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- [发明专利]半导体装置-CN201810011510.7有效
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廖文甲;刘滢溱;江承庭
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台达电子工业股份有限公司
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2018-01-05
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2022-03-18
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H01L29/778
- 一种半导体装置包含主动层、源极电极、漏极电极、栅极电极、源极垫、漏极垫与至少一源极外部连接元件。源极电极、漏极电极与栅极电极置于主动层的主动区上。源极垫电性连接至源极电极,并包含本体部、多个分支部与至少一电流分散部。本体部至少部分置于主动区并沿着第一方向延伸。分支部沿着第二方向延伸,第二方向不同于第一方向。电流分散部连接本体部与分支部,并沿着第一方向延伸。电流分散部的宽度大于任一分支部的宽度且小于本体部的一半宽度。漏极垫电性连接至漏极电极。源极外部连接元件置于本体部上且与电流分散部分开。
- 半导体装置
- [发明专利]半导体装置-CN201911147883.8在审
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廖文甲
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台达电子工业股份有限公司
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2015-05-26
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2020-02-28
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H01L29/423
- 本发明提供一种半导体装置。该半导体装置包含基板、沟道层、间隔层、阻挡层、氧化披覆层、源极与漏极、栅极以及保护层。沟道层置于基板上或上方并具有二维电子气通道。间隔层置于沟道层上。阻挡层置于间隔层上。氧化披覆层置于阻挡层上,材质为氮氧化物。源极与漏极置于阻挡层上或上方。栅极至少置于氧化披覆层上或上方并位于源极与漏极之间。保护层置于氧化披覆层上。本发明的半导体装置中,披覆层的缺陷可减少,因此披覆层的表面为平坦表面,更进一步地,氧化工艺可将披覆层去极化,如此一来,氧化披覆层的缺陷可进一步地被减少,再加上,因氧化披覆层被去极化,因此其表面为平坦表面,成长于氧化披覆层上的其他层的品质也可被改善。
- 半导体装置
- [发明专利]半导体装置-CN201510430964.4有效
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廖文甲
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台达电子工业股份有限公司
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2015-07-21
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2019-12-31
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H01L29/778
- 本发明实施例公开了一种半导体装置包含基板、主动层、晶体管与电容。主动层置于基板上。主动层区隔出第一部分与第二部分。晶体管包含主动层的第一部分、源极、漏极与栅极。源极与漏极分别电性连接第一部分。栅极置于第一部分上并置于源极与漏极之间。电容包含主动层的第二部分、第一电极、第一绝缘层与第二电极。第一电极电性连接第二部分与晶体管的源极。第一绝缘层置于第二部分上。第二电极置于第一绝缘层上并电性连接晶体管的栅极。本发明实施例的技术方案通过电容以增加晶体管的栅极‑源极电容,从而降低半导体装置的米勒比例,使半导体装置的操作状态更佳,较容易实现高频工作,且可最小化击穿电流值。
- 半导体装置
- [发明专利]半导体装置-CN201510341383.3有效
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廖文甲
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台达电子工业股份有限公司
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2015-06-18
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2019-07-19
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H01L29/78
- 一种半导体装置包含基板、有源层、源极、漏极、栅极、第一金属层与第二金属层。有源层置于基板上。源极与漏极分别电性连接有源层。栅极置于有源层上并置于源极与漏极之间。栅极具有第一延伸部,往漏极延伸。第一金属层部分置于栅极的第一延伸部与有源层之间,并往漏极延伸,使得另一部分的第一金属层突出于第一延伸部。第一金属层与源极电性连接。第二金属层置于栅极的第一延伸部上方,并往漏极延伸,使得另一部分的第二金属层突出于第一延伸部。第二金属层与源极电性连接。本发明的半导体装置通过增加栅极与源极之间的电容值,以降低半导体装置的米勒因子。
- 半导体装置
- [发明专利]半导体装置封装体-CN201410161971.4有效
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林立凡;廖文甲
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台达电子工业股份有限公司
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2014-04-21
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2017-12-08
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H01L23/485
- 一种半导体装置封装体包含基板、晶体管与导线架。晶体管置于基板上。晶体管包含有源层、至少一源极、至少一漏极、至少一栅极、第一绝缘层、第一源极垫、第一漏极垫、至少一源极插塞与至少一漏极插塞。源极、漏极皆位于有源层上。源极与漏极在有源层上的正投影分别形成源极区域与漏极区域。第一绝缘层至少覆盖部分源极与部分漏极。第一源极垫位于第一绝缘层上,且第一源极垫在有源层上的正投影形成源极垫区域。源极垫区域与漏极区域至少部分重叠。第一漏极垫位于第一绝缘层上。导线架置于基板相对晶体管的一侧,且电性连接栅极。
- 半导体装置封装
- [发明专利]半导体装置-CN201310410699.4有效
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林立凡;廖文甲
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台达电子工业股份有限公司
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2013-09-10
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2017-03-01
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H01L29/417
- 一种半导体装置包括有源层、至少一源极、至少一漏极、至少一栅极、第一绝缘层、第一源极垫、第一漏极垫、至少一源极插塞与至少一漏极插塞。源极与漏极皆位于有源层上,且源极与漏极在有源层上的正投影分别形成源极区域与漏极区域。第一绝缘层至少覆盖部分源极与部分漏极。第一源极垫与第一漏极垫皆位于第一绝缘层上,且第一源极垫在有源层上的正投影形成源极垫区域。源极垫区域与漏极区域至少部分重叠,且源极垫区域与漏极区域形成的重叠面积小于或等于40%的漏极区域的面积。
- 半导体装置
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