专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]平板探测器软件的自动化测试方法及系统-CN201711055983.9有效
  • 李培;宁海涛;潘力平 - 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
  • 2017-11-01 - 2021-11-05 - G06F11/36
  • 本发明提供平板探测器软件的自动化测试方法及系统。所述方法包括:获取测试输入;测试输入包括:预先编写的一系列测试用例文件、或一系列测试用例文件的文件列表;其中,一系列测试用例文件的编写分别与平板探测器的各种工作模式一一对应,以在被执行时根据相应的工作模式选择性地触发与平板探测器通信连接的X射线发生器;执行一系列测试用例文件;其中,属于文件列表的一系列测试用例文件会被同时执行;待一系列测试用例文件执行后,将平板探测器软件的返回信息作为测试输出。本发明解决了目前平板探测器软件的自动化测试技术灵活性不足、占用测试资源过多等问题,简化了对测试环境的要求,提高了对平板探测器软件的自动化测试效率。
  • 平板探测器软件自动化测试方法系统
  • [发明专利]消除平板探测器图像残影的方法及平板探测器-CN201610513009.1有效
  • 王锋;张楠;金利波;张晨旭;潘力平 - 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
  • 2016-07-01 - 2019-02-26 - G06T5/00
  • 本发明提供一种平板探测器以及消除平板探测器图像残影的方法,方法包括:1)使用平板探测器进行曝光,采集一帧原始亮场图像及一帧原始暗场图像,并记录所述原始亮场图像的采集时间点t1;2)使用平板探测器继续曝光,采集一帧原始亮场图像及一帧原始暗场图像,并记录所述原始亮场图像的采集时间点t2;3)根据图像残影的自然衰减规律,结合t1与t2之间的时间间隔获取加权系数;4)利用步骤3)中加权系数对步骤1)采集的原始暗场图像进行补偿后通过差分运算对步骤2)中采集的原始亮场图像进行图像残影校正。本发明的方法流程简明、算法精简,具有高度的实用性和系统可集成性。
  • 消除平板探测器图像方法

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