专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于输能窗的超材料结构-CN202110311786.9有效
  • 柏宁丰;申靖轩;吴晨;樊鹤红;沈长圣 - 东南大学
  • 2021-03-24 - 2023-08-08 - H01J23/36
  • 本发明公开了一种加载了超材料的输能窗,第一种为用于盒型窗的工形结构,包括12个工字形金属结构以及包围他们的矩形金属结构和蓝宝石介质板,使加载了该结构的超材料输能窗可以获得比普通输能窗更宽的带宽。第二种为用于厚窗输能窗的V字形结构,包括周期排列的V字形结构和蓝宝石介质板,使加载了该结构的厚窗输能窗可以获得更好的传输性能。第三种结构为用于矩形波导窗中的打孔结构,包括两个打孔蓝宝石介质板以及一个作为窗片的蓝宝石介质板,使矩形窗获得更宽的带宽。
  • 一种用于输能窗材料结构
  • [发明专利]一种二维材料光/电性能测试系统-CN202011558084.2有效
  • 樊鹤红;王少凯;孙小菡;王俊嘉;柏宁丰;刘旭;董纳;沈长圣 - 东南大学
  • 2020-12-25 - 2023-07-18 - G01N21/41
  • 本发明公开了一种二维材料光/电性能测试系统,可对热/电/光应力变化条件下二维材料的复折射率和电阻/电导率等参数进行综合测试。该系统由电参数检测模组、光参数检测模组、旋转载物台、温控模组、电极载玻片和数据处理模块组成。其中,电极载玻片的主体为透明绝缘介质,在透明绝缘介质上表面固定若干薄膜电极,形成若干固定的测试区域,测试区域包括二探针法电阻/电导率测试区域、四探针法电阻/电导率测试区域。电参数检测模组包括多路电流/电压源和电压/电流数据采集器;温控模组用于对电极载玻片进行加热/制冷控制;光参数检测模组包括光源模块、光路模块、光检测模块;电参数检测模组和光参数检测模组均连接数据处理模块。
  • 一种二维材料性能测试系统
  • [发明专利]一种石墨烯覆膜钡钨阴极及其制备方法-CN202010522203.2有效
  • 樊鹤红;杜航;包正强;孙小菡 - 东南大学;南京三乐集团有限公司
  • 2020-06-08 - 2022-12-09 - H01J1/14
  • 本发明公开了一种石墨烯覆膜钡钨阴极及其制备方法,所述石墨烯覆膜钡钨阴极包括石墨烯层和B型钡钨阴极层,B型钡钨阴极层的上表面覆石墨烯层,B型钡钨阴极层置于支撑筒内,支撑筒内的B型钡钨阴极层下设置灯丝。所述制备方法包括以下步骤:(1)制备B型钡钨阴极;(2)在衬底生长石墨烯一侧覆TRT,通过溶液腐蚀去除衬底,保留石墨烯,将覆有石墨烯的TRT清洗,烘干;(3)在温控台上放置石墨烯/TRT膜,B型钡钨阴极倒置其上,控制温度达到TRT热剥离温度,再将阴极取开,石墨烯附着在阴极表面。本发明有利于降低钡钨阴极表面逸出功,估计逸出功可达1.9eV以下,相比B型阴极,可以提升发射能力,或降低工作温度以延长阴极使用寿命。
  • 一种石墨烯覆膜钡钨阴极及其制备方法
  • [发明专利]一种大时延差色散波导结构-CN202111345476.5有效
  • 樊鹤红;孙文睿;孙小菡 - 东南大学
  • 2021-11-15 - 2022-09-16 - H04B10/2513
  • 本发明公开了一种波分‑时延阵列‑反射型大时延差色散波导结构,包括波分复用单元、时延阵列、反射级三个部分。其波分复用单元可基于阵列波导光栅结构实现,用于将多波长复用信号解复用到分波端;色散延迟阵列基于波导总线延迟单元构成延迟网络实现大波长范围内的低抖动、大色散;最后的反射级用于将所有波长进行反射。针对大延迟需求,这里延迟单元利用波导总线的S‑螺旋结构实现紧凑的大延迟单元,并且利用色散单元之间的级联实现高色散斜率色散。相比基于FBG的色散结构,本结构制备工艺更为简单,更容易实现宽谱范围内低时延抖动。综上,本发明提供了一种具有宽谱、高色散/大时延差、工艺简单、抖动小的特点的色散波导芯片结构。
  • 一种大时延差色散波导结构
  • [发明专利]一种相位调制器的测试系统及测量方法-CN202110509287.0有效
  • 刘旭;曹林浩;王百航;孙小菡;王俊嘉;柏宁丰;樊鹤红;沈长圣;董纳 - 东南大学
  • 2021-05-11 - 2022-08-19 - H04B10/073
  • 本发明公开了一种相位调制器的测试系统及测量方法,激光器产生一束激光经MZ干涉仪分为两路光信号;将上路光信号输入待测的相位调制器,待测的相位调制器由两个微波源产生的合路微波信号对光信号进行调制;将下路光信号输入移相器后,上下两路光信号合路后经过光电探测器转换为电信号,并得到对应的电谱图和功率参数,根据功率参数可以计算得到调制相位、调制系数及半波电压。本发明通过双源移相自外差的测量方法,能够完成对光电探测器响应度的消除实现自校准测量,有效提高了测量精度;同时,本发明设计的系统还能通过改变移相器移相值来测出相位调制器的调制相位,进而测得其线性度。
  • 一种相位调制器测试系统测量方法

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