“株式会社三丰”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果944个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]光学编码器-CN201810299150.5有效
发明人：木村彰秀 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2018-04-04 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01D5/38 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学编码器。其能够在抑制光学编码器的尺寸增加的同时抑制采用噪声衍射光照射光接收单元的情况。技术方案手段：光学编码器(1)包括：具有衍射光栅(S)的标尺(2)；配置成接收来自光源(4)的光的光接收单元(6)；以及位于标尺(2)和光接收单元(6)之间的光学元件(5)。光学元件(5)包括多个凹槽部分(8)，其是在光学元件(5)的一个面中周期性地形成的周期性结构部分。多个凹槽部分(8)配置成将信号衍射光(10)和噪声衍射光(20)分成以预定行进角行进的第一分割光束(11、21)和以比第一分割光束(11、21)的行进角更大的行进角行进的第二分割光束(12、22)，并且使噪声衍射光(20)的第一分割光束(21)的衍射效率低于信号衍射光(10)的第一分割光束(12)的衍射效率。
光学编码器

[发明专利]用于线性位移测量设备的安装工具-CN201710881363.4有效
发明人：菊池一志;乡间贵志 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2017-09-26 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：提供了一种用于线性位移测量设备的安装工具，其能够减小标尺壳体箱的热应力，并且是可拆卸的，同时具有简单的结构。安装工具包括柱形衬套，其插入在标尺壳体箱中钻出的通孔中；O形环，置入通孔的内壁和衬套之间；安装螺钉，插入衬套的柱形孔中，并拧入安装面中；以及板簧，布置在安装螺钉的头部和标尺壳体箱的外面之间，并朝向安装面偏置标尺壳体箱。
用于线性位移测量设备安装工具

[发明专利]X射线测量装置的校准方法-CN202110724806.5在审
发明人：今正人;真家洋武;佐佐木诚治;宫仓常太 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线测量装置的校准方法，包括以下工序：载置工序，将校准治具载置于旋转台；特征位置计算工序，向校准治具照射X射线，根据X射线图像检测器的输出来确定重心位置；变换矩阵计算工序，根据重心位置和已知的相对位置间隔，来计算投影变换矩阵；旋转检测工序，使旋转台以规定角度旋转2次以上，重复进行特征位置计算工序和变换矩阵计算工序；以及中心位置计算工序，基于投影变换矩阵来计算旋转台的旋转中心位置。由此，能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
射线测量装置校准方法

[发明专利]电流控制装置和激光器装置-CN201710501990.0有效
发明人：大关衡和;松浦敏晋 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2017-06-27 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： H01S5/042 文献下载
摘要：本发明涉及一种电流控制装置和激光器装置。该电流控制装置向半导体激光器供给电流以使该半导体激光器输出激光，并且包括电流指令器和供给器。所述电流指令器通过随着时间的经过增加与电流值相对应的指令值、直到达到与用以输出具有预定强度的激光的电流值相对应的目标指令值为止，来输出指令值。所述供给器将具有与电流指令器所输出的指令值相对应的大小的电流供给至半导体激光器。
电流控制装置激光器

[发明专利]图像拾取装置、光学测量装置及测量系统-CN201810595166.0有效
发明人：加藤隆介;森内荣介 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2018-06-11 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了图像拾取装置、光学测量装置及测量系统。能够提高光学测量装置的测量精度和测量可作业性的图像拾取装置、包括该图像拾取装置的光学测量装置以及测量系统。根据本发明一方面的图像拾取装置包括基部、分束器和图像拾取部。所述基部配置成可拆卸地附接到光学测量装置，所述光学测量装置包括配置成将对象的图像投影在屏幕上的投影光学系统。所述分束器在所述基部附接到所述光学测量装置时设置在所述投影光学系统的光轴上。所述图像拾取部包括配置为接收通过在所述分束器处分裂而产生的光的图像拾取设备，并且配置为在附接所述基部时拍摄对象的图像。
图像拾取装置光学测量系统

