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- [发明专利]用于标识复杂分子子结构的割点法-CN201980052328.9在审
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A·弗里德曼;A·巴格奇;于翔;M·卡西拉
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默沙东有限公司
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2019-06-11
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2021-03-19
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G16C20/20
- 通过使用限定所选分子的最小可分解的单位(MCU)和MCU图,以及所选分子的MCU图中的“割点”,本发明的实施方式避免了与使用标识和表征大的复杂分子的所有子结构(例如,代谢产物)的常规计算机系统相关的处理问题。系统将所选分子的MCU图在指定割点分开,以产生所选分子的两个分开的MCU图组成部分(即,第一MCU子图和第二MCU子图),并且为两个MCU子图组成部分,分别生成并且利用图遍历算法遍历第一线图组成部分和第二线图组成部分,以在存储器中生成和存储第一组成部分的子结构和分子量的第一数据库,和第二线图组成部分的子结构和分子量的第二数据库。随后,本发明的实施方式可对两个数据库(或单个数据库的两个子部分)进行二分搜索,以标识和产生具有匹配查询分子量(或查询分子量的范围)的分子量的所选分子的所有子结构的图形表示,包括跨越(即,包括)割点的所选分子的子结构的图形表示。
- 用于标识复杂分子结构割点法
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