|
|
钻瓜专利网为您找到相关结果 944个，建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]感应式位置编码器的感测绕组配置-CN202111680212.5在审
-
T.S.库克
-
株式会社三丰
-
2021-12-30
-
2022-07-01
-
G01D5/244
- 一种感应式位置编码器包括标尺、检测器和信号处理器。标尺包括沿测量轴(MA)布置的具有空间波长W1的信号调制元件(SME)的周期性图案。检测器包括感测元件和生成变化磁通量的场生成线圈。感测元件包括导电回路，所述导电回路响应于对相邻SME提供的变化磁通量的局部影响而提供检测器信号。导电回路中的一些或全部根据回路内移位关系配置，其中回路的相等“移位比例”在相反方向上移位W1/4K。K为奇整数。回路内移位关系可用以抑制检测器信号中的K次空间谐波分量，同时还克服长期存在的不利布局问题。所述回路内移位关系与滤除其他空间谐波信号分量的“回路宽度”空间滤波技术轻松组合。
- 感应位置编码器绕组配置
- [发明专利]感应式位置编码器的感测绕组配置-CN202111527305.4在审
-
T.S.库克
-
株式会社三丰
-
2021-12-14
-
2022-07-01
-
G01D5/22
- 一种感应型位置编码器包含标尺、检测器部分和信号处理器。所述标尺包含沿测量轴布置的具有空间波长W1的信号调制元件(SME)的周期性图案。所述图案中的SME包括类似的导电板或回路。所述检测器部分包括感测元件和生成变化磁通量的场生成线圈。所述感测元件可以包括沿所述测量轴布置并被配置成提供检测器信号的导电回路部分，所述检测器信号响应于对由相邻SME提供的所述变化磁通量的局部影响。在各个实施方案中，沿所述测量轴方向的平均尺寸DSME为至少.55*W1且至多0.8*W1的SME与所述沿测量轴方向的平均尺寸为至少0.285*W1且至多0.315*W1的感测元件组合，这会提高检测器信号精度。
- 感应位置编码器绕组配置
- [发明专利]用于测量工件厚度的色度范围传感器系统-CN202111540823.X在审
-
N.拉曼
-
株式会社三丰
-
2021-12-16
-
2022-06-21
-
G01B11/06
- 提供了一种色度范围传感器(CRS)系统，所述CRS确定工件厚度并且包含光学笔、照明源、波长检测器和处理部分。所述光学笔包含提供轴向色度色散的光学器件部分，所述照明源被配置成产生多波长光，并且所述波长检测器包含沿测量轴分布的多个像素。在操作中，所述光学笔输入来自所述照明源的光谱并将对应的辐射输出到工件(例如，所述工件可以是透明的)的第一工件表面和第二工件表面，并且将所反射辐射输出到提供输出光谱数据的所述波长检测器。所述处理部分对所述输出光谱数据进行处理以确定所述工件的厚度。在各个实施方案中，所述用于确定所述厚度的处理可以不依赖于确定到所述工件的距离和/或可以利用变换处理等。
- 用于测量工件厚度色度范围传感器系统
- [发明专利]旋转工作台和圆度测量机-CN201910312913.X有效
-
境久嘉;安野顺介;渡边亮介
-
株式会社三丰
-
2019-04-18
-
2022-06-21
-
G01B21/20
- 本发明提供旋转工作台和圆度测量机，其测量时的衰减性能较高且能够减小定心调整时的滑动阻力。旋转工作台包括：旋转盘(23)，其能够绕铅垂的旋转轴线(Ct)旋转；轴承构件(定子(21))，其将旋转盘支承为旋转自如；滑动盘(71)，其能够在旋转盘的上表面滑动；位置调整机构(74)，其用于使滑动盘沿着旋转盘的上表面位移；载物盘(73)，其支承于滑动盘；多个空气喷嘴(232)，其以旋转轴线为中心地呈圆环状配置于定子的上表面，用于在定子的上表面和旋转盘的下表面之间形成静压空气膜(231)；静压腔(714)，其形成在旋转盘的上表面和滑动盘的下表面之间；以及连通孔(235)，其形成于旋转盘，用于将静压空气膜的压力向静压腔导入。
- 旋转工作台测量
- [发明专利]倾斜度调整机构-CN201811329747.6有效
-
佐野秀和;冈部宪嗣
-
株式会社三丰
-
2018-11-09
-
2022-06-17
-
G02B7/02
- 一种倾斜度调整机构，包括第一构件，该第一构件可附接到可连接到镜筒的透镜单元的连接部分；第二构件，其面向第一构件并且可附接到可连接到透镜单元的镜筒的连接部分；固定到第一构件的接触构件，其从第一构件朝向第二构件突出，并且接触第二构件；以及调整/固定构件，其能够调整第一构件相对于第二构件的倾斜度并且能够将第一构件固定到第二构件。第二构件具有与接触构件接触的倾斜表面，并且每个接触构件具有与倾斜表面接触的弯曲表面。