[发明专利]用于指示测量装置探针位置的感应位置检测配置-CN201911058456.2有效
发明人： C.R.汉纳;T.S.库克;S.A.哈希拉;日高和彦 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2019-11-01 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01B7/008 文献下载
摘要：用于扫描探头中的探针位置测量的感应式位置检测器(IPD)，其包括沿着中心轴线定位在探头中的线圈板配置，运动体积在线圈板配置的相对侧上延伸。线圈板配置包括N个顶部旋转感测线圈(RSCs)和顶部轴向感测线圈配置(ASCC)，以及N个底部RSC和底部ASCC。一对探针联接的导电扰动器在运动体积中沿Z(轴向)和X‑Y(旋转)方向移动。线圈板配置的产生线圈(GC)产生变化的磁通量(例如，包含所有或至少一部分扰动器)，并且线圈信号指示扰动器和/或探针位置。在一些实施方式中，导线扰动器的面积可以大于产生线圈的面积，且导电扰动器可以各自包括多个同心的导电回路、螺旋线等。
用于指示测量装置探针位置感应检测配置

[发明专利]指示用于训练的缺陷图像的数目的工件检查和缺陷检测系统-CN202110640878.1在审
发明人： W.T.沃森;S.R.坎贝尔;R.K.布瑞尔 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种工件检查和缺陷检测系统包括：光源；透镜，所述透镜输入由工件的表面引起的图像光；以及相机，所述相机接收沿着成像光路透射的成像光。所述系统利用用所述相机获取的工件的图像作为训练图像来训练缺陷检测部分以检测包括具有缺陷的工件的缺陷图像，并且确定如用所述训练图像所训练的所述缺陷检测部分的性能。基于所述缺陷检测部分的性能，提供关于是否应该提供附加缺陷图像以用于训练的指示。在训练完成之后，利用所述相机来获取工件的新图像，所述新图像被分析以确定包括具有缺陷的工件的缺陷图像，并且对于所述新图像可执行附加操作(例如，用于测量所述缺陷的尺寸的量测操作等)。
指示用于训练缺陷图像目的工件检查检测系统

[发明专利]包括监视工件图像的工件检查和缺陷检测系统-CN202110646169.4在审
发明人： W.T.沃森;R.K.布瑞尔;S.R.坎贝尔 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2021-06-10 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种工件检查和缺陷检测系统包括：光源；透镜，所述透镜输入由工件的表面引起的图像光；以及相机，所述相机接收沿着成像光路透射的成像光。所述系统利用用所述相机获取的工件的图像作为训练图像来训练缺陷检测部分以检测包括具有缺陷的工件的缺陷图像。基于所述训练图像的特征来确定异常检测器分类特性。用所述相机获取工件的运行模式图像，并且基于从所述图像中确定的特征，利用所述异常检测器分类特性来确定所述工件的图像是否被分类为异常的。另外，所述缺陷检测部分确定图像是否是包括具有缺陷的工件的缺陷图像，并且对其可执行附加操作(例如，用于测量所述缺陷的尺寸的量测操作等)。
包括监视工件图像检查缺陷检测系统

[发明专利]用于过滤测量数据集的方法和计算机程序产品-CN202110734429.3在审
发明人：蒂尔马丁·布鲁克多夫 -专利权人： 株式会社三丰;三丰欧洲有限责任公司
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于过滤测量数据集的方法和计算机程序产品，数据集能够用于指定和/或验证工件(100)的内部特征(10)，所述方法包括：提供包括所述内部特征(10)的多个测量点(P)的测量数据集；提供表示对所述工件(100)的内部特征(10)的理想估计的辅助特征(30)；关于所述辅助特征的边界元素对所述测量数据集的各测量点(P)进行镜像，由此生成包括多个第一修改测量点(P’)的第一修改数据集；确定第一修改测量点(P’)的凸包(H)，并将所述第一修改测量点(P’)投影到所确定的凸包(H)，由此生成包括多个第二修改测量点(P”)的第二修改数据集；以及关于辅助特征(30)的边界元素对各第二修改测量点(P”)进行镜像，由此生成包括多个过滤后的测量点(P”’)的过滤后的测量数据集。
用于过滤测量数据方法计算机程序产品

