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[发明专利]一种基于分子动力学模拟的页岩油可动用界限确定方法-CN202310803423.6有效
发明人：孙致学;尹逸凡;宋文铜 -专利权人：中国石油大学（华东）
申请日： 2023-07-03 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明属于页岩油可动用性评价领域，涉及一种基于分子动力学模拟的页岩油可动用界限确定方法。该方法包括运用聚焦离子束扫描电镜对页岩岩心成像，得到一系列页岩岩心二维内部孔隙结构图片，然后进行滤波、降噪处理，组合生成页岩的三维数字岩心图像；应用分水岭方法，提取孔隙特征，分析半径、形状因子参数，得到岩心内不同孔隙形状及占比；分别建能反映不同孔隙结构的分子模型并在孔隙中填充页岩油分子并进行几何优化；基于模型进行分子动力学模拟，计算页岩油分子均以吸附态形式存在于孔隙内时的孔隙半径，并取加权平均计算出页岩油的可动用界限。采用本发明方法可以快速、高效的计算出页岩油的可动用界限。
一种基于分子动力学模拟页岩动用界限确定方法

[发明专利]轧制工艺中缺陷工序的确定方法和装置-CN202310477936.2在审
发明人：王畅;于洋;焦会立;王林;倪有金;张亮亮;郭子峰;白凤霞;付光;高小丽;王泽鹏;李高峰 -专利权人：首钢集团有限公司;北京首钢股份有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开了一种轧制工艺中缺陷工序的确定方法和装置，确定方法通过获取目标参数，由于目标参数关联IF钢的氧化圆点变化，可以根据目标参数在IF钢轧制工艺中确定多个目标轧制工序，基于多个目标轧制工序中每个工序的氧化圆点特征，获得IF钢的圆点特征库，可以基于圆点特征库确定出每个工序及其对应的氧化圆点特征，当IF钢出现轧制缺陷时，说明IF钢的轧制工艺中存在缺陷工序，则根据轧制缺陷周边的氧化圆点特征在圆点特征库中确定出目标特征，将目标特征对应的目标轧制工序确定为IF钢的缺陷工序。本发明应用于确定IF钢轧制工艺的缺陷工序时，可以针对缺陷产生原因做到尽快识别和精准定位，进而提高了IF钢轧制工艺中缺陷工序确定的准确性。
轧制工艺缺陷工序确定方法装置

[发明专利]一种蒸汽发生器传热管清洗参数的评估方法及装置-CN202310474151.X在审
发明人：宋利君;孙云;田朝晖;肖艳;刘灿帅;林根仙 -专利权人：苏州热工研究院有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开了一种蒸汽发生器传热管清洗参数的评估方法及装置，评估方法为：在管道试样表面制备氧化物层，形成含有不同和/或相同厚度氧化物层的多个管道试样；将管道试样组装进清洗试验箱内，向除盐水箱内通入除氧除盐水；加热除氧除盐水至起始温度后通入清洗试验箱中；向清洗试验箱中加入清洗剂进行清洗，同时，除盐水箱开始降温直至达到结束温度时停止清洗，收集清洗废液并测试其中的金属元素浓度；冲洗管道试样并干燥后对其进行形貌表征；根据金属元素浓度及形貌表征结果对选择的清洗参数做出评估。本发明的评估方法及装置，对蒸汽发生器传热管的清洗参数选取具有较好的参考意义，能够避免传热管因化学清洗时间过长，清洗剂浓度过高而被腐蚀。
一种蒸汽发生器传热清洗参数评估方法装置

