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[外观设计]平板探测器外部接头（弯头）-CN201930314468.1有效
发明人：宋燕美;余院生 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-06-18 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：平板探测器外部接头（弯头）。;2.本外观设计产品的用途：平板探测器外部接头。;3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。;4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。;5.后视图与主视图对称，省略后视图。
平板探测器外部接头（弯头）

[发明专利]图像加解密系统及图像加解密方法-CN201610389245.7有效
发明人：宁海涛 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-06-02 - 公布日： 2019-09-13 - 主分类号： H04L9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种图像加解密系统及图像加解密方法，图像加密系统包括：细胞自动机；第一加密模块，与细胞自动机相连接；置乱映射表生成模块，与细胞自动机相连接；第二加密模块，与第一加密模块及置乱映射表生成模块相连接。在伪随机混沌序列与图像数据的明文进行可逆信息混合，以对图像数据的数值进行加密之后，再将第一次加密的数据分为多个数据块，并依据置乱映射表对数据块进行重组，以将第一次加密的数据的位置置乱，使得信息混序的强度更大，密文数字序列更加无规律性；确保了攻击者无法利用公开的算法细节来计算用于第一次加密的伪随机序列，弥补了现有算法技术的漏洞，达到了对习惯使用同一密钥加密多组数据的用户的长久信息保护。
图像解密系统方法

[发明专利]一种X射线图像传感器及其校正图像干扰的方法-CN201610710067.3有效
发明人：于祥国;金利波;林言成 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-08-23 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线图像传感器及其校正图像干扰的方法，包括：每个像素连接两个TFT开关，像素行之间设计两条扫描线，像素列之间设计两条读出线，亮场图像与暗场图像的扫描与读出可分开独立进行；上侧读出电路负责亮场图像读取，下侧读出电路负责暗场图像读取，亮场图像读出与暗场图像读出相差一行或者n行时间。使用一行像素单元中的暗场图像的图像灰阶校正同一时间采集到的一行像素单元中的亮场图像的图像灰阶，不需增加单独的暗场图像采集时间，可校正基于时间、空间的干扰，有效提高图像质量。
一种射线图像传感器及其校正图像干扰方法

[发明专利]适用于脉冲透视下的X射线同步方法-CN201511027680.7有效
发明人：林言成;黄凯 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2015-12-31 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种内触发电路及适用于脉冲透视下的X射线同步方法，包括：光信号采集模块；电流转电压模块；采样模块；以及内触发信号产生模块。获取内触发信号；设定采集触发信号，使X射线的曝光窗口落在采集触发窗口内；未检测到采集触发信号时，以设定频率自采集；在采集的过程中检测到采集触发起始信号则停止当前采集,检测到采集触发结束信号则延时采集。本发明解决了动态平板与高压发生器连接时需要硬件物理连接的问题，减少了安装，适用于不同类型的高压发生器；同时，改善了单次触发，依靠X射线的触发计算帧率，设置前延迟和后延迟，保证曝光窗口落在采集触发窗口内，避免了超前和拖尾，适用于动态平板升级市场。
触发电路适用于脉冲透视射线同步方法

[发明专利]平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法-CN201711386079.6有效
发明人：黄细平;王锋;张楠;金利波 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2017-12-20 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： H01L31/08 文献下载
摘要：本发明提供一种平板探测器图像残影的补偿校正方法，包括步骤：生成残影数据表，并存储于平板探测器或探测器软件中；获取当前亮场图像和暗场图像；将暗场图像中每个像素的残影信号与残影数据表相对应，找出每个像素的残影信号在残影数据表中对应的残影值和残影值对应的时刻；以残影值对应的时刻加上当前亮场图像与暗场图像采集的时间间隔为新的时刻，在残影数据表中找出新的时刻对应的残影值，生成当前图像评估的残影模板矩阵；用当前亮场图像减去残影模板矩阵进行残影补偿校正。本发明的平板探测器图像残影的补偿校正方法可用于解决复杂的残影问题；适用范围广，不仅适用于非晶硅探测器，还适用于非晶硒、CMOS等其它半导体探测器。
残影平板探测器补偿校正暗场图像亮场矩阵图像残影图像像素半导体探测器非晶硅探测器图像评估探测器非晶减去可用存储采集

