质氧化物半导体层,中间氧化物半导体层是非晶质氧化物半导体层,第1氧化物半导体层(71)配置在比第2氧化物半导体层(72)靠栅极绝缘层(5)侧。
  • 半导体装置及其制造方法

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