[发明专利]一种3D打印用粘结剂成型坯体力学性能检测方法-CN202310711089.1在审
发明人：赵坤龙;曹文鑫;朱嘉琦;徐兴春;苏振华;叶之杰 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-06-15 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明涉及粘结剂喷射3D打印技术领域，具体涉及一种3D打印用粘结剂成型坯体力学性能检测方法。目前BJ领域粘结剂坯体不同饱和度的力学性能数据收集的周期长的问题，提供了一种3D打印用粘结剂成型坯体力学性能检测方法，无需BJ打印机而对不同粘结剂饱和度坯体的强度能够准确的进行测试，迅速对不同粘结剂与粉末之间不同饱和度的坯体的强度进行快速而准确的测试，建立粘结剂打印性能数据库，减少了粘结剂开发周期，降低坯体强度测试过程中打印材料的浪费，进一步的基于坯体微观图片对粘结剂饱和度进行了修正，实现了无打印机测试中，粘结剂在模具成型条件在坯体内的分散特性与打印出的粘结剂在粉末之间分散特性差异的修正。
一种打印粘结成型体力性能检测方法

[发明专利]基于源装置的正电子湮没寿命测量系统及方法-CN202310726345.4在审
发明人：张红强;王宝义;刘福雁;王英杰;曹兴忠;张鹏;况鹏;于润升;魏龙 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-06-19 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N23/225 文献下载
摘要：本发明提供一种基于源装置的正电子湮没寿命测量系统及方法，包括源室、起始伽马探测器、停止伽马探测器和正电子探测器；22Na放射源固定于源室表面，源室与正电子探测器紧贴薄膜样品两侧且呈相向对称放置，位置相对固定；起始伽马探测器和停止伽马探测器放置于正电子探测器两侧，分别负责对放射源发射正电子时级联产生的1.28MeV伽马光子和正电子湮没后产生的0.511MeV伽马光子进行探测。本发明通过提高非样品侧正电子射程，减小远端湮没伽马光子探测效率实现噪声正电子的有效去除，减少了电子学体量；在样品侧精准识别正电子湮没位置，排除非样品中正电子湮没成分，突破测量样品厚度限制，实现薄膜样品正电子湮没寿命测量。
基于装置正电子湮没寿命测量系统方法

[发明专利]可降解生物聚酯塑料的降解生命周期检测方法-CN202310303851.2在审
发明人：余厚咏;纪海彬;严凌;陈雪飞;吴美琴 -专利权人：浙江理工大学
申请日： 2023-03-27 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明涉及可降解生物聚酯塑料的降解生命周期检测方法，包括：在目标降解环境下进行可降解生物聚酯塑料的重量、表面形貌数据测量与菌落采集，后将可降解生物聚酯塑料置于自然土壤或海水中，在相同温度下降解第一预定时长、第二预定时长及第三预定时长，以获得可降解生物聚酯塑料的不同降解周期实验样本；将不同降解周期实验样本置于水中，超声清洗，后用乙醇反复多次冲洗，将冲洗干净后的实验样本置于烘箱干燥，得到不同降解周期待测样品；根据不同降解周期待测样品的化学键与表面形貌变化、重量损失率、菌落的种类与数量变化、土壤保湿性测试及二氧化碳释放量，确定可降解生物聚酯塑料的降解生命周期。本发明有利于提升降解生命周期检测的精度。
降解生物聚酯塑料生命周期检测方法

[发明专利]碳纳米管在复合材料中分散均匀度的表征方法及系统-CN202310447942.3在审
发明人：卢柳林;王睿;冯继军;向洋;冯涛;颜婧;刘胜;孙晓芬 -专利权人：东风商用车有限公司
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开了一种碳纳米管在复合材料中分散均匀度的表征方法及系统，方法包括以下步骤：制备样品；将制备的样品于扫描电镜下进行分析，调整荷电效应电压，获取碳纳米管和树脂材料的导电性差异化电镜图像；根据获取的碳纳米管和树脂材料的导电性差异化电镜图像，获取碳纳米管的分散度表征指标。本申请提供的碳纳米管在复合材料中分散均匀度的表征方法，利用扫描电镜中荷电效应即可在较小的放大倍数下实现对碳纳米管的分散状态进行准确的、定量的评估，从而实现对碳纳米管复合材料成品试样和零部件的质量评价。
纳米复合材料分散均匀表征方法系统

