专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电路系统镇定性分析方法、装置、设备及存储介质-CN202111607408.1在审
  • 赵杰梅;张卓毅 - 武汉轻工大学
  • 2021-12-24 - 2022-05-17 - G06F30/30
  • 本发明属于电路分析技术领域,公开了一种电路系统镇定性分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取电路系统中的目标电流值、目标电阻值、目标电容值、目标忆阻值以及目标符号函数;根据上述各项值通过预设惯性忆阻神经网络电路模型进行计算,得到目标惯性忆阻神经网络电路模型;基于目标惯性忆阻神经网络电路模型对电路系统通过预设李雅普诺夫分析方法进行镇定性分析,得到镇定分析结果;根据镇定分析结果完成对电路系统的镇定性分析。通过上述方式,利用预设惯性忆阻神经网络模型和预设李雅普诺夫分析方法不仅可以完成电路系统中存在有界时滞项时的分析,还可以完成存在无界时滞项时的分析,是针对包含忆阻电路的电路镇定性分析方法。
  • 电路系统镇定分析方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种联合高斯过程的微带电路半空间映射快速优化方法-CN202210066482.5在审
  • 喻梦霞;汪家兴;宁宇航 - 电子科技大学
  • 2022-01-20 - 2022-05-13 - G06F30/30
  • 本发明公开了一种联合高斯过程的微带电路半空间映射快速优化方法,属于微波射频电路的计算机辅助设计领域。该方法首先确定微带电路设计指标和需要优化的结构变量,构建粗模型;获得粗模型最佳设计尺寸;判断粗模型最佳设计尺寸是否满足设计指标,若是,则输出结果并结束流程,否则进入下一步;通过对优化方向的判断,按半星状分布选取初始的训练样本和减半的优化空间;训练半空间映射高斯过程模型;优化模型,预测下一代的最优结果并验证;若满足设计指标则结束流程并输出优化结果,否则进行参数提取并更新训练集,进行迭代优化。本发明能够很大程度地提高微带电路的设计效率,降低空间映射技术所需的训练样本数量,加快优化过程中的收敛速度。
  • 一种联合过程微带电路半空映射快速优化方法
  • [发明专利]一种快速标记PCBA安装器件的方法-CN201611075570.2有效
  • 黄大勇 - 迈普通信技术股份有限公司
  • 2016-11-29 - 2022-04-05 - G06F30/30
  • 本发明涉及电子器件标记技术,其公开了一种快速标记PCBA安装器件方法,解决传统技术中标记方式存在的标记效率低下、容易出错的问题。该方法包括以下步骤:a.从EDA软件中导出原图纸所有器件坐标,并与产品清单合并为一个Excel文件;b.在所述Excel文件中嵌入VBA模块对产品清单和器件坐标进行联合分析,将分析结果导入新的Excel文件中;c.从EDA软件中导出原设计图纸中的顶层和底层器件分布图;d.在打开顶层和底层器件分布图后嵌入VBA模块并运行;e.导入所述新的Excel文件后,在分布图内的每个器件位置生成相应标记。
  • 一种快速标记pcba安装器件方法

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