[发明专利]利用机器视觉检查系统测量工件表面的Z高度值的方法-CN201911256393.1有效
发明人： J.D.托比亚森 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2019-12-10 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种利用机器视觉检查系统来测量工件表面的Z高度值的方法，包括：利用结构化光照射工件表面，收集工件的图像的至少两个堆栈，每个堆栈包括在每个堆栈中对应的Z高度处的、结构化光和工件表面之间的不同X‑Y位置，以及基于与在X‑Y平面中的相同工件位置相对应且处于相同Z高度的像素的强度值的集合来确定Z值。在图像的每个堆栈中，以比Z高度慢的速率改变X‑Y位置，并且X‑Y位置或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间以比Z移位慢的速率连续改变，或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间固定为不同的值。
利用机器视觉检查系统测量工件表面高度方法

[发明专利]光学位移计、光学位移计调节方法、和光学位移测量方法-CN201810170654.7有效
发明人：田村谦太郎;山县正意 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2018-03-01 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：提供了一种能够相对于光接收量需要测量的区域扩大输出信号区域的光学位移计，一种用于调节光学位移计的方法和一种光学位移测量方法。该光学位移计包括光接收元件，在光接收元件中，相对于边界值Ua设定输出信号的最大值Vx，边界值Ua是光接收量需要测量的区域的最大值。光接收元件的输出信号V的整个区域可以被分配到有效区域Aa，所述有效区域是需要使用光学位移计测量光接收量的区域，并且光学位移计可以具有相对于需要测量光接收量的区域的扩大的输出信号区域。
光学位移调节方法测量方法

[发明专利]信息处理装置和信息处理方法-CN201710107340.8有效
发明人：工藤雄治 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2017-02-27 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种信息处理装置和信息处理方法。该信息处理装置包括：输入单元，向该输入单元中输入包括多个凹窝的待测表面的形状数据；以及设置单元，该设置单元根据输入的形状数据检测多个凹窝之中的每一个，并且对于检测到的凹窝设置包括凹窝的待去除区域。
信息处理装置方法

[外观设计]图像测量机-CN202130456343.X有效
发明人：岩元贤司;菅野良平;服部淳;安野顺介;井村隆治 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： 10-04 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：图像测量机。2.本外观设计产品的用途：用于拍摄被测量物品的测量部位的图像，从该图像测量被测量物品的长度等。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：主视图。
图像测量

[发明专利]刻度尺及其制造方法-CN202110254533.2在审
发明人：青木敏彦;三宅耕作 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2021-03-05 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供能够改善可靠性的刻度尺及其制造方法。一种刻度尺，其特征在于，具备：基板；Ni的金属层，其形成在前述基板的一个主面上；以及刻度光栅，其形成在前述金属层上、以规定的间隔配置有多个Cr光栅。
刻度尺及其制造方法

[发明专利]可变焦距透镜装置和可变焦距透镜控制方法-CN201810396310.8有效
发明人：伊贺崎史朗;大庭信男;久保光司;大竹贵久 -专利权人： 株式会社三丰
申请日： 2018-04-27 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G02B3/14 文献下载
摘要：本发明的可变焦距透镜装置(1)具有：折射率根据输入的驱动信号(Cf)变化的透镜系统(3)；配置在与透镜系统(3)相同的光轴上的物镜；通过透镜系统(3)和物镜来检测测量对象物的图像的图像检测单元(4)；使驱动信号(Cf)跟随透镜系统(3)的谐振频率的谐振锁定控制单元(611)；以及切换谐振锁定控制单元(611)的动作或停止的谐振锁定操作单元(711)。
可变焦距透镜装置控制方法