专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种SiC金属氧化物半导体场效应晶体管芯片-CN202010507601.7有效
  • 许海东;谌容;王曦 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2020-06-05 - 2021-04-09 - H01L29/78
  • 本发明公开了一种SiC金属氧化物半导体场效应晶体管芯片,包括漂移区,所述漂移区设置于所述晶体管内;电流扩展区,所述电流扩展区设置于所述漂移区上方,杂质浓度自所述电流扩展区与所述漂移区的界面至所述电流扩展区的上表面呈梯度递减规律分布;p阱区,各所述p阱区被包裹设置于所述电流扩展区的上表面,且依次间距递增规律嵌于所述电流扩展区中使电流密度分布由芯片中央至边缘呈非均匀分布规律。本发明的有益效果:一是通过设置相邻p阱区之间的间距递增规律使电流密度分布由芯片中央至边缘呈非均匀分布规律,优化芯片不同区域的热分布,实现了芯片的温度性能的提升。
  • 一种sic金属氧化物半导体场效应晶体管芯片
  • [实用新型]一种SiC MOSFET模块陶瓷覆铜板结构-CN202021151093.5有效
  • 谌容 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2020-06-19 - 2021-02-05 - H01L25/16
  • 本实用新型公开一种SiC MOSFET模块陶瓷覆铜板结构,包括底板、上桥臂、下桥臂、连桥、铝线,底板中部垂直交叉均匀设有多个焊接区域,上桥臂包括同侧设立的第一覆铜陶瓷基板、第三覆铜陶瓷基板和设于底板边缘中上部的第六覆铜陶瓷基板且信号端外露,下桥臂包括设于另一侧的第二覆铜陶瓷基板、第四覆铜陶瓷基板和设于底板边缘中下部的第五覆铜陶瓷基板且信号端外露,第一覆铜陶瓷基板、第二覆铜陶瓷基板、第三覆铜陶瓷基板与第四覆铜陶瓷基板呈田字形均匀设于焊接区域上;每个覆铜陶瓷基板上均设有芯片焊接区和多个栅极电阻。本实用新型设计实现大功率模块,结构对称,触发路径一致,减少震荡和客户端故障率,实现均流且散热好。
  • 一种sicmosfet模块陶瓷铜板结构
  • [发明专利]一种用于防止ARM SHORT现象的逆变电路及方法-CN202010519479.5有效
  • 许海东;金暎柱;谌容 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2020-06-09 - 2020-12-15 - H02M7/5387
  • 本发明公开了一种用于防止ARM SHORT现象的逆变电路,包括半桥模块,所述半桥模块包括上桥臂、下桥臂以及设置在两者之间的钳位电路;所述上桥臂包括第一电压驱动型器件以及与其进行反并联的第一二极管;所述下桥臂包括第二电压驱动型器件以及第二二极管;所述钳位电路包括第三二极管;所述第二二极管的正极与所述第二电压驱动型器件的第二极连接,负极与所述半桥模块的二次侧连接;所述第三二极管的正极同时与半桥模块的二次侧以及第一电压驱动型器件的第二极进行连接;所述第三二极管的负极与第二电压驱动型器件的第三极连接,并与第一电压驱动型器件的第一极相短接以构成短路。本发明的逆变电路使得在各种应用电路中避免直通现象的发生。
  • 一种用于防止armshort现象电路方法
  • [发明专利]一种沟槽型IGBT器件及其制造方法-CN202010702279.3有效
  • 许海东 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2020-07-21 - 2020-12-01 - H01L29/739
  • 本发明公开了一种沟槽型IGBT器件及其制造方法,属于功率半导体器件技术领域,本发明的沟槽型IGBT器件设有两种不同深度的沟槽结构,两种沟槽结构按一定的优化规则排列,典型的排列规则为每两个相邻深沟槽结构之间有1~3个短沟槽结构。短沟槽内形成栅氧和多晶硅,短沟槽内多晶硅与栅极金属相连成为栅极多晶,深沟槽内同样形成栅氧和多晶硅。本发明通过短沟槽结构底部通过注入形成N型CS层,CS层分布稳定,能够获得具有很好的存储电荷效果,使得器件具有优良的正向导通特性;在深沟槽结构下进行了P型注入,有效增强了器件的耐压特性和EAS能力;制造时将高温制程移到深沟槽结构形成之前,能够有效改善晶圆翘曲,提高器件可靠性。
  • 一种沟槽igbt器件及其制造方法
  • [实用新型]一种高可靠性的TO系列封装结构-CN202020427853.4有效
  • 张梦彤;许海东 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2020-03-27 - 2020-09-04 - H01L23/495
  • 本实用新型提供一种高可靠性的TO系列封装结构,包括壳体,所述壳体内设置有引线框架,所述引线框架表面沿所述壳体内边缘开设有至少一条沟槽,所述引线框架从上至下分为散热部、芯片部和管脚,所述散热部配置有散热片,所述芯片部安装有两个芯片,每个所述芯片的上表面固定连接有连桥,两个所述连桥另一端分别连接至两侧所述管脚,实现所述芯片与所述管脚之间的电气连接,这一设计使得塑封料与引线框架之间密封性更好,连桥的焊接更加快速、精确和稳定;提高了生产效率,进一步增强了TO系列封装的可靠性。
  • 一种可靠性to系列封装结构
  • [发明专利]一种全桥电路及快恢复二极管-CN201710956912.X有效
  • 姜季均;陈飞;谌容;许海东 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2017-10-16 - 2020-07-10 - H01L25/07
  • 本发明涉及一种全桥电路及快恢复二极管,解决的是承受驱动电流小的技术问题,通过采用所述全桥电路包括陶瓷基板,陶瓷基板上设有覆铜微带与芯片,覆铜微带与芯片之间设有用于连接的铜质连桥,铜质连桥一端与芯片连接,另一端与覆铜微带连接,铜质连桥两端与芯片或覆铜微带接触处为引脚机构;所述铜质连桥未与对应芯片接触机构分为悬空机构,悬空机构与陶瓷基板间中空的技术方案,较好的解决了该问题,可用于半导体模块封装中。
  • 一种电路恢复二极管
  • [实用新型]一种新型TO系列分立器件-CN201921233076.3有效
  • 陈赵盼;许海东 - 南京晟芯半导体有限公司
  • 2019-07-31 - 2020-02-28 - H01L23/367
  • 本实用新型的一种新型TO系列分立器件,包括:散热框架、半导体芯片、塑封体和若干管脚,散热框架与塑封体形成容芯腔,半导体芯片位于容芯腔内,管脚一端与半导体芯片电性连接,另一端伸出容芯腔,其中塑封体上开设一盲孔,盲孔的底面为散热框架;本实用新型的一种新型TO系列分立器件有效的增大了散热框架的金属面积,能够更好的导出分立器件使用过程中半导体芯片产生的热量,从而能够减小半导体芯片的温升,降低损耗,进一步提高了分立器件的导热能力、承载芯片规格上限、可靠性及使用寿命。
  • 一种新型to系列分立器件

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