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[发明专利]用于支持协议无关器件测试系统中协议重新配置的基于云的基础设施-CN201380075598.4有效
发明人：杰拉德·陈;艾瑞克·沃克里克 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-02-28 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：提供了一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括：使用图形用户界面(GUI)获取用于编程可编程测试仪模块的协议选择。该方法还包括：通过网络从远程计算机访问与协议相关联的配置文件。随后，该方法包括：利用应用于至少一个被测器件(DUT)的使用该配置文件的通信协议来配置可编程测试仪模块。最后，该方法包括：向可编程测试仪模块发送用于执行程序流程的指令，其中程序流程包括用于测试至少一个DUT的测试序列；以及从可编程测试仪模块接收这些测试的结果。
用于支持协议无关器件测试系统重新配置基于基础设施

[发明专利]从交互式图形用户界面中自动生成测试类预编译头-CN201480022510.7有效
发明人：马克·埃尔斯顿;安肯·普拉玛尼克;利昂·陈;钱德拉·品伽拉 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2014-02-05 - 公布日： 2018-11-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：提出了一种用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。该方法包括利用图形用户界面获得有关测试类的信息。进一步，其包括自动生成第一头文件，其中，第一头文件包括有关测试类的信息。其次，其包括将第一头文件导入可操作以利用测试仪操作系统执行的测试计划，其中，测试计划包括测试类的实例。其进一步包括从第一头文件中自动生成第二头文件，其中，第二头文件是测试类的头文件。该方法还包括利用测试仪操作系统验证测试计划。最后，该方法包括将测试计划和编译模块加载到测试仪操作系统中，以供执行，其中，编译模块是测试类的编译译文。
交互式图形用户界面自动生成测试预编

[发明专利]用于RF频率／功率测量的ATE数字通道-CN201410096219.6有效
发明人：张卫民 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2014-03-14 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：公开了使用自动测试设备(ATE)进行测试的方法和用于RF频率／功率测量的ATE数字通道。所述方法包括使用自动测试设备上的数字端口来采集射频(RF)信号，其中要由所述自动测试设备测试的所述RF信号是从被测设备(DUT)发射的。所述方法还包括使用与所述数字端口相关联的数字通道以高采样率对所述RF信号进行采样。另外，所述方法包括使用来自所述采样的结果生成离散信号。最后，所述方法包括使用所述离散信号来确定所述射频信号的频率和幅值。
用于 rf 频率功率测量 ate 数字通道

[发明专利]在用于半导体测试的本地每引脚测试仪的自动测试设备上伪每站测试仪功能-CN201380054441.3有效
发明人：杰拉尔德·穆恩;伊拉·哈里斯·莱文塔尔;罗恩·拉森;萨吉特·卡拉姆常丹尼 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-10-16 - 公布日： 2018-08-10 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：这里给出了用于测试器件的系统和方法。本发明的实施例使用中央控制器来协调多个被测器件的测试，以及多个信道电路，每个信道电路可操作为被耦合到上述多个被测器件中的被测器件的至少一个I/O引脚。此外，本发明的实施例包括多个中间处理器，每个中间处理器被耦合到中央控制器，并且可操作为接收和发送控制信号。这些中间处理器的每一个被耦合到多个信道电路中的不同组信道电路，并且可操作为独立于多个中间处理器中的任意其他中间处理器来针对与其相关联的被测器件的测试执行它们自己的测试程序实例化。
用于半导体测试本地引脚测试仪自动设备功能

[发明专利]在ATE载荷板上用于RF智能自匹配的集成RF MEMS-CN201510007229.2有效
发明人：曾辛平;于晖;基思·肖布;葛樑;吴兴发 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2015-01-07 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及在ATE载荷板上用于RF智能自匹配的集成RF MEMS。一种在测试设备中用于实现自动RF端口测试的方法，该方法包括：将具有多个RF引脚的被测设备附接到载荷板；将所述载荷板的多个RF端口动态调谐到所述多个RF引脚；以及针对阻抗将所述多个RF端口自动匹配到所述多个RF引脚。该方法进一步包括在所述被测设备上实现RF端口测试过程。
ate 载荷用于 rf 智能匹配集成 mems

