专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于机器学习的半导体芯片的测试系统-CN202211148547.7有效
  • 范忠孝;杨帆;卜晖;吴玉梅;谢顺坤 - 重庆鹰谷光电股份有限公司
  • 2022-09-20 - 2023-05-23 - G01R31/28
  • 本发明涉及半导体芯片测试技术领域,具体地说,涉及一种基于机器学习的半导体芯片的测试系统。其包括芯片测试单元,芯片测试单元用于对芯片进行逐一测试,并生成芯片测试数据,芯片测试单元的输出端连接有数据分析单元,数据分析单元用于判断芯片测试数据是否合格并生成判断信息,且根据判断信息生成芯片测试的波动频率报告,数据分析单元的输出端连接有芯片数据预测单元,芯片数据预测单元用于依据波动频率报告预测后续测试芯片是否合格。本发明通过摒弃现有中随机抽取待测试芯片进行检测,依据测试芯片的数据异常波动情况锁定抽取待检测芯片的范围阈值,达到更精确的抽检测试与检验芯片数据预测单元预测的情况。
  • 一种基于机器学习半导体芯片测试系统

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