专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]开心果分选装置-CN202180039482.X在审
  • 石原数也;中岛洋人 - 东洋坚果食品株式会社
  • 2021-06-11 - 2023-03-07 - G01N21/892
  • 提供一种开心果分选装置,其可以高精度地检验附着在带壳开心果壳上的荧光物质所发出的BGY荧光而进行是否良好的判定,高速分选不合格品。开心果分选装置具备:照明装置(11),其对于检查区域内作为被分选物的带壳开心果,照射最大峰值波长处于345nm~390nm的范围内的紫外线;光学滤光器(12),其选择性地使500nm~600nm的波长范围的光透过;传感器(13),其检测从被分选物发出并透过光学滤光器(12)的荧光的二维强度分布,生成表示检查区域内的荧光的二维强度分布的二维图像数据;判定装置(14),其基于二维图像数据,单个地判定被分选物是否良好。
  • 开心果分选装置
  • [发明专利]半导体存储装置及半导体装置-CN201210375954.1有效
  • 名仓满;粟屋信义;石原数也;世古明义 - 夏普株式会社;尔必达存储器股份有限公司
  • 2012-10-08 - 2013-04-10 - G11C16/06
  • 本发明提供一种半导体存储装置,能够使向可变电阻元件的电压施加极性不同的2种写入工作后的各验证工作分别低功耗且高速地执行。写入电路(22)构成为能分别执行设定工作和重置工作,设定工作通过从存储器单元的一端侧经由可变电阻元件向另一端侧流过电流,从而使可变电阻元件的电阻低电阻化,重置工作通过从存储器单元的另一端侧经由可变电阻元件向一端侧流过电流,从而使可变电阻元件的电阻高电阻化,读出电路(21)构成为能够分别执行第1读出工作和第2读出工作,第1读出工作通过从存储器单元的一端侧经由可变电阻元件向另一端侧流过电流,从而读出可变电阻元件的电阻状态,第2读出工作通过从存储器单元的另一端侧经由可变电阻元件向一端侧流过电流,从而读出可变电阻元件的电阻状态。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN201210187984.X有效
  • 大西润哉;栗屋信义;名仓满;石原数也 - 夏普株式会社
  • 2012-06-08 - 2012-12-12 - G11C29/42
  • 本发明实现在长期间的数据保持特性上优越且能高效地进行读出时的数据的错误检测和纠正的半导体存储装置。在将使用了金属氧化物的可变电阻元件用于信息的存储的半导体存储装置(1)中,将在使该可变电阻元件转变成高电阻状态的情况下施加的重写电压脉冲的电压振幅设定在使得成为转变后的高电阻状态的电阻值随着时间的经过而上升的数据保持特性的电压范围内。具体地说,设定在伴随着使该电压振幅上升,转变后的高电阻状态的电阻值朝向规定的峰值上升的电压范围。而且,在利用ECC电路(106)检测出数据错误的情况下,视为本来应是低电阻状态的数据变化成了高电阻状态,将检测出错误的全部的存储单元的可变电阻元件重写成低电阻状态,对检测出错误的位进行纠正。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储设备-CN201210106127.2有效
  • 名仓满;栗屋信义;石原数也 - 夏普株式会社
  • 2012-04-12 - 2012-10-17 - G11C29/42
  • 本发明实现一种半导体存储设备,其能够有效地执行在连续的读取动作中会可能发生的数据错误的检测和所述错误数据的校正。所述半导体存储设备(1)使用由金属氧化物制成的可变电阻元件以用于存储信息。在所述半导体存储设备(1)中采用ECC的编码数据的读取动作期间,当通过ECC电路(106)检测数据错误时,假设由于具有与所施加的读取电压脉冲的极性相同的极性的写入电压脉冲的施加而导致已经发生错误写入,具有与读取电压脉冲的极性相反的极性的写入电压脉冲被施加到从其中检测到错误的所有存储单元,以便校正从其中检测到错误的位。
  • 半导体存储设备
  • [发明专利]非易失性半导体存储器设备-CN201110292340.2有效
  • 川端优;山崎信夫;石原数也;大西润哉;粟屋信义;玉井幸夫 - 夏普株式会社
  • 2011-09-30 - 2012-05-09 - G11C13/00
