专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测距装置以及测距方法-CN201910762966.1有效
  • 松井优贵;中室健;F·扎帕;F·维拉;R·卢萨纳 - 欧姆龙株式会社;米兰理工大学
  • 2019-08-19 - 2023-08-25 - G01S17/10
  • 测距装置以及测距方法。具体地,所述测距装置包括:光发射部,其被配置成发射光;光接收部,其被配置成接收由所述光发射部发射并被测量对象反射的测量光,所述光接收部包括多个像素,各个像素具有至少一个光接收部并且被配置成输出取决于入射在所述像素上的所述测量光的光接收信号;区分部,其被配置成区分所述像素是否接收到测量光;像素输出控制部,其被配置成根据所述区分部的确定结果单独地选择性地输出各个像素的光接收信号;以及评估部,其被配置成接收由所述像素输出控制部输出的光接收信号并基于这些光接收信号来输出表示所述测量装置与所述测量对象之间的距离的距离信号。
  • 测距装置以及方法
  • [发明专利]光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器-CN201980016793.7有效
  • 堀野昌伸;松井优贵;中室健;仲田佐幸 - 欧姆龙株式会社
  • 2019-03-08 - 2023-06-20 - G01S7/487
  • 光检测装置(1)根据检测开始定时而检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a~10c)、信号合成电路(13)、检测电路(14)、时间计测电路(4)和定时提取电路(3)。多个受光元件接收光,分别生成表示受光结果的输出信号。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计,从而生成合成信号。检测电路检测合成信号达到第1阈值(V1)以上的定时,从而生成检测信号。时间计测电路根据检测信号,计测检测开始定时与检测出的定时之间的测量期间。定时提取电路在以检测出的定时为基准的预定期间内,提取表示合成信号增加的定时的定时信息(D3)。
  • 检测装置方法光学测距传感器
  • [发明专利]共聚焦计测装置-CN201310226389.7有效
  • 松井优贵;藤原直树;菅孝博 - 欧姆龙株式会社
  • 2013-06-07 - 2017-07-18 - G01B11/02
  • 本发明提供一种能够达到高计测精度的共聚焦计测装置。共聚焦计测装置(101)具有光源(21),其出射多个波长的光;衍射透镜(1),其使来自光源(21)的光产生色像差;物镜(2),其将产生了色像差的光聚集到计测对象物(200);针孔(光纤(11)),其使聚焦的光通过;测定部(光谱仪(23)及摄像元件(24)),其针对不同的波长测定光的强度。衍射透镜(1)具有形成有用于产生色像差的衍射图案的衍射面(1a)和位于衍射面(1a)的相反一侧的平面(1b)。在衍射透镜(1)的平面(1b)配置有以衍射透镜(1)的光轴(X)为中心的圆形的遮光膜(4)。
  • 聚焦装置
  • [发明专利]共聚焦测量装置-CN201380073008.4在审
  • 荒川正行;松井优贵;早川雅之;太田润 - 欧姆龙株式会社
  • 2013-11-14 - 2015-10-21 - G01B11/00
  • 本发明提供利用共聚焦光学系统来多点测量测量对象物(200)的位移的共聚焦测量装置(100)。共聚焦测量装置(100)具有:光源(21)、头部(10)、分光器(23)以及摄像元件(24)。共聚焦测量装置(100),利用多个头部(10)将产生轴向色差的光照射至测量对象物(200),并使聚焦于测量对象物(200)的光通过,再利用分叉光纤以及光纤(11)使通过多个头部(10)的光入射至一个分光器(23)。进一步地,共聚焦测量装置(100)利用沿着分光部的分光方向一维排列构成的摄像元件(24),来接收分离出的光,利用控制电路部(25)根据摄像元件(24)所接收的光来求出与多个头部(10)的每一个对应的峰波长。
  • 聚焦测量装置
  • [发明专利]位移测量方法以及位移测量装置-CN201380059806.1在审
  • 松井优贵;菅孝博;泷政宏章 - 欧姆龙株式会社
  • 2013-11-14 - 2015-07-22 - G01B11/00
