专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件-CN202180036264.0在审
  • 福岛圣;蟹谷裕也;柳田将志 - 索尼集团公司;索尼半导体解决方案公司
  • 2021-04-16 - 2023-01-31 - H01L29/812
  • 一种半导体器件,其具备:包含第一氮化物半导体的势垒层;沟道层,包含第二氮化物半导体,同时在第一表面处与势垒层结合;包含n型氮化物半导体的再生长层,同时设置在从势垒层的第二表面延伸到深度比势垒层和沟道层之间的界面更深的区域中,所述第二表面在第一表面的反面;包含氮捕捉元素的空孔形成区域,同时设置在再生长层的区域中,所述区域位于比势垒层和沟道层之间的界面浅的深度处;源极或漏极,设置在再生长层上。
  • 半导体器件
  • [发明专利]半导体器件和电子装置-CN201410069182.8有效
  • 柳田将志;兼松成 - 索尼公司
  • 2014-02-27 - 2017-09-22 - H01L29/778
  • 本发明涉及半导体器件和包括该半导体器件的电子装置。所述半导体器件包括器件区域,其具有包括沟道部的半导体层;器件周边区域,其邻接所述器件区域;栅极电极,其设置在所述器件区域内,且具有跨越所述器件区域和所述器件周边区域的边界部;导电层,其设置在所述栅极电极与所述半导体层之间;和绝缘层,其设置在所述半导体层与位于所述边界部处的所述栅极电极之间。根据本发明,能够减小将会在绝缘层内生成的寄生成分的影响从而提高性能。
  • 半导体器件电子装置
  • [发明专利]二极管及制造二极管的方法-CN201310367436.X在审
  • 兼松成;柳田将志 - 索尼公司
  • 2013-08-21 - 2014-03-26 - H01L29/861
  • 本发明涉及二极管及其制造方法。所述二极管包括:第一半导体层,由包含第一导电型杂质的化合物半导体构成;高位错密度区域;第二半导体层,层叠于所述第一半导体层上,并在与所述第一半导体层的界面侧区域中具有低于所述第一半导体层的杂质浓度,所述第二半导体层具有开口,所述开口中对应于所述高位错密度区域的部分被移除;绝缘膜图案,被设置成覆盖所述开口的内壁;电极,被设置成覆盖所述绝缘膜图案并接触所述第二半导体层;以及对向电极,被设置成使得所述第一半导体层、所述第二半导体层及所述绝缘膜图案被夹持在所述电极与所述对向电极之间。根据本发明,能够安全地防止由化合物半导体构成的半导体层中的经由穿透位错区域出现的漏电流。
  • 二极管制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法、固体摄像器件和固体摄像装置-CN201010566844.4有效
  • 柳田将志 - 索尼公司
  • 2010-11-19 - 2011-06-15 - H01L21/265
  • 本发明提供了一种半导体器件及其制造方法、固体摄像器件和固体摄像装置,其中所述半导体器件的制造方法包括以下步骤:在半导体基板的表面上的绝缘层上形成晶体管的栅极;通过将第一导电类型的杂质离子注入半导体基板中而形成隔离区;在晶体管的栅极的上层上形成包括比栅极的宽度窄的开口部的掩模图案之后,通过使用该掩模图案作为掩模,在半导体基板的表面附近进行第二导电类型的杂质的离子注入,形成轻掺杂漏极区;以及在形成晶体管的栅极之后,通过将第二导电类型的杂质的离子注入至半导体基板中,形成晶体管的源极区和漏极区。本发明可避免形成漏电流路径,并且可避免晶体管短路以及晶体管的阈值电压下降。
  • 半导体器件及其制造方法固体摄像器件装置

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