[发明专利]一种在绝缘衬底上高保真表征芯片形貌的SEM模拟检测方法-CN202310538675.0在审
发明人：王清雨;陈艺勤;段辉高;纪志强 -专利权人：湖南大学
申请日： 2023-05-15 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本申请提供一种在绝缘衬底上高保真表征芯片形貌的SEM模拟检测方法，在绝缘衬底表面以光刻胶为材料制作微纳结构，然后通过薄膜沉积技术在微纳结构表面沉积金属薄膜，金属薄膜和微纳米结构以共形的方式形成连续完整的膜结构，该金属薄膜在微纳结构上可以达到高保真度并且薄膜表面平整、无颗粒，以该金属薄膜作导电层可以实现微纳结构在绝缘衬底表面上的SEM测量，完成对绝缘衬底形貌的高保真度表征，从而为半导体芯片的检测提供理论的依据。
一种绝缘衬底高保真表征芯片形貌 sem 模拟检测方法

[发明专利]一种观察硅碳粉料内部结构的方法-CN202310329653.3在审
发明人：孙笑笑;李晓萍;王淑霞 -专利权人：天津市捷威动力工业有限公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提供了一种观察硅碳粉料内部结构的方法，包括以下步骤：在载体上涂覆导电银胶，将硅碳粉料均匀喷洒在导电银胶上，对载体进行裁剪得到检测样品；将检测样品放入离子研磨仪进行切割，得到抛光样品；通过扫描电镜和/或能谱仪对抛光样品进行观察。本发明所述的观察硅碳粉料内部结构的方法利用液体导电银胶替代导电碳胶，能避免极片中掺杂的石墨颗粒以及导电剂中碳元素的干扰，准确定量出材料本身的碳元素含量及元素分布。硅碳粉末样品喷洒在导电银胶上后通过离子研磨仪切割，去除样品表面层，加工出光滑表面，不会破坏硅碳粉末表面形貌，能够清晰地观察到颗粒内部的碳包覆情况。同时通过X射线能谱仪，能够半定量地测定截面的碳含量及分布。
一种观察碳粉内部结构方法

[发明专利]一种用于材料腐蚀形貌准原位表征的方法-CN202310290753.X在审
发明人：姜龙涛;韩慧敏;晁振龙;王春雨;陈国钦;修子扬;武高辉 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：一种用于材料腐蚀形貌准原位表征的方法，涉及一种用于材料腐蚀形貌表征的方法。为了解决现有的材料腐蚀形貌原位表征方法存在试验条件苛刻且腐蚀环境受限等问题。方法：待腐蚀样品预处理、待腐蚀样品位置标记、在腐蚀之前将已经做位置标记的样品进行微观形貌表征、对样品进行腐蚀、将步骤四腐蚀后的样品进行清洗再次进行微观形貌表征形貌的动态观测。本发明用维氏硬度计的菱形压痕作为标记位置，材料在腐蚀性气氛中腐蚀多个时间段，可实现对材料某一区域的腐蚀形貌动态观测。该方法的腐蚀形貌表征效果近似于原位腐蚀表征，而所需实验条件简单且腐蚀气氛不受限制，需样品数量少，效率高。
一种用于材料腐蚀形貌原位表征方法

[发明专利]一种钢中夹杂物评价分析方法-CN202310528883.2在审
发明人：杨文;张立峰;杨光;任英;任强;季晨曦;刘金刚 -专利权人：北京科技大学;北方工业大学
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提供一种钢中夹杂物评价分析方法，包括：根据钢中夹杂物主要类型、钢液成分中至少一种信息，在扫描电镜程序中预设夹杂物尺寸、成分、分类标准中至少一种参照值；根据成品钢材的形制，进行样品选取与制备；在制备好样品的检测面划定扫描区域，设定电镜扫描参数，对夹杂物进行电镜扫描检测；通过对样品扫描获得的扫描面积内夹杂物的数量、种类、尺寸、成分、周长、面积中至少一种信息，定义成品钢中夹杂物的分布均匀度、圆形度、夹杂物尺寸分布均匀度作为钢中夹杂物的定量评价指标，从而用来表征夹杂物的分布、形貌、尺寸。本发明能够基于自动扫描电镜的全面准确快捷的对成品钢材中夹杂物进行评价分析，利于为生产高洁净度钢提供指导。
一种夹杂评价分析方法

