专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于光纤的低温近场光学显微镜-CN202011567791.8在审
  • 刘锐 - 仪晟科学仪器(嘉兴)有限公司
  • 2020-12-26 - 2021-04-02 - G01Q60/18
  • 本发明公开了一种基于光纤的低温近场光学显微镜,用于测量样品,包括光学部分和扫描机械部分,光学部分包括光源、光纤耦合器、干涉臂、探测器和近场耦合结构,所述光源与所述光纤耦合器的第一入射端口固定连接,所述探测器与所述光纤耦合器的第二入射端口固定连接。本发明公开的一种基于光纤的低温近场光学显微镜,其不仅省去了光波束引导机构的调试校准工序,还避免了系统机械部件老化所带来的位置漂移影响,其具有更好的抗环境干扰能力、安装位置受实际安装环境影响小和能够更经济的达到1.2K、4K的超低温环境等优点。
  • 基于光纤低温近场光学显微镜
  • [发明专利]单量子点扫描近场光学显微探针及体系、检测装置及方法-CN201910544844.5有效
  • 陈学文;徐威旺;王志远 - 华中科技大学
  • 2019-06-21 - 2021-01-26 - G01Q60/18
  • 本发明涉及扫描探针成像技术领域,公开了一种基于单量子点的近场探针及探针体系,以及基于该探针体系的检测装置及方法。单量子点扫描近场光学显微探针,是将单量子点通过静电力或化学粘附剂装载到介质针尖用作探针,介质针尖为锥形光纤或者原子力显微镜探针。本发明的近场探针体系能有效地克服传统扫描近场光学探针扭曲样品光学性质、信噪比低、重复性差等缺陷;单量子点近场探针成像分辨率能达到与单量子点尺寸同一量级,一般优于10纳米空间分辨率。检测方法具有基于荧光强度成像和荧光寿命成像,可传感样品形貌、材料成分、光学近场分布等多维度的物理量信息。
  • 量子扫描近场光学显微探针体系检测装置方法
  • [实用新型]太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构-CN201922452530.0有效
  • 王文杰 - 仪晟科学仪器(嘉兴)有限公司
  • 2019-12-30 - 2020-10-27 - G01Q60/18
  • 本实用新型公开了一种太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构,适于并且匹配各种型号的原子力显微镜以检测一待测样品,所述太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构包括一90°平面镜、一AFM探针、一第一平面镜,所述AFM探针用于检测置于一AFM样品台的所述待测样品,所述第一平面镜置于所述90°平面镜的靠近AFM样品台的一侧。本实用新型专利申请公开的太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构,适用并且匹配多种成熟的商业化AFM,抛物面镜需针对AFM进行定制,在保证将入射太赫兹脉冲束聚焦到AFM探针之上及收集经探针和样品散射的太赫兹脉冲束的前提下不与AFM结构产生冲突。
  • 赫兹近场显微镜脉冲引出机构
  • [实用新型]一种样品结构-CN201922216397.9有效
  • 温晓镭 - 中国科学技术大学
  • 2019-12-11 - 2020-10-27 - G01Q60/18
  • 本申请提供一种样品结构,所述样品结构,包括衬底、位于衬底上的金属薄膜,以及位于金属薄膜内部或其上的纳米结构。样品结构简单,制作方法简易,能够在倾斜入射光照射下,产生的近场光场分布能够被SNOM检测到,且对入射光空间角具有良好响应,能够用于SNOM近场光场成像,进而由SNOM近场光场成像测量结果反推出入射光空间角分量,从而实现对SNOM设备入射光空间角的标定。
  • 一种样品结构
  • [发明专利]太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构-CN201911388517.1在审
  • 王文杰 - 仪晟科学仪器(嘉兴)有限公司
  • 2019-12-30 - 2020-04-24 - G01Q60/18
  • 本发明公开了一种太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构,适于并且匹配各种型号的原子力显微镜以检测一待测样品,所述太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构包括一90°平面镜、一AFM探针、一第一平面镜,所述AFM探针用于检测置于一AFM样品台的所述待测样品,所述第一平面镜置于所述90°平面镜的靠近AFM样品台的一侧。本发明专利申请公开的太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构,适用并且匹配多种成熟的商业化AFM,抛物面镜需针对AFM进行定制,在保证将入射太赫兹脉冲束聚焦到AFM探针之上及收集经探针和样品散射的太赫兹脉冲束的前提下不与AFM结构产生冲突。
  • 赫兹近场显微镜脉冲引出机构
  • [发明专利]一种样品结构及其制作方法、入射空间角标定方法-CN201911267392.7在审
  • 温晓镭 - 中国科学技术大学
  • 2019-12-11 - 2020-03-27 - G01Q60/18
  • 本申请提供一种样品结构及其制作方法、入射空间角标定方法,所述样品结构,包括衬底、位于衬底上的金属薄膜,以及位于金属薄膜内部或其上的纳米结构。样品结构简单,制作方法简易,但是能够在倾斜入射光照射下,产生的近场光场分布能够被SNOM检测到,且对入射光空间角具有良好响应,能够用于SNOM近场光场成像,进而由SNOM近场光场成像测量结果反推出入射光空间角分量,从而实现对SNOM设备入射光空间角的标定。该标定方法简便易行,样品结构制备工艺简单,可作为标准样品对不同厂家型号或实验室搭建的散射式扫描近场光学显微镜入射光空间角进行标定,适用范围广泛,可大批量生产。
  • 一种样品结构及其制作方法入射空间标定方法
  • [发明专利]一种基于金属纳米线表面等离激元纳米光源的光学显微镜-CN201510856134.8有效
  • 徐红星;管志强;童廉明;张顺平;张福平 - 武汉大学
  • 2015-11-27 - 2018-09-21 - G01Q60/18
  • 本发明公开了一种基于金属纳米线表面等离激元纳米光源的光学显微镜,该光学显微镜采用金属纳米线中传播型表面等离激元作为纳米光源;金属纳米线扫描探针包括粘结在石英共振音叉或原子力显微镜探针上的金属纳米线,或粘结在石英共振音叉上含有金属纳米线的空心光纤管;测量光路采用显微镜进行宏观光路与微观光路的桥接,外接光源,采用载波技术进行弱信号探测,采用偏振光谱与单色仪配合相应的滤波片进行波长分光,采用CCD、单光子计数器收集光学信号。还公开了金属纳米线扫描探针的制备及修饰。本发明将金属纳米线等离激元的发射作为纳米光源激发样品,在提高光学分辨率、增强光与样品的相互作用、实现可控偏振纳米光源等成像技术方面具有重要意义。
  • 一种基于金属纳米表面离激元光源光学显微镜
  • [发明专利]一种用于近场扫描光学显微镜的光纤照明透射装置-CN201710817357.2在审
  • 李江艳 - 滨州学院
  • 2017-09-12 - 2018-02-27 - G01Q60/18
  • 本发明公开了一种用于近场扫描光学显微镜的光纤照明透射装置,包括激光器(1)、照明光纤(2)、光纤固定器主体(3)、光纤连接孔(4)、光纤连接器安装孔(5)、光纤连接器安装头(6)、光纤连接器(7)、光纤固定器主体安装头(8)。本发明通过在近场扫描光学显微镜的物镜转换器上的安装孔上设置微功率激光照射光源,实现了外置微功率激光光源在透射收集模式的近场扫描光学显微镜上的应用,有效满足近场扫描对平面波入射的要求,尤其是对微细结构加工的测量的要求,具有结构简单、使用强、无需改装加工近场扫描光学显微镜等特点。
  • 一种用于近场扫描光学显微镜光纤照明透射装置

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