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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]涂布装置及其液体材料的更换方法-CN201110041335.4有效
  • 蒋其晋;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2011-02-18 - 2011-09-14 - B05C11/10
  • 本发明提供一种涂布装置及其液体材料的更换方法。涂布装置包括储存槽、排空组件、清洗液阀开关、第二液体材料阀开关及控制单元，所述方法包括如下步骤：利用控制单元来控制排空组件，以排出储存槽内的第一液体材料；利用控制单元来控制清洗液阀开关，以通入清洗溶液于储存槽内；利用所述控制单元来控制排空组件，以排出储存槽内的清洗溶液；以及利用控制单元来控制第二液体材料阀开关，以通入第二液体材料于所述储存槽内。本发明可避免人为操作所造成的错误并可减少在清洗涂布装置或及更换液体材料时所耗费的人力和时间。
  • 装置及其液体材料更换方法
  • [发明专利]液晶显示器及其驱动方法-CN201110045641.5有效
  • 王念茂;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2011-02-24 - 2011-08-17 - G09G3/36
  • 本发明涉及一种液晶显示器及其驱动方法，上述液晶显示器包括多条数据线、一数据驱动器、多个像素单元和一连接于数据驱动器与多条数据线之间的开关电路，所述数据驱动器用来以点反转驱动方式在相邻数据线上写入灰阶电压。上述开关电路包括多个第一开关、多个第二开关和多个第三开关，上述开关电路通过控制三组开关的通断使得数据线在被写入灰阶电压之前，数据线上的电压预先向将要写入的灰阶电压的大小转变。本发明液晶显示器的功率损耗较低。
  • 液晶显示器及其驱动方法
  • [发明专利]供液系统及供液方法-CN201010575713.2无效
  • 林彦伯;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-12-06 - 2011-08-17 - B08B11/04
  • 本发明公开一种供液系统，所述供液系统包括至少两个流量计以及一控制装置。所述至少两个流量计设置于至少一个水管路与所述至少一个洗剂管路上，用于产生若干个流量值。所述控制装置电性连接于所述至少两个流量计，用于接收所述若干个流量值，以确认供给到至少一个洗剂槽的水及洗剂的量。本发明还公开一种利用所述供液系统的供液方法，所述控制装置根据水及洗剂的量判断洗剂槽上的若干水位传感器是否故障，以防止感应器故障时洗剂槽的洗剂溢出，降低了成本。
  • 系统方法
  • [发明专利]膜厚量测装置及其校正方法-CN201110053410.9有效
  • 柯智胜;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2011-03-04 - 2011-08-03 - G02F1/13
  • 本发明公开一种膜厚量测装置及其校正方法。所述膜厚量测装置包含至少两位于不同校正位置的固定座、一用于承载基材的承载机台，以及一量测头。所述量测头从承载机台接收当前所承载基材的标识；并从保存的对应关系中获取该标识对应的校正位置的参数，并移动到获取的参数所对应的校正位置上方，进而量测位于该校正位置的固定座上的校正片的膜厚实现校正。本发明针对不同基材而自动切换到对应的校正位置进行校正，可避免手动更换校正片的不便。
  • 膜厚量测装置及其校正方法
  • [发明专利]金属蚀刻终点侦测方法及金属蚀刻终点侦测机-CN201010575610.6有效
  • 王静文;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-12-02 - 2011-08-03 - H01L21/66
  • 本发明公开一种金属蚀刻终点侦测方法及金属蚀刻终点侦测机。金属蚀刻终点侦测方法包含：对金属膜进行扫描，以获取扫描区域中，透光面积占扫描区域的比例；判断透光面积占扫描区域的比例是否达到预定比例；当达到预定比例时，确定当前对金属膜已蚀刻的时间为蚀刻终点时间。金属蚀刻终点侦测机具有获取模块、判断模块及确定模块。获取模块用于对金属膜进行扫描，以获取扫描区域中，透光面积占扫描区域的比例。判断模块用于判断透光面积占扫描区域的比例是否达到预定比例。确定模块用于在判断模块判定透光面积占扫描区域的比例达到预定比例时，确定当前对金属膜已蚀刻的时间为蚀刻终点时间。本发明能精确判定金属膜的蚀刻终点时间。
