专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]非易失性存储器的替换方法、装置及存储介质-CN202110509591.5在审
  • 安友伟;张登军;漆俊贤 - 珠海博雅科技有限公司
  • 2021-05-11 - 2021-09-17 - G11C16/08
  • 本发明公开一种非易失性存储器的替换方法、装置及存储介质,其中,替换方法包括:根据编程操作指令对目标区域循环进行编程‑校验操作;当目标区域连续不通过编程‑校验操作的次数大于第一设定值,按字线地址对目标区域执行替换操作;根据擦除操作指令对目标区域循环进行擦除‑校验操作;当目标区域连续不通过擦除‑校验操作的次数大于第二设定值,对目标区域中未通过擦除‑校验操作的字线地址执行替换操作;上述编程‑擦除操作由存储芯片内部执行并根据预设的第一设定值和第二设定值限定内部执行循环的次数,可以降低测试机与存储芯片之间进行通讯的次数,提高测试效率,降低对测试机的性能要求。
  • 非易失性存储器替换方法装置存储介质
  • [发明专利]参考单元替换方法、装置及存储介质-CN202110509819.0在审
  • 安友伟;张登军;漆俊贤 - 珠海博雅科技有限公司
  • 2021-05-11 - 2021-09-17 - G11C16/34
  • 本发明公开一种参考单元替换方法、装置及存储介质,其中,参考单元替换方法包括接收擦除操作指令;测量参考单元的输出电流,当所述参考单元的输出电流与所述参考单元的设计电流不同,对所述参考单元执行替换操作;根据所述擦除操作指令执行擦除操作。本发明实施例中,当接收到擦除操作指令,存储芯片执行擦除操作之前,对参考单元的进行检测,并对出现问题的参考单元进行替换,可以有效解决参考单元随着存储芯片的使用时间增长而逐渐失效的问题,提高存储芯片的可靠性;另一方面,相对于读写操作来说,擦除操作花费的时间较长,因此选择在擦除操作前进行参考单元检测,可以避免检测过程对存储芯片的读写速度的影响。
  • 参考单元替换方法装置存储介质

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