  • 非易失性半导体存储器设备。非易失性半导体存储器设备包括用于存储用户数据的存储器单元阵列,其通过布置存储器单元提供,每个存储器单元具有可变电阻元件,该可变电阻元件具有第一电极2、第二电极3以及夹置在第一电极和第二电极之间由金属氧化物制成的可变电阻器4。第一和第二电极分别由与该可变电阻器4形成欧姆结的导电材料和与该可变电阻器4形成非欧姆结的导电材料形成。可变电阻器通过在电极之间施加电压在两个或更多不同电阻状态之间变化。变化之后的电阻状态以非易失性方式维持。在存储器单元阵列用于存储用户数据之前的未使用状态,存储器单元阵列中的所有存储器单元的可变电阻元件被设置为两个或更多不同电阻状态的最高电阻状态。
  • 非易失性半导体存储器设备
  • [发明专利]半导体存储设备-CN201110285501.5有效
  • 名仓滿;石原数也;山崎信夫;川端优 - 夏普株式会社
  • 2011-09-23 - 2012-04-18 - G11C16/10
  • 所提供的是一种半导体存储设备,其能在随机存取编程动作中以期望的可控性稳定地编程到期望的电阻状态,并且配备有可变电阻元件。不管作为写动作(擦除动作和编程动作)的目标的存储单元的可变电阻元件的电阻状态如何,施加用于将所述可变电阻元件的所述电阻状态恢复到具有最小电阻值的被擦除状态的擦除电压脉冲。此后,用于将所述可变电阻元件的所述电阻状态恢复到期望的被编程状态的编程电压脉冲被施加到所述编程动作目标存储单元的所述可变电阻元件。通过在已经施加了所述擦除电压脉冲之后一直施加所述编程电压脉冲,能够避免被顺序地施加的多个编程电压脉冲。
  • 半导体存储设备
  • [发明专利]半导体存储器设备-CN201110285490.0有效
  • 名仓满;石原数也;山崎信夫;川端优 - 夏普株式会社
  • 2011-09-23 - 2012-04-18 - G11C16/10
  • 半导体存储器设备,其中不管作为写入动作(擦除和编程动作)的目标的存储器单元的可变电阻元件的电阻状态如何,施加用于将可变电阻元件的电阻状态带入具有最低电阻值的擦除状态的擦除电压脉冲。此后,向编程动作目标存储器元件的可变电阻元件施加将可变电阻元件的电阻状态带入所需编程状态的编程电压脉冲。通过总是在施加擦除电压脉冲之后施加编程电压脉冲,可以避免连续地施加多个编程电压脉冲。而且,存储器单元阵列由偶数个子组块构成,且交替地执行一个子组块中擦除电压脉冲的施加和另一子组块中编程电压脉冲的施加。
  • 半导体存储器设备
  • [发明专利]非易失性可变电阻元件的电阻控制方法-CN201110155556.4有效
  • 石原数也 - 夏普株式会社
  • 2011-06-10 - 2012-02-08 - G11C16/02
  • 本发明提供了一种非易失性可变电阻元件的电阻控制方法,对多个存储器单元能同时进行写入工作、擦除工作、以及成形处理。在非易失性可变电阻元件的电阻控制方法中,对于具备将具备非易失性可变电阻元件和晶体管的单位存储器单元排列成矩阵状的存储器单元阵列,通过第1选择线(字线)、第2选择线(位线)、以及第3选择线(源极线)来选择存储器工作对象的存储器单元的非易失性半导体存储装置,具有:选择一根或多根第1选择线的步骤;选择多根第2选择线的步骤;以对全部的被选择的存储器单元施加存储器工作需要的电压的方式,施加对电流经由该第2选择线在第3选择线中流过而导致的第3选择线的电位变动进行补偿的电压来成为存储器工作需要的电压的步骤。
  • 非易失性可变电阻元件控制方法
  • [发明专利]非易失性半导体存储装置-CN201110215067.3有效
  • 大西润哉;山崎信夫;石原数也;井上雄史;玉井幸夫;粟屋信义 - 夏普株式会社
  • 2011-07-29 - 2012-02-08 - H01L45/00
  • 本发明实现一种可变电阻元件和具有该可变电阻元件的非易失性半导体存储装置,该可变电阻元件通过抑制伴随成形处理完成的急剧电流,从而降低特性偏差,稳定地进行切换动作。一种非易失性半导体存储装置,将在第一电极(12a)与第2电极(14)之间夹持电阻变化层(13)而成的可变电阻元件(2)用于信息存储中,可变电阻元件(2)在形成切换界面的第一电极(12a)与电阻变化层(13)之间被插入缓冲层(12b)而成。以如下方式选择缓冲层(12b)和电阻变化层(13)的材料,即:缓冲层(12b)与电阻变化层(13)均包含n型金属氧化物而构成,构成缓冲层(12b)的n型金属氧化物的导带底的能量比构成电阻变化层(13)的n型金属氧化物的导带底的能量低。
  • 非易失性半导体存储装置

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