- 倾斜度调整机构
- [发明专利]电磁感应编码器-CN201910374383.1有效
-
加藤庆显
-
株式会社三丰
-
2019-05-07
-
2022-06-14
-
G01D5/245
- 提供了一种电磁感应编码器，其允许减小标尺上的轨道的数目，以减小标尺的尺寸。电磁感应编码器包括具有标尺图案的标尺、头部和计算单元。头部包括发送单元和接收单元，发送单元包括发送线圈，接收单元包括接收线圈。标尺图案具有第一图案和第二图案，第一图案使得接收线圈接收正电流，第二图案使得接收线圈接收负电流。计算单元包括：确定单元，其当检测到正电流时确定电流与第一图案相关联，并且当检测到负电流时确定电流与第二图案相关联；信号生成单元，其基于确定的结果生成由表示第一图案的“1”和表示第二图案的“0”形成的信号；以及位置计算单元，其基于由信号生成单元生成的信号计算头部的位置。
- 电磁感应编码器
- [发明专利]测量系统和程序-CN202111418217.0在审
-
浅水隆考;清水政明
-
株式会社三丰
-
2021-11-26
-
2022-06-07
-
G01B11/30
- 本发明提供便于对测量仪器设置测量条件并抑制测量误差或测量故障的测量系统和程序。测量系统包括：测量对象信息数据库，用于将测量点信息与测量对象的类型相关联地存储，测量点信息包括各个测量点的测量条件和引导信息；测量仪器，用于对测量对象进行测量；摄像单元，用于拍摄被摄体的图像；显示单元；测量对象识别单元，用于基于摄像单元所拍摄的图像来识别测量对象的类型；测量对象信息获得单元，用于从测量对象信息数据库获得与测量对象识别单元所识别的测量对象的类型相对应的测量点信息；以及设置单元，用于将测量对象信息获得单元所获得的测量点信息中包括的引导信息显示在显示单元上，并在测量仪器上设置测量点信息中包括的测量条件。
- 测量系统程序
- [发明专利]光电式编码器-CN201610814843.4有效
-
小野林季
-
株式会社三丰
-
2016-09-09
-
2022-06-07
-
G01B11/00
- 本发明的光电式编码器包括：标尺，其包括栅格刻度；发光部，其朝向所述标尺照射光；受光部，其检测所述标尺的栅格刻度的像；和远心光学单元，其设置在所述标尺与所述受光部之间并在所述受光部上形成所述栅格刻度的像，其中，所述远心光学单元包括：第一光学元件，其布置成靠近所述标尺；第二光学元件，其布置成比所述第一光学元件靠近所述受光部并布置成在所述第二光学元件与所述第一光学元件之间形成有间隙；和光圈，其设置于所述第一光学元件的靠近所述第二光学元件的面和所述第二光学元件的靠近所述第一光学元件的面中的至少一者。
- 光电编码器
- [发明专利]表面基准检测机构以及硬度试验机-CN202111441576.8在审
-
川久保裕
-
株式会社三丰
-
2021-11-30
-
2022-06-03
-
G01N3/42
- 提供一种表面基准检测机构以及硬度试验机，能够改善与试样的表面接触的压头基准部的更换作业。具有：压头基准部，其与比压头靠近轴向一方侧配置的试样的轴向另一方侧面抵接而成为所述压头的位置基准；保持部，其对所述压头基准部能够拆装地进行保持，并且与所述压头基准部连动；压头位置检测部，其与所述保持部连动，并且对所述压头相对于所述压头基准部的相对位置进行检测；限制部，其能够在对所述压头基准部相对于所述保持部的动作进行限制的第一位置与能够将所述压头基准部从所述保持部拆下的第二位置之间移动；施力部，其以使所述限制部停留在所述第一位置的方式进行施力；通过施加克服所述施力部的作用力的外力来解除所述施力部的施力，使所述限制部能够移动至所述第二位置。
- 表面基准检测机构以及硬度试验
- [发明专利]光电旋转编码器-CN202111443635.5在审
-
加藤庆显;水谷都
-
株式会社三丰
-
2021-11-30
-
2022-06-03
-
G01D5/347
- 提供了一种光电旋转编码器，其中在采用三格栅原理的同时可以保持检测精度。光电旋转编码器1包括：大致盘状的标尺2，其具有沿着测量方向以预定周期形成的格栅状图案20，测量方向是在预定轴线上旋转的测量目标的旋转方向，标尺是板状的并且以旋转轴线为中心；以及头部3，其从标尺2检测由测量目标的旋转引起的位移量。头部3包括光源4、具有多个格栅部分50的衍射单元5和具有多个光接收元件60的光接收单元6。衍射单元5的多个格栅部分50形成为多个变形格栅部分，其沿着标尺2的格栅状图案20从旋转轴线的中心向外宽展。多个光接收元件60形成为多个线性格栅部分，其从标尺2的旋转轴线上的中心沿着正交于径向方向的正交方向具有预定周期。
- 光电旋转编码器
|