[发明专利]基于窄边框透明封装的平板探测器及其制备方法-CN201810084226.2在审
发明人：钟良兆;程丙勋 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2019-08-06 - 主分类号： H01L31/08 文献下载
摘要：本发明提供一种基于窄边框透明封装的平板探测器及其制备方法，基于窄边框透明封装的平板探测器包括：基板；闪烁体结构层，包括闪烁体薄膜及透光防水薄膜；闪烁体薄膜位于所述基板表面，透光防水薄膜贴附于闪烁体薄膜表面；光接收器，位于闪烁体结构层上。闪烁体薄膜与光接收器之间的间距较小，可以减小光损失；闪烁薄膜边缘至基板边缘的距离可以减小至微米级别，实现窄边框封装，进而增大闪烁体薄膜的有效面积；透光防水薄膜与闪烁体薄膜可以实现紧密贴合，避免透光防水薄膜与闪烁体薄膜之间残留气体，可以有效防止透光防水薄膜鼓泡及老化；通过在透光防水薄膜表面设置透光疏水层，可以进一步增强防水效果。
闪烁体薄膜透光防水薄膜窄边框平板探测器透明封装光接收器结构层闪烁体减小制备薄膜边缘表面设置残留气体防水效果基板边缘基板表面紧密贴合微米级别有效面积光损失疏水层鼓泡基板贴附封装老化闪烁

[发明专利]一种X射线图像传感器及校正图像干扰的方法-CN201610710395.3有效
发明人：于祥国;黄翌敏 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-08-23 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线图像传感器及校正图像干扰的方法，包括：将像素阵列分割为两个部分，各部分的采集和读出相对独立，各像素阵列中暗场图像的采集滞后于同一行亮场图像的采集一行采集时间，下一行亮场图像的采集滞后于上一行暗场图像的采集一行采集时间；所述第二像素阵列中的亮场图像的采集滞后于所述第一像素阵列中对应行的亮场图像的采集一行采集时间，所述第二像素阵列中的暗场图像的采集滞后于所述第一像素阵列中对应行的暗场图像的采集一行采集时间，使用暗场图像的图像灰阶校正同一时间采集的亮场图像的图像灰阶，可在不增加单独的暗场图像采集时间的情况下，校正基于时间、空间的其他干扰，有效提高图像质量。
一种射线图像传感器校正图像干扰方法

[发明专利]一种X射线图像传感器及校正图像干扰的方法-CN201610710009.0有效
发明人：于祥国;金利波;林言成 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-08-23 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线图像传感器及校正图像干扰的方法，包括：每个像素连接两个TFT开关，像素行之间设计单条扫描线，像素列之间设计两条读出线，以实现一行像素分别被上下两侧扫描线独立控制；上侧读出电路负责亮场图像读取，下侧读出电路负责暗场图像读取。鉴于上下两侧读出操作是同步进行，只是空间物理位置相差一行，所以使用下一行像素单元中的暗场图像的图像灰阶校正当前行像素单元中的亮场图像的图像灰阶，可在不增加单独的暗场图像采集时间的情况下，校正基于时间、空间的其他干扰，有效提高图像质量。
一种射线图像传感器校正图像干扰方法

[发明专利]一种X射线图像传感器及消除图像残影的方法-CN201610710066.9有效
发明人：于祥国;王杰杰 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-08-23 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： H04N5/32 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线图像传感器及消除图像残影的方法，包括：每个像素连接两个TFT开关，像素行之间设计单条扫描线，像素列之间设计两条读出线，以实现一行像素分别被上下两侧扫描线独立控制；上侧读出电路负责亮场图像读取，下侧释放电路负责暗场残留信息的清除。鉴于上下两侧读出与释放操作是同步进行，只是空间物理位置相差一行，所以在采集完一帧亮场图像后，其暗场残留的影像信息也相应的被清除了一次。本发明在采集当前亮场图像的同时清除当前帧图像的lag信息；不增加单独的清空操作和额外的清空时间；可以在静态采集条件或动态采集条件下使用，有效提高图像采集频率及图像质量。
一种射线图像传感器消除图像方法

[发明专利]图像传感器及其制作方法-CN201910184715.X在审
发明人：岳欢;金利波;朱翀煜;樊华 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-03-12 - 公布日： 2019-06-25 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供一种图像传感器及其制作方法，其中，图像传感器包括TFT元件，TFT元件包括栅极、栅极绝缘层、IGZO有源层、源极及漏极；光电二极管底电极，光电二极管底电极与源极电连接，包括相对设置的与栅极绝缘层相接触的第一表面及与光电二极管相接触的第二表面。本发明在形成金属层之后，直接在金属层上形成光电二极管及位于光电二极管上方的公共电极，通过金属层以对IGZO有源层进行保护，提高IGZO有源层的性能，而后再图形化金属层，使得光电二极管底电极的制作与源极、漏极同步形成。本发明可减少工艺步骤，减少掩膜板的数量，使得产品结构简单，从而可降低生产成本，提高产品良率。
光电二极管图像传感器底电极金属层源极栅极绝缘层漏极制作图形化金属层产品良率第二表面第一表面工艺步骤公共电极相对设置电连接掩膜板产品结构

