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- [发明专利]一种电容式压力传感器的制备方法-CN201310033190.2无效
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刘圣亚;高成臣;郝一龙
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北京大学
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2013-01-29
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2014-08-06
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B81C1/00
- 一种电容式压力传感器的制备方法。本发明在于用采用相对简单的工艺方法,制造出结构简单但是可靠性好,重复性好的器件。具体加工方法包括,敏感膜片的加工,电容间隙的加工,电极的加工及电极引出,硅玻璃的键合等。敏感膜片的加工过程包括:电容间隙的腐蚀,采用四甲基氢氧化铵(TMAH)溶液,硅岛的腐蚀采用氢氧化钾(KOH)溶液。本专利的发明在于硅岛的腐蚀,本发明在于提出了一种变截面(八角形)型膜片。变截面膜片有较好的线性度,且有较低的应力集中。电容间隙在2~4um,用TMAH溶液易于控制腐蚀精度。淀积Cr/Au电极,与玻璃电极键合在一起,玻璃面用胶保护好后,光刻正面并腐蚀出硅岛,在键合时,考虑静电键合腔内进水,做了相应的设计。
- 一种电容压力传感器制备方法
- [发明专利]一种不等高硅结构的加工方法-CN201110387142.4有效
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杨振川;闫桂珍;郝一龙
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北京大学
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2011-11-29
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2012-06-13
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B81C1/00
- 本发明涉及一种不等高硅结构的加工方法,其步骤为:(1)选用包括器件层、埋氧层和衬底层的硅基片;(2)在器件层表面生长一层氮化硅薄膜,采用光刻和干法刻蚀进行第一次光刻,制成与待加工硅结构形成互补的氮化硅区域;(3)对氮化硅区域内的器件层进行第二次光刻,以光刻胶和氮化硅为掩模进行硅各向异性刻蚀,在器件层形成硅槽,去除光刻胶;(4)对完成刻蚀硅槽的器件层进行氧化,在未被氮化硅覆盖的器件层表面生长出与氮化硅区域互补的氧化硅区域;(5)氧化后去除器件层表面的氮化硅,在器件层表面以氧化硅区域为掩模进行硅各向异性刻蚀至埋氧层,刻蚀出不等高硅结构;(6)去除硅基片的埋氧层,加工出可动的不等高硅结构。本发明可以广泛应用于微机电系统领域。
- 一种不等结构加工方法
- [发明专利]一种不等高硅结构与集成电路的单片集成加工方法-CN201110386381.8有效
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杨振川;闫桂珍;郝一龙
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北京大学
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2011-11-29
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2012-05-02
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B81C1/00
- 本发明涉及一种不等高硅结构与集成电路的单片集成加工方法,其步骤为:(1)选用包括器件层、埋氧层和衬底层的SOI基片;(2)在器件层进行集成电路加工并生成介质层;(3)对介质层第一次刻蚀形成介质层浅槽,制成高度被降低的掩模区域;(4)制作与MEMS结构掩模区域对应的光刻胶图形;(5)刻蚀介质层直至器件层制成MEMS结构掩模;(6)利用MEMS结构掩模对器件层进行第一次硅各向异性刻蚀但不穿通;(7)利用各向异性反应离子刻蚀方法去除减高结构掩模,并减薄标准结构掩模;(8)第二次硅各向异性刻蚀直至埋氧层得到不等高MEMS硅结构;(9)在器件层制作隔离槽;(10)去除与不等高MEMS硅结构对应的衬底层和埋氧层完成不等高MEMS器件加工。本发明能广泛应用于微机电系统加工领域中。
- 一种不等结构集成电路单片集成加工方法
- [发明专利]一种微机械结构与集成电路单片集成的加工方法-CN201110387776.X有效
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杨振川;闫桂珍;郝一龙
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北京大学
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2011-11-29
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2012-03-21
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B81C1/00
- 本发明涉及一种微机械结构与集成电路单片集成的加工方法,包括以下步骤:将SOI基片的器件层划分成集成电路区、MEMS结构区和隔离区。在集成电路区加工集成电路,设置跨过隔离区的电极。由SOI基片的衬底层一侧,依次去除与MEMS结构区和隔离区位置对应的衬底层和埋氧层,形成背腔。由背腔一侧,去除的隔离区处器件层的单晶硅,完成隔离槽的加工。对SOI基片的表面进行光刻,定义MEMS结构图形,对MEMS结构区上的介质层进行刻蚀,得到MEMS结构掩模。然后根据MEMS结构掩模,对器件层进行硅各向异性刻蚀,直至穿通器件层,完成MEMS结构的加工。本发明满足集成电路代工厂生产的前提条件,工艺难度较低,成品质量较高。
