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- [发明专利]片上系统器件性能测试单元-CN202111067126.7在审
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章圣焰;阎燕山;魏大洲;吴伯春;周海兵
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中国航空无线电电子研究所
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2021-09-13
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2022-02-11
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G01R31/00
- 本发明公开了一种片上系统器件性能测试单元,包括温度控制仪、测试工装和测试仪器,温度控制仪包含控制计算机和温度加热罩手臂,控制计算机控制温度加热罩手臂将被测SOC器件罩住后形成腔体空间,控制计算机再根据测试要求对该腔体空间的温度进行调节;测试工装用于SOC器件的安装固定,提供SOC器件所需的激励信号及SOC运行所需的小系统环境,同时提供和测试仪器对接的相关接口;测试仪器用于生成测试工装所需的外部激励信号,并对SOC器件产生的状态信号进行测量和监控。本发明能够为片上系统器件提供常温及高低温测试的专用环境,能够将低质量等级的商业级片上系统器件提升为满足军用级、航天级使用标准的片上系统器件。
- 系统器件性能测试单元
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