专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体装置封装及其形成方法-CN202210482065.9在审
  • 郭建利;高金福;陈承先 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-05-05 - 2022-11-08 - H01L21/52
  • 本公开实施例提供一种形成半导体装置封装的方法。所述方法包括将半导体装置接合到封装基板;将金属盖放置在半导体装置和封装基板之上,并在金属盖与半导体装置之间提供金属热界面材料;加热并使金属热界面材料熔化;向下按压金属盖,使得熔化的金属热界面材料流向半导体装置的边界,且熔化的金属热界面材料的横向侧壁的最外点延伸超出半导体装置的边界;向上抬起金属盖,使得熔化的金属热界面材料回流,且其横向侧壁的最外点在半导体装置的边界内;以及固化熔化的金属热界面材料,以通过金属热界面材料将金属盖接合到半导体装置。
  • 半导体装置封装及其形成方法
  • [发明专利]封装件及其制造方法-CN202210057639.8在审
  • 詹凯钧;高金福;李光君;郑明达;陈承先 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-01-19 - 2022-05-27 - H01L21/603
  • 方法包括:通过真空抽吸将管芯附接至热压接合(TCB)头,其中,管芯包括多个导电柱;通过真空抽吸将第一衬底附接至卡盘,其中,第一衬底包括多个焊料凸块;使多个导电柱中的第一导电柱与多个焊料凸块中的第一焊料凸块接触,其中,使第一导电柱与第一焊料凸块接触产生第一导电柱的最顶面和第一焊料凸块的最底面之间的第一高度;以及将第一焊料凸块粘合至第一导电柱以形成第一接头,其中,将第一焊料凸块粘合至第一导电柱包括加热TCB头。本申请的实施例还涉及封装件及其制造方法。
  • 封装及其制造方法
  • [发明专利]集成电路封装件和形成封装件的方法-CN201910891683.7有效
  • 潘志坚;郑礼辉;高金福;卢思维 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-09-20 - 2022-03-11 - H01L21/54
  • 在实施例中,封装件包括:中介层,具有第一侧;第一集成电路器件,附接到中介层的第一侧;第二集成电路器件,附接到中介层的第一侧;底部填充物,设置在第一集成电路器件和第二集成电路器件下方;以及密封剂,设置在第一集成电路器件和第二集成电路器件周围,密封剂的第一部分延伸穿过底部填充物,密封剂的第一部分物理地设置在第一集成电路器件和第二集成电路器件之间,密封剂的第一部分与底部填充物的边缘以及第一集成电路器件和第二集成电路器件的边缘是齐平的。本发明的实施例还涉及集成电路封装件和形成封装件的方法。
  • 集成电路封装形成方法

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