专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]移送工具及包括其的元件处理器-CN202280019749.3在审
  • 柳弘俊;李溶植 - 宰体有限公司
  • 2022-03-07 - 2023-10-24 - H01L21/677
  • 本发明涉及元件处理器,更详细地说,涉及为了元件的检查、分类等而执行元件的拾取及移送的移送工具及包括其的元件手柄。本发明公开一种移送工具,包括:支撑主体部(400),设置于元件处理器,用于将元件(1)从拾取位置移送到放置位置;多个拾取部(100),设置于所述支撑主体部(400)且具有X轴方向间隔(ΔX),用于拾取元件(1);多个Z轴方向移动部(300),对于所述主体部(400),以可向X轴方向移动地设置,向Z轴方向移动所述各个拾取部(100);X轴方向节距调节部(200),设置于所述支撑主体部(400),为了调整多个所述拾取部(100)的X轴方向间隔(ΔX),向X轴方向移动所述多个拾取部(100),所述各个Z轴方向移动部(300)包括:基部(310),基于所述X轴方向节距调节部(200),以可向X轴方向移动地设置到所述支撑主体部(400),所述拾取部(100)以可向Z轴方向移动地结合;线性驱动部(320),结合到所述基部(310),根据控制装置的控制信号,向Z轴方向线性驱动所述拾取部(100)。
  • 移送工具包括元件处理器
  • [发明专利]元件处理器-CN202310316705.3在审
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2019-04-16 - 2023-06-30 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种元件处理器,包括:X‑Y工作台(110),以X‑Y方向移动装载多个元件(10)的测试板(20);一对缓冲袋部(210、220),以在X‑Y工作台(110)的上侧设定的拾取及放置位置(P)为中心配置在两侧,并临时装载元件(10);一对托盘部(310、320),包括一个以上的常规托盘(30),所述一个以上的常规托盘(30)分别与一对缓冲袋部(210、220)相对应地相邻设置,并且装载多个元件(10);分类托盘部(330),在装载于测试板(20)完成检查的元件(10)中分类除了优质以外赋予分类等级的元件(10)来装载于托盘(30)。
  • 元件处理器
  • [发明专利]移送工具-CN201780012748.5有效
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2017-01-06 - 2023-04-07 - H01L21/677
  • 本发明涉及元件处理器,更详细地说涉及移送工具,在执行元件的检查、分类等的元件处理器中拾取以及移送元件。本发明公开了一种移送工具,包括:驱动轮部,包括多个驱动轮,所述多个驱动轮外径相互不同,并且通过产生旋转力的驱动马达旋转驱动;从动轮部,包括多个从动轮,所述多个从动轮外径相互不同,并且与所述驱动轮部相对并对应于所述驱动轮部;多个旋转部件,缠绕于所述各个驱动轮以及所述各个从动轮;至少一个拾取器,在提前设定的位置结合于所述各个旋转部件;其中,所述驱动轮部以及所述从动轮部中的一个通过齿形结构与相应的旋转部件结合。
  • 移送工具
  • [发明专利]元件分类装置-CN201980055053.4在审
  • 柳弘俊;尹荣锡 - 宰体有限公司
  • 2019-06-24 - 2021-04-09 - H01L21/67
  • 本发明涉及元件分类装置,更详细地说,涉及根据分类标准自动分类诸如半导体芯片的元件的元件分类装置。本发明公开了一种元件分类装置,包括:装载部(100),装载托盘(30),所述托盘(30)装载待检查的元件(10);DC测试部(170),从所述装载部(100)接收待检查的元件(10)来执行DC测试;X‑Y工作台(410),以X‑Y方向移动炼板(20),所述炼板(20)为在导出待分类的元件(10)的空位置装载所述DC测试部(170)测试为优质品的待检查的元件(10);卸载部(300),根据预设定的分类标准,在与该分类标准相对应的托盘(30)装载从所述炼板(20)导出的待分类的元件(10);第一缓冲托盘部(610),设置为向所述DC测试部(170)上侧的装载位置及从所述装载位置以水平方向间隔的回避位置可移动托盘(30),以在所述托盘(30)临时装载所述DC测试部(170)的DC测试结果检查为不合格的元件(10)。
  • 元件分类装置
  • [发明专利]元件处理器和视觉检测方法-CN201680009805.X有效
  • 柳弘俊;白京焕;张成廈 - 宰体有限公司
  • 2016-02-04 - 2021-03-09 - G01N21/892
