专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种超高清图像混合处理方法和装置-CN202111448298.9在审
  • 袁慧晶;任雅青 - 北京新奥特图腾科技有限公司
  • 2021-11-30 - 2022-03-29 - G06T1/20
  • 本发明实施例提供了一种超高清图像混合处理方法和装置,所述方法:确定终端设备支持的指令集;所述指令集包括AVX512指令集、AVX2指令集、SSE2指令集中的至少一种;所述AVX512指令集、AVX2指令集、SSE2指令集具有优先级顺序;根据所述终端设备支持的指令集的优先级顺序,确定目标指令集;调用所述目标指令集,获取源图像和目标图像,选取所述源图像和所述目标图像的像素点进行混合处理。本发明实施例可以优先调用处理能力高的指令集,对混合超高清图像的像素点进行并行操作,提高了处理效率,实现充分利用机器的最优性能。
  • 一种超高图像混合处理方法装置
  • [发明专利]一种多晶硅铸锭炉热场结构-CN201910400635.3在审
  • 周继承;任雅青;冯天舒 - 中南大学
  • 2019-05-15 - 2020-12-04 - C30B28/06
  • 本发明涉及一种多晶硅铸锭炉热场结构,具有上炉体、下炉体,上炉体内设置有侧隔热笼和上保温板,下炉体内设置有底保温板、热交换块,装有硅原料的石英坩埚放置在石墨坩埚内,石墨坩埚置于热交换块上,石墨坩埚上方和侧方均设置有加热器,且加热器受同一电源控制。侧隔热笼靠近加热器侧装置耐高温发射率低的合金板,石墨坩埚外侧表面涂覆耐高温发射率高的涂层。加热时,侧隔热笼、底保温板、上保温板形成封闭空腔;硅晶体生长时,侧隔热笼缓慢上升,与底保温板分离。本发明在在多晶硅料熔化过程中能够缩短熔化时间,降低能耗,在多晶硅生长时能够避免坩埚侧形核长晶,减少晶体缺陷,提高电池的转换效率。
  • 一种多晶铸锭炉热场结构
  • [发明专利]光纤点衍射移相干涉仪的平面面形测量方法-CN201010194545.2无效
  • 陈凌峰;李杰;周桃庚;张旭升;何川;任雅青 - 北京理工大学
  • 2010-06-08 - 2010-10-20 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种光纤点衍射移相干涉仪的平面面形测量方法,属于光学测量技术领域。首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射,经辅助正透镜汇聚到参考光纤的倾斜端面并再次反射,与参考光纤衍射的球面波汇合而发生干涉,干涉图用标准方法分析和处理;该步测量得到被测平面镜和辅助正透镜引入的像差。然后,移除被测平面镜,移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置,从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉;该步测量得到辅助正透镜引入的像差;将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差,按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明方法有效的提高了光纤点衍射移相干涉仪上的平面面形测量精度。
  • 光纤衍射相干平面测量方法
  • [发明专利]大相对孔径球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法-CN201010151219.3无效
  • 陈凌峰;李杰;周桃庚;张旭升;何川;任雅青 - 北京理工大学
  • 2010-04-16 - 2010-08-11 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种大相对孔径球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法,属于光学测量领域。首先,测量光纤的衍射波前透过分束棱镜,经显微物镜变换为能覆盖被测大相对孔径球面镜的测量波前,并在被测球面镜表面反射;携带被测球面镜面形信息的反射波前透过显微物镜,经分束棱镜反射后汇聚到参考光纤端面形成测量波前,并与参考光纤自身衍射的参考波前汇合而发生干涉;然后移走被测球面镜,其他光学元件保持不动,在显微物镜焦点处放置平面反射镜,用同样方法测量显微物镜、分束棱镜及参考光纤端面粗糙度所带入的像差。本发明分两步实现,且都利用了接近理想的点衍射球面波作为参考波前,能够实现大相对孔径球面面形的高精度测量。
  • 相对孔径球面光纤衍射相干测量方法
  • [发明专利]一种光学平面面形的绝对干涉测量方法-CN201010001177.5无效
  • 陈凌峰;任雅青;李杰;周桃庚 - 北京理工大学
  • 2010-01-15 - 2010-06-30 - G01B11/24
  • 本发明涉及一种光学平面面形的绝对干涉测量方法,属于光学测量技术领域。该方法首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射,折向并透过平板分束镜,与参考光纤衍射并被平板分束镜反射的球面波前汇合而发生干涉;干涉图用标准方法分析和处理;该步测量得到被测平面镜和平板分束镜引入的像差。然后,移除被测平面镜,移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置,从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉;该步测量得到平板分束镜引入的像差;将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差,按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明实现了光学平面的全面形逐点、高精度干涉测量,是一种平面绝对干涉测量方法。
  • 一种光学平面绝对干涉测量方法
  • [发明专利]一种光学平面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法-CN200910237426.8无效
  • 陈凌峰;任雅青;吴朔;李杰;沙定国 - 北京理工大学
  • 2009-11-06 - 2010-05-19 - G01B11/24
  • 本发明的一种光学平面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法,属于光学测量技术领域。从测量光纤衍射的球面波透过分束镜,在被测平面镜表面反射后折回;该球面波前被分束镜反射,与参考光纤衍射并透过分束镜的球面波前汇合而发生干涉;干涉图用标准方法进行分析和处理;该步测量得到被测平面镜面形和分束镜引入的像差;移除被测平面镜,移动测量光纤到参考光纤端面关于分束镜的共轭位置,从参考光纤衍射的球面波前与从测量光纤衍射的球面波前汇合而再次发生干涉;该步测量得到分束镜引入的像差;第一步的测量结果与第二步相减得到被测平面镜的面形。本发明的平面面形测量结果精度高,为平面面形的绝对测量方法,扩展了点衍射干涉测量方法的应用范围。
  • 一种光学平面光纤衍射相干测量方法
  • [发明专利]一种光学球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法-CN200910235650.3无效
  • 陈凌峰;任雅青;吴朔;沙定国 - 北京理工大学
  • 2009-10-10 - 2010-03-17 - G01B11/24
  • 本发明的一种光学球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法,属于光学测量技术领域。首先测量光纤衍射的球面波通过分光棱镜反射到辅助正透镜,被变换为汇聚球面波并在被测球面的表面反射,携带被测球面信息的反射波前通过辅助正透镜、透过分光棱镜汇聚到参考光纤端面,形成测量波前;移走被测球面,其他光学元件保持不动,在辅助正透镜焦点处放置平面反射镜,用同样方法可测量辅助正透镜、分光棱镜及参考光纤端面粗糙度所带入的像差。本发明的凸球面和凹球面测量都分为两步来实现,两步测量都利用了接近理想的点衍射球面波作为参考波前,能够保证两次干涉测量的高精度,也就能够保证最终球面面形测量结果的精度。
  • 一种光学球面光纤衍射相干测量方法

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