[发明专利]基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法-CN202310726611.3在审
发明人：刘福雁;张红强;况鹏;曹兴忠;于润升;于啸天;王冕;王英杰;王宝义;魏龙 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-06-19 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/225 文献下载
摘要：本发明提供一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法，包括源室、起始伽马探测器、第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器；在放射源一侧设置样品，样品与放射源固定于源室中心；第一停止伽马探测器与第二停止伽马探测器以放射源为中心对称放置于源室外，起始伽马探测器于源室外部任意位置放置；所述起始伽马探测器负责对22Na放射源发射正电子时级联产生的伴随伽马射线进行探测，所述第一停止伽马探测器和所述第二停止伽马探测器分别对正电子湮没后产生的两个反向发射的湮没伽马射线进行探测。本发明通过测量湮没伽马被探测的时间差准确定位正电子湮没位置，实现对薄膜样品中正电子湮没寿命的测量。
基于位置定位正电子湮没寿命测量系统方法

[发明专利]一种真空气氛处理装置、样品观测系统及方法-CN201611038903.4有效
发明人：何伟;李帅 -专利权人：聚束科技（北京）有限公司
申请日： 2016-11-23 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开了一种真空气氛处理装置，所述装置的顶部与外部的电子束产生装置连接，其特征在于，所述装置为轴对称结构，所述装置从中心轴向外依次包括：中心通道、第一抽气通道、供气腔室和至少一个第二抽气腔室；其中，所述中心通道的出口处设置有压差光阑，用于维持中心通道与外界环境的压强差，并使所述电子束产生装置产生的电子束通过所述中心通道；所述第一抽气通道与所述中心通道连通，用于对所述中心通道抽气；所述供气腔室顶端连接有供气通道，用于对所述装置与待测样品之间的区域供气；所述第二抽气腔室的顶端连接有第二抽气通道，用于对所述装置与待测样品之间的区域抽气。本发明还公开了一种样品观测系统及方法。
一种真空气氛处理装置样品观测系统方法

[发明专利]一种用于薄膜样品表征的正电子湮没寿命高效测量系统及方法-CN202310726518.2在审
发明人：张红强;刘福雁;况鹏;张鹏;王英杰;章志明;于啸天;曹兴忠;王宝义;魏龙 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2023-06-19 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N23/225 文献下载
摘要：本发明提供一种用于薄膜样品表征的正电子湮没寿命高效测量系统及方法，由正电子发射器、探测器阵列、被测薄膜样品组成；放射源放置于正电子发射器内，所述被测薄膜样品设置在正电子发射器和探测器阵列中的正电子探测器之间。本发明适用于强源环境，可对正电子湮没事例进行全方位探测，充分排除非样品中的正电子湮没事例，实现对薄膜样品正电子湮没寿命的高效测量。
一种用于薄膜样品表征正电子湮没寿命高效测量系统方法

[发明专利]一种材料肿胀率测量方法-CN202310319925.1在审
发明人：刘聪;马海亮;李鑫鑫;钱秋宇;范平;张乔丽;袁大庆 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明涉及一种材料肿胀率测量方法，属于材料测试技术领域，该方法包括以下步骤：S1、采用聚焦离子束制备截面样品；S2、利用扫描电镜对截面样品的空洞进行逐区观察并拍照，获得衬度和分辨率满足使用要求的照片；S3、将步骤S2中的照片按顺序进行拼接，并将含有空洞的选定区域导入图像处理软件中，利用成像衬度识别空隙空洞，并进行选定区域的面积测量和选定区域的空洞面积测量；S4、根据步骤S3测量得到的数据，计算得到样品选定区域的肿胀率S。本发明提供的方法可测量常规机械磨抛方法难以获得材料近表面的真实截面，以及空隙空洞尺寸过大，不适合基于透射电镜的测量方法的样品。
一种材料肿胀测量方法