专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于六步混合相移的光弹图像处理系统-CN202211438191.0在审
  • 陈念年;邱川;巫玲;刘光海;范勇 - 西南科技大学
  • 2022-11-16 - 2023-03-07 - G06T7/40
  • 本发明公开了基于六步混合相移的光弹图像处理系统,传统六步相移法获取的单色光入射光弹图像,计算的等倾线易受等差线噪声干扰,造成误差。十步相移法增加了白光入射的四幅图像,避免了等倾线受到噪声干扰,但采集图片较多、操作复杂,方法效率不高。为了平衡精度和效率,本文提出一种混合的六步相移方法,用三幅白光入射的光弹图像和三幅单色光入射的光弹图像分别计算等倾线和等差线。与传统的六步相移法相比,本方法有效的避免了等倾线受到等差线噪声干扰的问题;与十步相移法相比,减少了4幅光弹图像,提高40%采集效率。
  • 基于混合相移图像处理系统
  • [发明专利]基于干涉图像自相关值曲率特征的表面粗糙度测量方法-CN201810154656.7有效
  • 陈念年;董振兴;范勇;巫玲 - 西南科技大学
  • 2018-02-23 - 2020-03-31 - G01B11/30
  • 本发明属于用于计量表面的粗糙度或不规则性技术领域,公开了一种基于干涉图像自相关值曲率特征的表面粗糙度测量方法,采用高斯滤波预处理去除干涉图像噪声;应用图像自相关分析法计算图像的二阶统计特征,提取出i方向10个像素偏移量的统计特征曲线;归结不同粗糙度下统计特征曲线的曲线变化,多项式拟合求取曲线最大曲率;应用最小二乘法拟合曲线最大曲率与粗糙度变化之间的函数关系,得到曲率随粗糙度变化的函数方程。本发明既能测量无法产生散斑的高反射光滑表面,又能测量无法产生干涉条纹的粗糙表面,扩大了测量量程;能够有效测量粗糙度较小的高反射表面和粗糙度较大的粗糙表面,扩大了测量的量程,测量结果相对误差最大值为8.6%。
  • 基于干涉图像相关曲率特征表面粗糙测量方法
  • [发明专利]一种基于STDF特征的人体行为识别方法-CN201510246034.3有效
  • 高琳;范勇;刘雨娇;李绘卓;陈念年 - 西南科技大学
  • 2015-05-14 - 2018-04-17 - G06K9/62
  • 本发明公开了一种基于STDF特征的人体行为识别算法。算法依据运动剧烈区域在行为识别中提供更多判别信息的思想,利用视频图像的深度信息确定人体运动显著性区域,通过计算区域内光流特征作为度量区域活跃度的能量函数,依据能量函数对运动显著性区域进行高斯取样,使样本点分布于运动剧烈区域。将采集到的样本点作为动作底层特征描述人体行为,结合BoW词袋模型,采用SVM分类器对行为进行识别。实验数据表明,基于STDF特征的人体行为识别算法,在SwustDepth数据集中平均行为识别准确率能够达到92%。
  • 一种基于stdf特征人体行为识别算法
  • [发明专利]一种干涉条纹倾斜角测量方法-CN201310421684.8有效
  • 巫玲;陈念年;范勇;王俊波;潘娅;李绘卓 - 西南科技大学
  • 2013-09-16 - 2013-12-25 - G01B11/26
  • 本发明公开了一种干涉条纹倾斜角测量方法。采用一维离散傅里叶变换的实部低频极大值坐标跳变周期求出条纹图像x和y方向周期Tx和Ty;根据一维周期比值求得倾斜角:θ=actan(Ty/Tx);θ趋近于0或π/2,一个方向的跳变坐标Yjmp序列长度小于等于1时,将图像旋转π/4后,再进行Tx和Ty的计算。实验结果表明,与求倾斜角度的经典算法Hough变换和Radon变换相比,本发明算法运行速度快、计算精度高。算法性能影响因素有图像大小、倾斜角度、条纹周期等,当条纹在x、y方向均超过1个周期时,一次测量运行时间小于0.1s,测量精度达到0.1°。
  • 一种干涉条纹倾斜角测量方法
  • [发明专利]阵列式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法-CN201310172925.X有效
  • 陈念年;巫玲;范勇;王俊波;杨程;张劲峰 - 西南科技大学
  • 2013-05-10 - 2013-08-28 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种阵列式超大口径平面光学元件面形检测装置和方法,包括DVD/CD光学头阵列(1)、光学头阵列的恒流驱动子系统(2)、FES信号采集子系统(3)和面形检测控制与处理子系统(4),DVD/CD光学头线阵(1)用于检测被测区域的面形;FES信号采集子系统(3)用于实时采集DVD/CD光学头线阵(1)所检测区域的面形高差;面形检测控制与处理子系统(4)用于对DVD/CD光学头线阵(1)的信号采集、面形重构与绘制。采用阵列式布置DVD/CD光学头,提升面形检测设备的面形检测精度和效率。在背景技术中所列角差法、干涉法等研制的面形设备均价格高,设备庞大,采用本发明能大大降低设备的研制成本。
  • 阵列超大口径平面光学元件检测装置方法

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