专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种嵌入式存储器内建自测试结构-CN200720170572.X无效
  • 孙华义;周显文;常军锋;刘欣祺;孙耕;郑涛;石岭 - 深圳艾科创新微电子有限公司
  • 2007-11-05 - 2008-09-17 - G11C29/12
  • 本实用新型公告了一种嵌入式存储器的内建自测试结构,包括MBIST控制器(1)、至少2个存储器以及与各存储器对应的比较器,其特征在于,所述该内建自测试结构还包括合成模块(5);其中所述每个存储器配置有一个比较器,组成一个相对独立的测试单元,所述各测试单元与MBIST控制器(1)并行,且由MBIST控制器(1)向各测试单元输出控制信号,所述各测试单元将各自比较结果输入到合成模块(5)中,由合成模块(5)对所述比较结果整合后得到一个总的比较结果,并将所述的总的比较结果输入到MBIST控制器(1)。本实用新型所述嵌入式存储器测试结构大大减少了测试的复杂度,减少BIST电路所占芯片面积。
  • 一种嵌入式存储器测试结构

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