  • 金属蚀刻终点侦测方法
  • [发明专利]双臂式机械手臂及其搬运板件的方法-CN201010559558.5有效
  • 李彦泽;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-11-25 - 2011-07-20 - H01L21/02
  • 本发明公开一种双臂式机械手臂及其搬运板件的方法，其主要将一第一机械手臂与一第二机械手臂同时伸入一加工设备中；并在所述第二机械手臂取出所述加工设备中的一第二板件时，使所述第一机械手臂可同时进行一稳定作业及对先前承载的一第一板件进行一解除固定吸力作业；接着，降低所述第一机械手臂，以将所述第一板件放置在所述加工设备中。本方法可防止所述第一板件在放置时发生破裂的风险，并节省所述第一机械手臂等候稳定及解除固定吸力所需的作业时间。
  • 双臂机械手臂及其搬运方法
  • [发明专利]液晶显示面板及其制造方法-CN201010564422.3有效
  • 陈政鸿;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-11-26 - 2011-07-06 - G02F1/1362
  • 本发明公开了一种液晶显示面板以及其制造方法。所述液晶显示面板包括以矩阵方式排列的多个薄膜晶体管，其中薄膜晶体管的源极与漏极分别由透明导电层构成，栅极由金属层构成；在数据线上设有接触窗口，源极与接触窗口电性连接，漏极与源极通过主动层电性连接。本发明中，无论数据线的数目如何变化，任一个像素仅会对应到一个与其相关的接触窗口而不会增加接触窗口的数目，所以不会造成开口率的损失，非常适合在高频操作下需要增加数据线数目的场合。在液晶显示装置中使用该矩阵电路，可以实现较高的画面刷新频率。
  • 液晶显示面板及其制造方法
  • [发明专利]液晶显示器的像素阵列制造方法-CN201010557526.1有效
  • 贺成明;李明羲 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-11-22 - 2011-06-29 - G02F1/1362
  • 本发明公开一种液晶显示器的像素阵列制造方法，其可提高开口率。本发明之方法包含在玻璃基板上形成栅极金属层；形成栅极绝缘层；形成半导体层；在半导体层上形成第二金属层；在第二金属层上形成开关区光阻层与数据线区光阻层；蚀刻第二金属层；蚀刻半导体层；蚀刻开关区光阻层与数据线区光阻层；及利用氟素气体蚀刻开关区与数据线区的半导体层的边缘部份。为能蚀刻去除在数据线区的半导体层更多的边缘部份，根据本发明，是在形成光阻层时，使数据线区光阻层的厚度较小。
  • 液晶显示器像素阵列制造方法
  • [发明专利]一种框胶涂布装置及其吐胶方法-CN201010527429.8有效
  • 贺成明;李建邦;黄宇吾 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-11-01 - 2011-06-29 - B05C9/14
  • 本发明提供了一种框胶涂布装置，包括一胶材容腔和一设置在所述胶材容腔底部的喷嘴，所述吐胶装置进一步包括一加热装置，所述加热装置设置在所述胶材容腔的周围，用来对所述胶材容腔内填充的胶材进行加热。本发明进一步提供了一种框胶涂布装置的吐胶方法，包括如下步骤：获得胶材在胶材容腔中搁置的时间；根据所获得的时间和所需的胶材黏度计算出胶材的目标温度；加热所述胶材至所述目标温度。本发明的优点在于，利用胶材黏度随温度变化的特点，通过采用加热装置降低胶材黏度。在胶材容腔中搁置一段时间导致黏度升高的情况下，通过启动加热装置来降低其实际黏度至恒定保持在所需的胶材黏度。
  • 一种框胶涂布装置及其方法
  • [发明专利]配向膜修补设备及其修补方法-CN201010597384.1有效
  • 施翔尹;贺成明 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2010-12-17 - 2011-06-22 - G02F1/1337
  • 本发明公开一种配向膜修补设备，所述配向膜修补设备包括一检测装置及一等离子装置。所述检测装置用于检测一配向膜的边缘区域，以定义出至少一缺陷区域。所述等离子装置用于对所述配向膜的所述至少一缺陷区域产生等离子反应以去除所述至少一缺陷区域。本发明还公开一种利用所述配向膜修补设备的修补方法，通过所述检测装置配合等离子装置局部的去除配向膜的所述至少一缺陷区域，解决了现有的配向膜制程仅能通过剥膜液洗去整个配向膜的问题。
  • 修补设备及其方法
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