专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种光束质量因子M2-CN202011404810.5在审
  • 宋祥;唐仕旺;胡舒武;武春风;李强;姜永亮;刘厚康;袁红 - 武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司
  • 2020-12-04 - 2021-07-09 - G01M11/02
  • 本发明属于光束质量因子M2测量技术领域,并具体公开了一种光束质量因子M2快速测量装置及方法。所述装置包括待取样装置、变焦装置、光斑测量装置和数据处理装置,根据所述变焦装置的焦距以及所述变焦装置在不同焦距下所述光斑测量装置实时采集和测量的光斑大小计算待测激光源的光束质量因子M2。所述方法包括:待测激光源发射激光,将激光进行衰减;对衰减后的激光进行聚焦,在连续变焦过程中实时采集和测量焦点处激光光斑大小,计算待测激光源的光束质量因子M2。本发明克服了传统M2测量设备需要驱动反射镜组进行大行程位移导致测量速度慢的缺点,具有原理清晰、调节速度快、操作简便等优点,能够大幅度提高光束质量因子M2的测量速度。
  • 一种光束质量因子basesup
  • [发明专利]一种激光器线宽测量方法及系统-CN201510342293.6在审
  • 武春风;李强;姜永亮;戴玉芬;吕亮;刘厚康;宋祥;唐仕旺;赵朋飞 - 湖北航天技术研究院总体设计所
  • 2015-06-19 - 2015-09-09 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种激光器线宽测量方法及系统,方法包括步骤:S1、将待测激光光束进行聚焦,测量焦平面上的光斑大小值为ω0,获得待测激光光束的初始发散角f为焦距;S2、将所述待测激光束进行光栅衍射得到-1级衍射光,将所述-1级衍射光聚焦后,测量焦平面上的光斑大小值为ω',获得光栅衍射后待测激光光束的发散角θ',S3、计算所述待测激光光束的线宽Δλ=Δθ·d·cosθ,其中,d为光栅常数,θ为光栅衍射角,所述光栅衍射后待测激光光束的发散角的增大量Δθ=θ'-θ0。本发明还提供了实现上述方法的系统,系统包括沿激光器出射光路依次放置的衍射光栅、聚焦装置、和光斑测量装置。相比于现有技术,本发明系统结构简单,方法易于实现,尤其适用于窄线宽激光器线宽的测量。
  • 一种激光器测量方法系统

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