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[实用新型]一种用于检验显示面板的检验装置-CN201821246135.6有效
发明人：帕德马纳班·拉维;苏丹娜·沙希娜;茂·山本;佳彦·番场 -专利权人： 烽腾科技有限公司;奥宝科技日本股份有限公司
申请日： 2018-08-03 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于检验显示面板的检验装置，其包括：a.一个光学系统，包括一个照相机、一个镜头及一个缺陷复检与对准光学系统，其中该照相机用以获得该显示面板上的至少一个电路的影像；b.一个卡盘，支撑该显示面板；c.一个探针块，包括多个探针接脚，这些探针接脚被定位成同时电性啮合该显示面板上的多个单元接触垫；d.多个刷，用于将该显示面板对准于该卡盘上；以及一个控制器，用于分析该显示面板上的该至少一个电路的该影像并基于所分析的该影像来检测缺陷。
显示面板影像检验装置探针接脚卡盘照相机电路对准光学系统啮合本实用新型单元接触光学系统控制器探针块电性复检检验对准分析镜头检测支撑

[发明专利]电子束诱导等离子体（eBIP）在检验、测试、调试及表面改质中的应用-CN201580050090.8在审
发明人：尼德尔·萨利赫;恩里克·斯特林;丹尼尔·托伊特;阿里·格雷泽;罗恩·勒温格;斯里拉姆·克里什娜斯瓦米 -专利权人：奥宝科技股份有限公司;烽腾科技有限公司
申请日： 2015-09-17 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： H05H1/24 文献下载
摘要：利用电子束诱导等离子体来与所关注装置建立非机械电接触。此种等离子体源可被称为大气等离子体源且可用以提供具有极细直径及可控特性的等离子体柱。所述等离子体柱横穿通入大气中的等离子体源与所关注装置之间的大气空间，且用作通向所关注装置的电路径，以便可从装置收集特性电信号。另外，通过控制流动至所述等离子体柱中的气体，可使用所述探测体来进行表面改质、蚀刻及沉积。
电子束诱导等离子体 ebip 检验测试调试表面中的应用

[发明专利]非机械性接触信号测量装置及其信号测量方法-CN201280035123.8有效
发明人： A·凯帝谢微奇;O·卡达;A·格雷勒;R·骆文格;A·葛罗斯;D·托特 -专利权人：奥宝科技股份有限公司;烽腾科技有限公司
申请日： 2012-07-10 - 公布日： 2017-06-09 - 主分类号： G01R31/305 文献下载
摘要：本发明提供一种非机械性接触信号测量装置，其包括位于待测结构上的第一导体以及接触所述第一导体的气体。至少一电子束被引导至所述气体中，以在所述至少一电子束穿过所述气体之处在所述气体中形成等离子体。第二导体电性接触所述等离子体。当所述等离子体被引导于所述第一导体上时，信号源经由所述第一导体、所述等离子体及所述第二导体耦接至电性测量设备。所述电性测量设备可响应于所述信号源。
使用电子束感应电探针电子设备进行检测

[实用新型]一种用于检验受试装置的探针系统-CN201420356287.7有效
发明人：乔治·柯瑞尔思;麦克·菲利皮;史帝文·亚奇;麦克·尚·卡萨帝;奇瑞·吉添卓;恩甘·杜;肯特·恩古言;尤里·皮科史凯;尼尔·莱特 -专利权人： 烽腾科技有限公司
申请日： 2014-06-30 - 公布日： 2015-02-11 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：一种用于检验受试装置的探针系统，以对受试装置进行电性检验。所述系统包括：存储架；探针杆门架总成；探针总成支架，可附装至探针杆门架总成；探针总成，可附装至探针总成支架，并用以与受试装置进行电性配合；以及机械手系统，用于从存储架拾取探针总成并将探针总成递送至附装至探针杆门架的支架。所述机械手系统也能够从附装至探针杆门架的支架拾取探针总成并将探针总成递送至存储架。机械手系统可还用以将探针总成及支架沿探针杆门架总成的长度进行重新定位，以确保探针总成被正确地对齐以实现与受试装置的配合。探针总成可包括接触销阵列，所述接触销阵列用以在探针总成安装于在探针杆门架总成上所安装的支架上时与受试装置上的多个导电焊盘进行配合。
一种用于检验试装探针系统