  • 本发明提供一种作为位移测量装置的共焦点测量装置(100)。该共焦点测量装置(100)具有:白色LED(21),出射多个波长的光;头部(10),以衍射透镜(2)、物镜(3)、开口作为共焦点光学系统而构成;移动机构(40),使头部(10)沿着共焦点测量装置(100)的测量轴(Z轴)方向移动;测量部(控制器部(20))。共焦点测量装置(100)使头部(10)与测量对象物(200)之间的距离变化,来取得通过开口的光的光谱的极大点。共焦点测量装置(100)将该极大点成为分光反射特性的极大点或者极小点时的距离,设定为当测量位移时的头部(10)与测量对象物之间的基准距离。
  • 位移测量方法以及测量装置
  • [发明专利]光学计测装置-CN201280057337.5有效
  • 山川慎介;的场贤一;松井优贵;嶋田浩二 - 欧姆龙株式会社
  • 2012-09-12 - 2014-08-13 - G01B11/00
  • 在本发明的光学计测装置中,利用光对计测对象物(200)进行计测,具有头部(10)、控制部(20)、光纤(11)、存储部(40)。在本发明的光学计测装置中,光纤(11)连接头部(10)和控制部(20)。存储部(40)分别与所制造的头部(10)的各个体相关联,存储由控制部(20)进行运算所需的信息,来作为头部(10)的个体信息。控制部(20),从相对于控制部(20)而在物理上独立存在的存储部(40、41)中读取个体信息,利用所读取的个体信息进行运算。
  • 光学装置
  • [发明专利]面光源装置-CN200580004968.0有效
  • 松井优贵;船本昭宏;青山茂;广田和英;篠原正幸 - 欧姆龙株式会社
  • 2005-02-18 - 2007-02-21 - F21V8/00
  • 本发明提供面光源装置。在本发明中,与导光板(22)的光入射面(23)对置地配置光源(21)。从光源(21)射出的光在导光板(22)内引导。在导光板(22)的下表面形成有凹图案状的偏转图案(25),在朝向偏转图案(25)的光源侧的倾斜面即光反射部(25a)和平坦部(28)之间设有指向性变换部(30)。指向性变换部(30)起到提高入射到光反射部(25a)的光的指向性的作用,由此提高从光出射面(24)射出的光的指向性。作为指向性变换部(30),是不向光反射部(25a)反射例如将被光反射部(25a)反射后相对于光射出面(24)的垂线以较大角度倾斜地射出的光。
  • 光源装置
  • [发明专利]面光源装置-CN200610108319.1无效
  • 中村惠子;松井优贵;船本昭宏;青山茂;樱井显治 - 欧姆龙株式会社
  • 2006-08-01 - 2007-02-07 - G02F1/13357
  • 本发明提供不增加面光源装置的厚度而从任何方向观看都难以产生亮度不均的面光源装置。导光板的背面(图案)面上配置了多个大致圆弧状的光偏转图案(37),可以得到控制了视场角的、没有不均的明亮且清晰的图像。从光源入射的光的估计角大的位置(A)的光偏转图案(37)弯曲程度变小,从光源入射的光的估计角小的位置(B)的光偏转图案(37)弯曲程度变大。光以小的估计角(ξA)入射的光偏转图案(37)中,由于其弯曲程度大而将反射光扩展得较大,所以被光偏转图案(37)反射并从导光板的出射面射出的光的指向特性变宽。这样,根据离光源的相对位置来变换光偏转图案的弯曲程度,从而在导光板的整体,将出射光的指向特性调节为大致均匀。
  • 光源装置
  • [发明专利]面光源装置及显示装置-CN200410083420.7无效
  • 松井优贵;船本昭宏;青山茂 - 欧姆龙株式会社
  • 2004-10-08 - 2005-04-13 - G02F1/1335
  • 本发明提供一种面光源装置及显示装置,在导光板的光射出面上具有防止反射用的细微凹凸的前照灯中,提供一种抑制该凹凸引起的衍射光的产生的单元。该前照灯具有光源和导光板,该导光板传导来自所述光源的光,把光从位于与观察侧的面相反的一侧的光射出面射出,其中,在所述光射出面上形成由防止反射用的细微凹凸(30)构成的防止反射用图案。设从光源24射出的光中、波长最短的可视光的波长为λmin、导光板的折射率为n1、空气的折射率为n0,则细微凹凸(30)的周期p满足下式:p<λmin/(n0+n1)由此,可防止从导光板的防止反射用图案(光射出面)射出衍射光。
  • 光源装置显示装置

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