- 一种微机结构集成电路单片集成加工方法
- [发明专利]一种微机械结构与集成电路单片集成的加工方法-CN201110386394.5有效
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杨振川;闫桂珍;郝一龙
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北京大学
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2011-11-29
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2012-03-21
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B81C1/00
- 本发明涉及一种微机械结构与集成电路单片集成的加工方法,将SOI基片的器件层划分成集成电路区、MEMS结构区和隔离区。采用标准集成电路加工方法,在集成电路区加工集成电路,设置跨过隔离区的电极。在器件层表面的由集成电路加工中生成的介质层表面定义MEMS结构图形,进行刻蚀,得到由介质层构成的MEMS结构掩模。然后根据MEMS结构掩模,对器件层进行硅各向异性刻蚀,得到MEMS结构。对MEMS结构中的间隙进行填充保护,然后对隔离区的介质层进行刻蚀;以光刻胶及隔离区处的电极为掩模,对隔离区的器件层进行硅各向异性刻蚀和硅各向同性刻蚀。本发明能够满足集成电路代工厂制造生产的前提条件,且加工成品率较高。
- 一种微机结构集成电路单片集成加工方法
- [发明专利]一种用于微机械谐振式器件的升频驱动控制方法-CN201010521639.6有效
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崔健;闫桂珍;郭中洋;杨振川;郝一龙
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北京大学
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2010-10-21
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2011-07-27
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H03H9/24
- 本发明涉及一种用于微机械谐振式器件的升频驱动控制方法,其包括以下步骤:1)将微机械谐振式器件中的振动拾取结构上的两个差分电极同时连接一振动信号读取装置;2)在微机械谐振式器件中的驱动结构的两个差动驱动电极上分别施加驱动电压VL和VR;3)振动信号读取装置将微机械谐振式器件中的两个差分电极输出的电容变化量读取出来,并将电容变化量转换为电压变化量,输送给滤波器;4)滤波器将步骤3)中得到的电压变化量中的电耦合信号进行滤除,并得到一能够体现所述微机械谐振式器件的谐振频率信息的振动电压信号。本发明能够减小低频段噪声和谐振频率处噪声以及避免驱动电压和驱动力之间出现非线性关系,适用于谐振式微悬臂梁、微谐振器、微机械陀螺和谐振式微加速度计等微机械谐振式器件。
- 一种用于微机谐振器件驱动控制方法
- [发明专利]一种悬臂梁微量检测传感器及其制备方法-CN201010595044.5有效
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王建;吴文刚;郝一龙;王阳元
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北京大学
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2010-12-20
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2011-06-01
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B81B3/00
- 本发明公开了一种悬臂梁微量检测传感器及其制备方法。该传感器是将经过重金属扩散或者伽马射线辐照处理过的金属-硅肖特基二极管嵌入硅悬臂梁适当位置的表面,用以将力学信号转化为电学信号。在悬臂梁的一个表面淀积薄的贵金属层,在该金属层上通过自主装的方法生长上具有特异性吸附能力的单分子敏感层。被检测化学物质与敏感层分子结合时在悬臂梁上下表面产生表面应力差,致使悬臂梁发生弯曲,从而在悬臂梁根部产生集中的弯曲应力,该应力由嵌入悬臂梁表面的肖特基二极管检测。本发明提供的传感器,结构简单、制作简便、灵敏度高、分辨率高,可应用于力传感器和扫描探针等,在环境检测、食品安全、航天军事等领域有重要应用。
- 一种悬臂梁微量检测传感器及其制备方法
- [发明专利]抗震装置及其制备方法-CN201010199631.2有效
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陈庆华;吴文刚;杜博超;张海霞;郝一龙
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北京大学
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2010-06-08
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2010-11-10
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B81B3/00
- 本发明涉及一种抗震装置及其制备方法,该装置包括:基体,上表面设置有抗震平台、以及若干一端与抗震平台固定连接且保持与基体上表面不接触地延伸的抗震悬臂梁;器件载体,上表面用于承载待保护器件,下表面设置有凹槽,器件载体与抗震悬臂梁相连,且凹槽与抗震平台不接触。本发明的抗震装置及其制备方法适用于微电子电路芯片及MEMS可动器件在振动环境下的保护等应用,具有极强的应用性;使用物理方式实现抗振功能,无需高精度控制电路,从而降低了系统成本;本发明的制备方法可以采用常规MEMS工艺设备,实现大批量制造,且工艺过程简单,与多种类型的MEMS器件工艺兼容,可用于实现功能更广泛、更强大的微电子系统。
- 抗震装置及其制备方法
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