[发明专利]输入和输出路径的扫描速度优化-CN201380075544.8有效
发明人：于尔根·瑟里尔;马丁·费希尔 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-04-12 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本文公开了一种扫描优化器系统和方法，该系统和方法被设计为生成具有小容限但产生稳定结果的最佳ATE输入/输出定时。因此，扫描测试时间被大大改进。
输入输出路径扫描速度优化

[发明专利]测试单元控制器的决策和执行树的创建和调度-CN201380029168.9有效
发明人：亨利·阿诺德;布瑞恩·布拉斯;皮埃尔·高彻尔;杰姆斯·史蒂芬·莱德福特 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-04-11 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种用于测试器件的方法。该方法包括确定计算窗。计算窗是器件测试活动低于活动阈值的时间段。所述至少一个计算窗出现在器件测试活动期间。该方法进一步包括在计算窗期间创建并执行决策树。决策树包括测试结果的被安排的测试分析以及被安排为响应于测试分析而执行的测试控制动作的选择。
测试单元控制器决策执行创建调度

[发明专利]用于半导体测试的自动测试设备的波接口配件-CN201710063897.6在审
发明人：唐·李;林伟良;罗杰·麦克阿莲那;宫尾光介 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2017-02-03 - 公布日： 2017-08-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本文涉及用于半导体测试的自动测试设备的波接口配件。本公开的实施例利用可定制的波导制造技术(例如，3D打印机技术)和贴片天线阵列来创建可以为ATE系统提供有效的信号路由的适应性波接口。以这种方式，本公开的实施例允许端到端的任意波导路由，并且在PCB等级产生高密度的端口间隔，这尤其消除了现有技术波导所需的大法兰。此外，实施例包括将不同波导组件(包括功率分配器、耦合器、终端等)集成到单个结构中的能力。因此，本公开的实施例可以降低信号路径损耗并且简化ATE系统的机械构造，同时消除对同轴电缆的需要并最小化PCB微带的长度。
用于半导体测试自动设备接口配件

[发明专利]用于半导体测试的横向驱动探针-CN201380016070.X有效
发明人：拉克什密坎斯·纳穆布瑞;弗洛伦特·克罗斯;约翰内斯·德斯塔 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-03-22 - 公布日： 2017-05-24 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：一种用于测试半导体器件的方法。该方法包括沿垂直方向朝半导体器件上的电气结构移动探针来将探针置于电气结构旁边。探针的尖端被置于低于电气结构的最外围的高度的位置。该方法还包括沿横向方向朝电气结构移动探针来接触电气结构。探针尖端机械地且电气地接合所述电气结构。
用于半导体测试横向驱动探针

[发明专利]电源噪声减小电路和电源噪声减小方法-CN201080069667.7有效
发明人：佐藤俊之 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2010-11-12 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： H02M1/14 文献下载
摘要：提供不需要增大电路元件尺寸且不在电源电压中引起电压降的电源噪声减小电路和电源噪声减小方法。用于减小被包括在从电源（2）向负载输出的恒定电压输出中的噪声的电源噪声减小电路（10）包括被插入从所述电源（2）延伸到所述负载的电源线路的第一电阻器（20），被连接到所述第一电阻器（20）的负载端并且输出通过从恒定电压输出减小所述噪声得到的第一电压的滤波器（31），以及驱动从所述滤波器输出的所述第一电压并且向所述第一电阻器（20）的所述负载端输出被驱动的所述第一电压的单位增益放大器（32）。
电源噪声减小电路方法