  • 本发明涉及一种元件处理器,具体的涉及一种执行元件的视觉检测的元件处理器及视觉检测方法。所述视觉检测方法,对于在表面形成多个球形形状突出部的元件,对多个突出部执行视觉检测,包括:图像获取步骤,获取第一图像、第二图像以及三维的第三图像;三维形状特性把握步骤,以所述第一图像、第二图像为基准,把握所述突出部的位置及三维形状特性,存储成三维形状特性信息;外廓线补间步骤,以存储于所述三维形状特性把握步骤的所述三维形状特性信息为基准,将由所述三维视觉检测部获取的所述第三图像的三维外廓线进行补间。
  • 元件处理器视觉检测方法
  • [发明专利]元件处理器-CN201980026273.4在审
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2019-04-16 - 2020-11-24 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种元件处理器,包括:X‑Y工作台(110),以X‑Y方向移动装载多个元件(10)的测试板(20);一对缓冲袋部(210、220),以在X‑Y工作台(110)的上侧设定的拾取及放置位置(P)为中心配置在两侧,并临时装载元件(10);一对托盘部(310、320),包括一个以上的常规托盘(30),所述一个以上的常规托盘(30)分别与一对缓冲袋部(210、220)相对应地相邻设置,并且装载多个元件(10);分类托盘部(330),在装载于测试板(20)完成检查的元件(10)中分类除了优质以外赋予分类等级的元件(10)来装载于托盘(30);其中,测试板(20)设置有以m×n的排列配置的多个测试插座(21);测试插座(21)包括:主体部(910),结合于测试板(20)并且通过插座加压件(45)的加压固定安装在元件安装部的元件(10)或者解除固定;盖部件(920),与主体部(910)铰链结合并且通过铰链旋转向外部开放或者关闭所述元件安装部;盖部件开放部(590),从主体部(910)开放盖部件(920),以在测试插座(21)的元件安装部拾取或者放置元件(10);盖部件关闭部(580),在针对测试插座(21)的元件安装部拾取或者放置元件(10)之后,针对主体部(910)关闭所述盖部件(920)。
  • 元件处理器
  • [发明专利]元件处理器-CN201980017715.9在审
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2019-03-06 - 2020-11-03 - G01R31/28
  • 本发明涉及元件处理器,更详细地说,涉及从第一部件拾取元件将元件装载到第二部件或者从第一部件拾取元件以在空出来的位置装载另一元件的元件处理器。本发明公开了一种元件处理器,包括:X‑Y工作台(100),以X‑Y方向移动装载多个元件(10)的测试板(20);一个以上的缓冲部(210、220),与设定在所述X‑Y工作台(110)上侧的拾取和放置位置(P)相邻配置,并且具有临时装载元件(10)的一个以上的缓冲托盘(230);托盘部(310、320),与所述各个缓冲部(210、220)对应相邻设置并且包括装载多个元件(10)的一个以上的用户托盘(30);一个以上的主运送工具(510、520),在所述缓冲部(210、220)及所述拾取和放置位置(P)之间沿着第一移动路线(L1)运送元件(10);一个以上的副运送工具(530、540),在所述托盘部(310、320)及所述缓冲部(210、220)之间在运送区域(L2)内运送元件(10)。
  • 元件处理器
  • [发明专利]元件检查装置-CN201980018704.2在审
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2019-03-11 - 2020-10-30 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种元件检查装置,包括:一个以上的测试部(100),包括多个测试插座(111)和加压工具(120),所述多个测试插座(111)以n×m(n、m为2以上的自然数)的排列配置,所述加压工具(120)设置在所述多个测试插座(111)的上侧,对应于所述各个测试插座(111),在检查时加压于测试插座(111)通过上下移动从测试插座(111)拾取元件(1);一个以上的主往返运送部(200),以装载待检查的元件(1)的状态移动到所述测试插座(111)及所述加压工具(120)之间的空间,从所述加压工具(120)接收完成检查的元件(1),并且由所述加压工具(120)拾取待检查的元件(1);一个以上的辅助往返运送部(300),移动于装载/卸载位置(P1)和元件交换位置(P2)之间,其中所述装载/卸载位置(P1)为从装载有待检查的元件(1)的托盘(20)装载元件(1)并卸载完成检查的元件(1),在所述元件交换位置(P2)与所述主往返运送部(200)交换元件(1);装载部(410),配置装载有待检查的元件(1)的托盘(20);卸载部(420),配置装载有完成检查的元件(1)的托盘(20)。
  • 元件检查装置
  • [发明专利]视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法-CN201980017704.0在审
  • 柳弘俊;白京奂;裵秀珉;张成厦 - 宰体有限公司