[发明专利]一种抑制饱和带伪影方法及系统-CN201610293367.6有效
发明人：黄细平;金利波 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-05-05 - 公布日： 2019-06-25 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种抑制饱和带伪影方法及系统，在曝光结束后，检测平板探测器的薄膜晶体管的栅源电压Vgs，当检测到平板探测器的栅源电压Vgs小于预设的薄膜晶体管的阈值电压V_T时，不改变扫描方向，按照默认扫描方向进入读出阶段；当检测到薄膜晶体管的栅源电压Vgs大于等于薄膜晶体管的阈值电压V_T时，自动切换扫描方向，切换后的扫描方向为从过饱和区域到非饱和区域，进入读出阶段。本发明解决了现有技术中临床拍摄图像中出现饱和带伪影的问题。
一种抑制饱和带方法系统

[发明专利]基于光敏电阻的自动曝光检测装置及方法、平板探测器-CN201710194883.8有效
发明人：高鹏飞;林言成;黄翌敏;袁冉;马放 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2017-03-28 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G01T1/26 文献下载
摘要：本发明提供一种基于光敏电阻的自动曝光检测装置及方法、平板探测器，其中，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置应用于平板探测器中，所述平板探测器至少包括TFT层，其特征在于，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置至少包括：光敏电阻，其设于所述TFT层的下表面；曝光检测电路，连接于所述光敏电阻，用于实时监测所述光敏电阻的阻值，并根据所述光敏电阻的阻值变化情况输出相应的曝光控制信号，从而实现X射线自动曝光检测功能。本发明通过在平板探测器的TFT层下方设置一层光敏电阻薄膜，并通过实时监测光敏电阻薄膜的阻值大小来实现X射线自动曝光检测功能，实现了整个TFT层出光的全方位检测。
基于光敏电阻自动曝光检测装置方法平板探测器

[发明专利]一种X射线平板探测器及其制备方法-CN201910013011.6在审
发明人：韦小庆;金利波 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-01-07 - 公布日： 2019-06-18 - 主分类号： H01L27/144 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线平板探测器及其制备方法，所述制备方法包括：首先制备获得薄膜晶体管，在薄膜晶体管表面形成第一导电类型传输层；然后在第一导电类型传输层表面形成有机无机杂化钙钛矿层；接着在有机无机杂化钙钛矿层表面形成第二导电类型传输层；再在第二导电类型传输层表面形成透明顶电极层；最后在透明顶电极层表面形成钝化层、闪烁体层。本发明采用基于有机无机杂化钙钛矿材料的光电二极管作为探测器光敏元件，由于钙钛矿膜的缺陷态密度低，可以减小被缺陷捕获的光电子数，进而可以减小探测器的残影，提高成像性能；另外，本发明采用溶液法制备有机无机杂化钙钛矿光电二极管，工艺简单，成本低，尤其适合于制备柔性X射线平板探测器。
有机无机杂化制备表面形成传输层第一导电类型薄膜晶体管光电二极管导电类型顶电极层钙钛矿层钙钛矿探测器减小表面形成钝化层钙钛矿材料缺陷态密度溶液法制备成像性能光敏元件缺陷捕获闪烁体层透明光电子残影

[发明专利]平板探测器辅助结构-CN201910112671.X在审
发明人：朱翀煜;金利波;方志强 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-02-13 - 公布日： 2019-06-18 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种平板探测器辅助结构，平板探测器辅助结构包括：与平板探测器相连接的轨道，平板探测器在轨道上进行移动；至少包括2个固定件，固定件位于轨道上，且平板探测器通过固定件进行固定；位于平板探测器与待测物之间的定位件；平板探测器被固定件固定后，通过平板探测器获取待测物的局部图像，局部图像中包括定位件的定位图像，通过定位图像对获取的待测物的局部图像进行拼接。本发明可提高平板探测器的位置精度，适用范围广，可对具有较大面积的静止物或大型动物进行图像采集，且可实现对局部图像的快速及精确拼接，获得较大的全局图像。
平板探测器局部图像辅助结构待测物固定件定位图像定位件拼接轨道被固定件大型动物全局图像图像采集静止物移动

[发明专利]柔性X射线探测器-CN201910127109.4在审
发明人：欧阳纯方 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-02-20 - 公布日： 2019-06-14 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供一种柔性X射线探测器，柔性X射线探测器包括：柔性结构件；柔性成像传感器，柔性成像传感器固定于柔性结构件内，通过柔性成像传感器将X射线转换成电信号；电路板，电路板固定于柔性结构件内，通过柔性电路板与柔性成像传感器电连接；电路板包括若干子电路板，且相邻的子电路板之间通过柔性电路板电连接。本发明提供了一种可灵活弯曲变形的X射线探测器，使得X射线探测器即可作为平板探测器，又可作为曲面探测器，扩大了X射线探测器的应用范围，使X射线探测器可更好的贴合待测物体，从而获得高质量的图像，且可减少X射线探测器的体积、重量、具有抗摔、耐用的特性。
成像传感器柔性结构电路板柔性电路板子电路板电连接电路板固定平板探测器曲面探测器待测物体弯曲变形抗摔贴合图像灵活应用