[发明专利]用于创建、定义和执行SPC规则决策树的算法和结构-CN201380029181.4有效
发明人：亨利·阿诺德;皮埃尔·高彻尔;布瑞恩·布拉斯;杰姆斯·史蒂芬·莱德福特 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-04-11 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种分析测试结果的方法。所述方法包括从多个储存的控制规则中选择选定的控制规则进行验证，访问选择的测试结果，对选择的测试结果进行选择的统计分析，以及执行多个选择的动作中的至少一个动作，其中所述多个选择的动作是通过选择的统计分析的结果进行选择的。所述多个选定的控制规则排列在决策树中。所述决策树包括用于验证所述选定的控制规则的时间表。所述测试结果的选择由所述多个选定的控制规则定义。统计分析的选择由所述多个选定的控制规则和所述决策树定义。至少一个动作是通过所述决策树选择的。
用于创建定义执行 spc 规则决策树算法结构

[发明专利]用于测试器的校准模块和测试器-CN201080070917.9有效
发明人：马丁·穆克;桑德拉-克里斯汀·佛瑞克;乔纳斯·豪斯特 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2010-12-22 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：一种用于测试被测器件的测试器的校准模块，该校准模块包括一对RF通道端子、校准装置、一对测量端子和模式选择器。该对RF通道端子被配置为向测试器的RF通道发送或从测试器的RF通道接收测量信号。校准装置被配置为基于发送到RF通道或从RF通道接收的测量信号来执行RF通道的校准。该对测量端子被配置为向被测器件发送或从被测器件接收测量信号。模式选择器用于在校准阶段中将该对RF通道端子连接到校准装置以便校准RF通道，并且在测量阶段中将该对RF通道端子连接到该对测量端子以便将测量信号从RF通道引导至被测器件或将测量信号从被测器件引导至RF通道。
用于测试校准模块

[发明专利]具有存储器上的加速以及用于FPGA块内自动模式生成的加速的测试器-CN201380072154.5在审
发明人：约翰·费迪尼;安德鲁·尼米克 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-02-28 - 公布日： 2016-01-06 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：提供了能执行半导体器件的高速测试的自动测试设备。该自动测试设备包括测试器处理器的计算机系统，其中测试器处理器通信地耦接到多个FPGA组件。多个FPGA组件中的每个耦接到存储器模块并包括：可操作来从测试器处理器接收命令和数据的上游端口；可操作来与多个受测设备DUT中的相应DUT通信的下游端口；以及多个硬件加速器电路，其中每个硬件加速器电路被配置为与多个DUT中的一个DUT通信。每个硬件加速器电路包括：模式生成器电路，可配置为自动生成要被写入多个DUT中的一个DUT的测试模式数据；以及比较器电路，被配置为将从所述多个DUT中的所述一个DUT读取的数据、与写入到所述多个DUT中的所述一个DUT的测试模式数据进行比较。
具有存储器加速以及用于 fpga 自动模式生成测试

[发明专利]对在FPGA块内分组创建加速的测试仪-CN201380074042.3在审
发明人：约翰·费迪尼 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2013-12-18 - 公布日： 2015-10-28 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：提出了一种使用自动测试设备进行测试的方法。该方法包括将用于执行自动测试的指令从系统控制器发送到测试仪处理器，其中这些指令包括用于描述符模块的参数。该方法还包括将用于实现描述符模块的可重配置电路编程到耦接至测试仪处理器的实例化FPGA块上。另外，该方法包括利用可重配置电路解释来自描述符模块的参数，其中这些参数控制对耦接至实例化FPGA块的DUT的多个测试操作的执行。此外，该方法包括根据这些参数构造至少一个分组，其中该至少一个分组中的每一个均包括对DUT执行测试操作的命令。最后，该方法包括与DUT进行握手以将该至少一个分组路由至DUT。
fpga 分组创建加速测试仪

[发明专利]RF探头-CN201280077750.8在审
发明人：兰迪·巴尔塞坦 -专利权人： 爱德万测试公司
申请日： 2012-12-17 - 公布日： 2015-09-02 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：本发明的实施例提供了一种用于从电路的传输线耦合出探测信号的RF探头。RF探头包括至少两个探头引脚，探头引脚具有第一端和第二端，第一端用于接触电路。另外，RF探头包括用于在探头引脚的第二端处提供可变阻抗的装置。RF探头被配置为基于沿探头引脚中的至少一个探头引脚传播的信号来提供探测信号。
rf 探头