  • 2019-03-07 - 2020-10-23 - G01N21/88
  • 本发明涉及视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法,更详细地说,涉及针对半导体元件执行视觉检查的视觉检查模块、其元件检查系统及其元件检查方法。本发明公开了一种视觉检查模块(100),作为执行平面形状为直角四边形的元件(1)的视觉检查的视觉检查模块(100),包括:图像获取部(110),用于获取元件(1)的图像;光路形成部(120),选择性形成第一光路(L1)和一对第二光路(L2),所述第一光路(L1)为使元件(1)的第一平面的第一平面图像到达所述图像获取部(110),所述一对第二光路(L2)为使所述元件(1)的相对的一对侧面的一对侧面图像到达所述图像获取部(110)。
  • 视觉检查模块元件系统及其方法
  • [发明专利]移送工具-CN201780012721.6有效
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2017-01-06 - 2020-10-09 - B65G49/05
  • 本发明涉及元件处理器,更详细地说涉及移送工具,在执行元件的检查、分类等的元件处理器中执行拾取以及移送元件。本发明公开了一种移送工具,包括:驱动轮部(100),包括外径相互不同,并且通过产生旋转力的驱动马达旋转驱动的多个驱动轮(110、120、130、140);从动轮部(300),包括外径相互不同,并且与所述驱动轮部(100)相对并对应于所述驱动轮部(100)的多个从动轮(310、320、330、340);多个旋转部件(210、220、230、240),缠绕于所述各个驱动轮(110、120、130、140)及所述各个从动轮(310、320、330、340),并且两端固定在相应的所述驱动轮(110、120、130、140);一个以上的拾取器(400),在提前设定的位置结合于所述各个旋转部件(210、220、230、240)。
  • 移送工具
  • [发明专利]拾取器-CN201680014563.3有效
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2016-03-11 - 2020-10-09 - B25J15/06
  • 本发明涉及安装在运送元件的取放装置来吸附元件的拾取器。本发明公开了一种拾取器,包括:杆(200),内部形成真空压起作用的吸入通道(210),并且一端结合吸附元件(10)的吸附部(220);上下驱动部(100),用于以上下方向移动所述杆(200);大气压形成部(400),在所述吸入通道(210)解除真空压时,在所述吸附部(220)形成大气压。
  • 拾取
  • [发明专利]元件处理器-CN201680024865.9有效
  • 柳弘俊 - 宰体有限公司
  • 2016-05-11 - 2020-09-08 - B07C5/02
  • 本发明涉及元件处理器,更详细地说,涉及将诸如半导体芯片的元件搭载于炼板或从炼板搬出的元件处理器。本发明公开了如下的元件处理器,包括:装载部,装载搭载有第一元件的托盘;X‑Y作业台,使炼板向X‑Y方向移动,其中所述炼板在第二元件被搬出的空位置搭载第一元件;缓冲部,临时搭载从所述X‑Y作业台搬出的第二元件;卸载部,在已搭载于缓冲部的第二元件中将合格的第二元件搭载于托盘。
  • 元件处理器
  • [发明专利]元件处理器-CN201410412323.1有效
  • 柳弘俊;尹珍 - 宰体有限公司
  • 2014-08-20 - 2020-06-12 - H01L21/67
  • 本发明涉及元件处理器,更详细而言,涉及一种把元件盛装于载带的元件处理器。本发明公开一种元件处理器,包括:带供应部,其供应形成有供元件安放的多个袋子的载带;带卷取部,其卷取安放了元件的载带;震动部,其安装于所述带供应部与所述带卷取部之间的所述载带的移动路径上,在所述元件装载于所述袋子后,使所述载带震动。
  • 元件处理器
  • [发明专利]视觉检测装置及其视觉检测方法-CN201610550217.9有效
  • 柳弘俊;李尚勋;崔正贤 - 宰体有限公司
  • 2010-05-12 - 2020-06-12 - G01N21/88
  • 公开了一种视觉检测装置,特别是一种能够通过捕获半导体器件的外部图像,通过分析捕获的外部图像来检测半导体器件的状态的、用于半导体器件的视觉检测装置,该视觉检测装置包括二维视觉检测单元和三维视觉检测单元,包括用于将光照射到一个或更多待检测的半导体器件的上、下表面的一个表面的检测表面上的二维光源,以及用于捕获该半导体器件的图像,以便通过为来自二维光源的光已照射到其上的检测表面拍照来获取二维形状的二维相机;该三维视觉检测单元包括用于将光照射到通过该二维视觉检测单元检测的该检测表面上的三维光源,以及用于捕获半导体器件的图像,以便通过为来自三维光源的光已照射到其上的检测表面拍照来获取三维形状的三维相机。
  • 视觉检测装置及其方法

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