专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]纸张类探测装置、纸张类探测方法及纸张类处理装置-CN202080020710.4有效
  • 五十岚治;高桥仁;稻毛彻 - 劳雷尔银行机械株式会社;劳雷尔机械株式会社;劳雷尔精机株式会社
  • 2020-03-11 - 2023-06-27 - G07D7/00
  • 纸张类探测装置具有:光学传感器,具有照射光的发光部以及接受被照射的所述光的受光部;存储部,存储用于判断在被照射的所述光的路径上是否存在纸张类的第1阈值、作为在不存在所述纸张类的状态下所述受光部所接受的光的水平的目标值而被设定的目标受光水平、以及被设定为比所述第1阈值大而且比所述目标受光水平小的值的第2阈值;估计部,判定所述受光部所接受的光的水平是否为所述第1阈值以上而且小于所述第2阈值,另外,估计是否存在所述纸张类;以及光量调整部,在由所述估计部判定为所述受光部所接受的光的水平为所述第1阈值以上而且小于所述第2阈值之后,由所述估计部估计为不存在所述纸张类的情况下,对所述发光部所照射的光的量进行调整,以使在不存在所述纸张类的状态下所述受光部所接受的光的水平成为所述目标受光水平。
  • 纸张探测装置方法处理
  • [发明专利]硬币识别装置、硬币处理装置以及硬币识别方法-CN201880021215.8有效
  • 大场阳介;高桥昌孝 - 劳雷尔精机株式会社
  • 2018-03-26 - 2022-05-10 - G07D5/02
  • 硬币识别装置具有:线传感器,检测传送中的识别对象的硬币的线图像数据;取得部,以规定的采样间隔取得所述线图像数据;估计部,对所取得的每个所述线图像数据,计算所取得的所述线图像数据和作为表示基准模式的硬币的基准模式图像数据的一部分的每个角度的基准线数据之间的相似度,基于计算出的所述相似度,估计所述识别对象的硬币的轮转角度;校正部,基于估计出的所述轮转角度,校正所述线图像数据;以及识别部,基于校正后的所述线图像数据,识别所述识别对象的硬币。
  • 硬币识别装置处理以及方法
  • [发明专利]纸页类处理装置-CN201980009195.7在审
  • 吉田慎平;品川干宪;下野元喜;杉山裕治 - 劳雷尔精机株式会社
  • 2019-01-21 - 2020-09-04 - G07D11/18
  • 纸页类处理装置具有:投入部,其供纸页类从外部投入;识别部,其使从投入部送出的纸页类向第一方向通过,同时对该纸页类进行识别,并且使纸页类向与所述第一方向相反的第二方向通过,同时对该纸页类进行识别;暂时存储部,其暂时存储被识别部识别为可接收的纸页类;排出部,其将被识别部识别为不可接收的纸页类以能够向外部取出的方式进行收容;收纳部,其收纳从暂时存储部送出并在向第二方向通过识别部时被识别部识别过的纸页类;纸页类处理装置能够将从暂时存储部送出并在向所述第二方向通过识别部时被所述识别部识别过的纸页类输送到投入部。
  • 纸页类处理装置
  • [发明专利]使用THz频段的检查装置-CN201580055107.9有效
  • 小山裕;五井广一 - 劳雷尔精机株式会社
  • 2015-10-09 - 2020-07-10 - G01N21/892
  • 本发明的检查装置(1)具备:THz波照射部(3),其对被检查物(2)照射THz波;THz波探测部(5),其检测被照射到被检查物(2)上的THz波的透射波(4)或反射波(22);以及信息处理部(10),其基于被照射THz波的被检查物(2)的透射波(4)或反射波(22)的强度数据,得到被检查物(2)的透射波(4)或反射波(22)的强度分布,信息处理部(10)获取透射波(4)或反射波(22)的二维强度分布,通过对检测没有附着异物(7)的被检查物(2)时得到的强度分布与在检查时检测被检查物(2)时得到的检查时强度分布进行比较,来检测在检查时的被检查物(2)上是否附着有异物(7)。被检查物例如是纸张类。对于附着在被检查物上的异物(7),信息处理部(10)也可以根据基于异物(7)的折射率与没有附着异物(7)的被检查物(2)的折射率之差的透镜效应而产生的强度变化来检测。
  • 使用thz频段检查装置

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