[发明专利]用于识别电子电路中的缺陷的装置及方法-CN201410095444.8在审
发明人： V·米那耶夫;R·A·马丁;T·E·威沙德;M·S·卡萨迪;李钟浩;T·H·贝利;S·克里希纳斯瓦米 -专利权人： 烽腾科技有限公司
申请日： 2014-03-14 - 公布日： 2014-09-17 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开用于在防止大规模面板损坏的同时保持用于面板检测（即，像素及线缺陷探测）的可靠和可再现状态的技术。一种实施形式涉及到一种用于识别电子电路中的缺陷的装置，所述装置包含：电路驱动模块，用以对所述电子电路施加电性测试信号；缺陷探测模块，用以至少根据所施加的所述电性测试信号来识别所述电子电路中的所述缺陷；信号监测模块，用以在所述电子电路处测量所述电性测试信号；以及控制模块，可操作地耦合至所述信号监测模块及所述电路驱动模块，并用以根据在所述电子电路处测量的所述电性测试信号来控制至少所述电路驱动模块。
用于识别电子电路中的缺陷装置方法

[实用新型]用于形成隐埋于一或多个滤色片下的物体的图像的光学装置-CN201220358566.8有效
发明人：安德鲁·博登路克 -专利权人： 烽腾科技有限公司
申请日： 2012-07-23 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于形成隐埋于一或多个滤色片下的物体的图像的光学装置。所述装置包括：照明光源，用于产生照明光，所述照明光源包括以不同波长工作的至少三个激光发射器，所述照明光是由所述至少三个光发射器所产生的光信号的组合；电子控制模块，耦合至所述至少三个激光发射器中的每一者，并用以使用脉冲驱动信号来驱动所述至少三个激光发射器中的每一者，所述脉冲驱动信号具有可控的幅值及时间脉冲参数；照明光学路径，用于将照明光自照明光源递送至物体；图像传感器，用于使用自物体收集的光来形成物体的图像；以及成像光学路径，用于将光自物体递送至图像传感器。所述三个激光发射器是以饱和模式工作，以减小照明光的相干性并消除所形成的斑点。
用于形成多个滤色片下物体图像光学装置

[发明专利]用于检测电路的系统及方法-CN201210261992.4有效
发明人：郑森秀;R·马丁 -专利权人： 烽腾科技有限公司
申请日： 2012-07-26 - 公布日： 2013-01-30 - 主分类号： G01R31/308 文献下载
摘要：本发明提供一种用于检测电路的系统，其包括：缺陷探测子系统；以及附加子系统，所述附加子系统可在除检测期间以外的时间内工作，用于对接受检测的电路施加时变电压并用于感测所述电路中各种不同潜在缺陷位置处的电性状态的差异。
用于检测电路系统方法

[发明专利]自动探针结构站及其方法-CN201180005502.8有效
发明人： K·恩古耶;K·甘加基德加;D·鲍德温;N·莱特;S·奥驰;汪言;A·埃尔沙欣;H·特兰;T·H·贝利;K·吉特德拉;A·凯布尔;D·斯迈利;T·E·威沙德 -专利权人： 烽腾科技有限公司
申请日： 2011-01-07 - 公布日： 2012-10-24 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明提供一种用于达成一受试装置(device under test)的检验的探针系统(probe system)。该系统包含：一储存架(storage rack)；一探针杆式门架总成(probe bar gantry assembly)；一探针总成，用以电性配合该受试装置；以及一机械手(robot)系统，用以自该储存架撷取该探针总成以及递送该探针总成至该探针杆式门架。该机械手系统亦用以自该探针杆式门架撷取一探针总成以及递送该探针总成至该储存架。该探针总成包含一夹持总成，该夹持总成用以附装该探针总成至该探针杆式门架或该储存架。该探针总成可包含一接触插脚阵列，该接触插脚阵列用以在该探针总成安装于该探针杆式门架总成上时配合该受试装置上的导电焊垫。
自动探针结构及其方法

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