专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]剖面加工观察方法、剖面加工观察装置-CN201710182754.7有效
  • 满欣;上本敦 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2017-03-24 - 2023-06-23 - H01L21/66
  • 本发明涉及剖面加工观察方法、剖面加工观察装置。在短时间内高精度地进行包含特定观察对象物的特定部位的加工,并且,迅速地生成特定观察对象物的高分辨率的三维立体像。具有:位置信息取得工序,使用光学显微镜或电子显微镜对观察对象的样品整体进行观察,取得所述样品所包含的特定观察对象物的在所述样品内的大概的三维位置坐标信息;剖面加工工序,基于所述三维位置坐标信息,朝向所述样品之中所述特定观察对象物所存在的特定部位照射聚焦离子束,使该特定部位的剖面露出;剖面像取得工序,向所述剖面照射电子束,取得包含所述特定观察对象物的规定的大小的区域的图像;以及立体像生成工序,以规定间隔沿着规定方向多次重复进行所述剖面加工工序和所述剖面像取得工序,根据所取得的多个所述剖面图像来构筑包含所述特定观察对象物的三维立体像。
  • 剖面加工观察方法装置
  • [发明专利]带电粒子束装置-CN202110284278.6在审
  • 清原正宽;上本敦 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2021-03-17 - 2021-10-12 - H01J37/20
  • 提供带电粒子束装置。通过适当地校正由于试样的旋转而引起的位置偏移而能够抑制带电粒子束的照射位置的变动的。带电粒子束装置(10)具有会聚离子束镜筒(17)、试样保持器(12)、支承试样保持器(12)的载台(31)、固定部旋转机构、载台驱动机构(33)和控制装置(25)。试样保持器(12)具有固定试样(P)的固定部。固定部旋转机构使固定部绕第1旋转轴和第2旋转轴的各轴旋转。载台驱动机构(33)使载台(31)三维地平移且绕第3旋转轴旋转。控制装置(25)取得校正值,该校正值对针对绕第1旋转轴、第2旋转轴和第3旋转轴中的至少任意一个轴的旋转的旋转中心的位置变动进行校正。控制装置(25)根据校正值使载台(31)平移。
  • 带电粒子束装置
  • [发明专利]带电粒子束装置-CN202011007799.9在审
  • 村木礼奈;上本敦;麻畑达也 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2020-09-23 - 2021-03-26 - H01J37/20
  • 本发明提供带电粒子束装置,能够使自动MS稳定化。带电粒子束装置是从试样中自动地制作试样片的带电粒子束装置,具备:带电粒子束照射光学系统,其照射带电粒子束;试样载台,其载置试样而移动;试样片移设单元,其保持从试样中分离并摘出的试样片而进行输送;支架固定台,其保持用于移设试样片的试样片支架;以及计算机,其基于根据针对与对象物相关的位置的第1判定的结果而进行的针对位置的第2判定的结果、以及包括通过带电粒子束的照射而取得的图像在内的信息,进行位置的控制。
  • 带电粒子束装置
  • [发明专利]带电粒子束装置-CN202011014963.9在审
  • 村木礼奈;上本敦;麻畑达也 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2020-09-24 - 2021-03-26 - H01J37/20
  • 本发明提供一种带电粒子束装置,能够使自动微采样高速化。带电粒子束装置是从试样自动地制作试样片的带电粒子束装置,具备:带电粒子束照射光学系统,其照射带电粒子束;试样台,其载置着所述试样移动;试样片移设单元,其保持并运送从所述试样分离及摘出的所述试样片;保持器固定台,其保持供移设所述试样片的试样片保持器;以及计算机,其根据学习第1信息而得到的机器学习的模型和第2信息来进行与第2对象物相关的位置的控制,其中,所述第1信息包含第1对象物的第1图像,所述第2信息包含通过所述带电粒子束的照射而取得的第2图像。
  • 带电粒子束装置
  • [发明专利]会聚离子束装置-CN202011022906.5在审
  • 望月稔宏;石井晴幸;上本敦 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2020-09-25 - 2021-03-26 - H01J37/08
  • 提供会聚离子束装置。在实际照射会聚离子束之前,至少能够掌握射束以怎样的朝向照射固定试样的试样台。会聚离子束装置具有:会聚离子束镜筒(20),其用于对试样(200)照射会聚离子束(20A);试样台(51),其载置试样;以及试样载台,其载置试样台,至少能够沿水平方向和高度方向移动,其中,会聚离子束装置(100)还具有:存储部(6M),其预先存储试样台和会聚离子束的照射轴线的三维数据,三维数据与试样载台的载台坐标相关联;显示部(7);以及显示控制部(6A),其根据试样台和会聚离子束的照射轴线的三维数据,使显示部显示使试样载台进行动作而使试样台移动到规定的位置时的虚拟的试样台(51v)和会聚离子束的照射轴线(20Av)的位置关系。
  • 会聚离子束装置
  • [发明专利]会聚离子束装置-CN202011022919.2在审
  • 石井晴幸;上本敦;麻畑达也 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2020-09-25 - 2021-03-26 - H01J37/08
  • 提供如下的会聚离子束装置:能够针对会聚离子束的多个照射位置,分别自动且高精度地与共心高度对齐。会聚离子束装置具有电子束镜筒、会聚离子束镜筒、以及能够以倾斜轴为中心倾斜且能够沿高度方向移动的试样载台,其中,会聚离子束装置还具有:坐标取得单元,在试样上指定了照射会聚离子束的多个照射位置时,其取得各照射位置的平面坐标;移动量计算单元,其根据平面坐标,针对各照射位置计算使所述试样载台移动到共心高度以使所述共心高度与如下的交叉位置一致的移动量,所述交叉位置是电子束和会聚离子束一致的位置;以及试样载台移动控制单元,其针对各照射位置,根据移动量使试样载台移动到共心高度。
  • 会聚离子束装置
  • [发明专利]样品位置对准方法和带电粒子束装置-CN201610866961.X有效
  • 清原正宽;竹野健悟;上本敦;梅村馨 - 日本株式会社日立高新技术科学
  • 2016-09-30 - 2020-12-22 - H01J37/20
  • 本发明涉及样品位置对准方法和带电粒子束装置。在样品位置对准方法中,能够容易且迅速地将样品的观察对象部位位置对准于利用第一带电粒子束的观察视场内。是一种样品位置对准方法,其中,将配置在样品工作台(15)的样品(14)的观察对象部位位置对准于观察视场内,并且,包含:将包含样品(14)的图像显示在显示画面中;基于显示画面的图像来指定注目点;以使注目点位于当通过光学轴(Ob)上的轴上目标点时与光学轴(Ob)正交的轴上点探索面的方式对样品工作台的光学轴(Ob)方向的位置进行对准;进行注目点与轴上目标点的位置偏离的感测和轴上点探索面内移动,将注目点移动到轴上目标点;以及在注目点移动到轴上目标点之后,将注目点移动到带电粒子束光学系统的焦点深度内。
  • 样品位置对准方法带电粒子束装置

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