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[发明专利]一种在线补偿由光偏振波动导致的旋光角检测误差的方法-CN202310958711.9在审
发明人：魏凯;衡星;翟跃阳;徐子童;刘畅;全伟 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2023-08-01 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：一种在线补偿由光偏振波动导致的旋光角检测误差的方法，根据原子自旋对磁场或光场调制的响应信号，结合小波分析数据降噪和增量型PID控制算法，通过实时改变光路中四分之一波片的光轴角，实现旋光角检测误差快速实时补偿。本方法合理、通用，实验操作简单，不受限于光路的复杂性，可适用于各类基于旋光角检测系统的场景应用。
一种在线补偿偏振波动导致旋光角检测误差方法

[发明专利]基于圆偏振相关光学差分的物体手性识别方法及装置-CN202310972243.0有效
发明人：刘廷廷;贺炎亮;谢智强;陈书青 -专利权人：江西师范大学
申请日： 2023-08-03 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于圆偏振相关光学差分的物体手性识别方法及装置，该识别方法包括入射光经过偏振片调制后得到线偏平面光，线偏平面光由左旋圆偏振光场和右旋圆偏振光场组成，线偏平面光照射到待测物体上，左旋或右旋圆偏振光场被待测物体吸收，得到携带待测物体亮场像信息的右旋或左旋圆偏振光场。依次经过物镜、第一透镜、四分之一波相位延迟偏振光栅、检偏器和第二透镜来实现光学差分，利用电耦合器件进行图像采集，并通过判断采集的图像是亮场像或是边缘像来对待测物体的手性进行识别。本发明利用四分之一波相位延迟偏振光栅的圆偏振相关调制实现待测物体手性识别，相较于传统方案更简单，成本更低，效率更高，精确度也更高。
基于偏振相关光学物体手性识别方法装置

[发明专利]一种双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪的误差校准方法-CN202310354459.0在审
发明人：雷兵;高超;翁剑宇;曹晓昱;张斌;施建华 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2023-04-01 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明提供一种双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪的误差校准方法，从整体上考虑了起偏调制单元与检偏调制单元的调制矢量，通过一系列简单测量即可完成对光学系统的校准。该方法不依赖于系统模型，避免了因建模偏差引入的系统误差，大幅度降低了误差校准的难度并且提高了系统的校准精度。与传统的参数标定法与特征值校准法相比，本发明不需要任何标准样品，也无需任何系统的先验信息，仅利用线偏振片与圆偏振片即可完成系统校准，操作方便，计算结果稳定。实验证明，本发明提出的双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪的校准方法能够有效降低系统各误差因素的影响，显著提高待测样品穆勒矩阵的测量精度。
一种涡旋穆勒矩阵椭偏仪误差校准方法

[发明专利]确定样品偏振光学特性的光学测量设备、测量单元及方法-CN202310432564.1在审
发明人：马丁·奥斯特梅耶 -专利权人：安东帕光电技术有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：一种确定样品偏振光学特性的光学测量设备、测量单元及方法。光学测量设备包括：偏振状态发生器(PSG)，其配置为用于准备沿着分析光束路径传播的、具有定义的偏振状态的测量光；收容装置(AE)，其设置在偏振状态发生器的下游并且构成为用于收容至少一个第一测量单元和第二测量单元；偏振状态分析器(PSA)，其设置在收容装置下游；探测器(Det)，其设置在偏振状态分析器下游，以用于探测测量光的强度；静止的发送/接收系统，其配置为用于与第一测量单元和/或与第二测量单元通信；及分析和控制单元(μC)，以用于分析探测器和/或偏振状态分析器和/或偏振状态发生器的测量信号。
确定样品偏振光学特性测量设备单元方法

[发明专利]产生大区域均一手性场的结构-CN202111202769.8有效
发明人：王勇凯;吴浩然;董军;郑益朋 -专利权人：西安邮电大学
申请日： 2021-10-15 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请涉及产生大区域均一手性场的结构，具体而言，涉及手性结构领域；本申请提供的一种产生大区域均一手性场的结构，结构包括：基底、第一石墨烯部、第二石墨烯部和金属条；圆偏振光激发金属条上的偶极子模式，则正电荷和负电荷分别集中在该金属条的两端，由于电荷感应效应，使得在该第一石墨烯部和第二石墨烯部之间的电场方向固定方向，则磁场的方向在该第一石墨烯部和该第二石墨烯部之间的方向也是固定的，即在该第一石墨烯部和该第二石墨烯部之间电场方向和磁场方向均为固定的单一方向，则该第一石墨烯部和该第二石墨烯部之间只会存在一种手性的手性场，因此解决了均一手性场不能大面积存在的问题。
产生区域均一手性结构

[发明专利]基于涡旋波片的空间调制偏振检测方法-CN202111422116.0有效
发明人：李艳秋;宁天磊 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了基于涡旋波片的空间调制偏振检测方法，建立任意偏振光入射时探测面的强度分布同四种特殊偏振光入射时探测面的强度分布之间的关系，所建立理论模型获取四幅探测面的强度分布可实现系统加工和对准误差的标定，简化了空间调制偏振仪的标定步骤，提高了偏振检测效率；提出了混合梯度下降算法来求解最大的光子偏振几率，该方法可实现高精度、快速的偏振态及偏振几率检测，提高了空间调制偏振仪的数据处理效率；结合阈值选通的傅里叶低通滤波技术，本发明方法通过相机单次拍摄可实现强/弱光场下的光子偏振态、光子偏振几率及穆勒矩阵的快速、高精度检测。
基于涡旋空间调制偏振检测方法

[发明专利]一种新冠病毒疫苗抗原蛋白的单层MoS2相位传感器检测盒及其检测方法-CN202310694069.8在审
发明人：王英英;姜杰;李中林;阚光峰;王晓飞 -专利权人：哈尔滨工业大学（威海）
申请日： 2023-06-13 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明涉及新冠病毒快速检测领域，具体是一种新冠病毒疫苗抗原蛋白的单层MoS2相位传感器检测盒及其检测方法，所述MoS2测试样品与标准新冠病毒SARS‑CoV‑2抗体结合的过程为：首先通过CVD法生长单层MoS2，进一步通过原子层沉积(ALD)，将ZnO沉积在SiO2/Si上，并进行聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)辅助湿法转移，将单层MoS2转移到基底上，然后对MoS2表面进行表面处理，解决现在检测方法只能定性检测有无新冠，无法测出具体浓度的问题。在保证高灵敏度的前提下，能够定量的测出样品的实际浓度。样品的前处理过程简单，检测过程耗时少，测量结果直观、精确。本发明对于大批量样品的定量新冠病毒浓度的检测具有重要意义。
一种病毒疫苗抗原蛋白单层 mos2 相位传感器检测及其方法

[发明专利]一种继电器触点含有有机污染物膜层检测方法-CN202310870237.4在审
发明人：左娟;叶海涛;王杰颖 -专利权人：厦门理工学院
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明涉及一种继电器触点含有有机污染物膜层检测方法，包括：S1：对待测继电器触点位置进行椭圆偏振光谱测试；S2：构建触点的色散模型和物理模型，并使用Point By Point模型优化衬底拟合；S3：基于拟合结果得到待测继电器触点位置对应的膜层厚度；S4：根据得到的膜层厚度与预设的厚度阈值的大小关系，判定待测继电器触点是否含有有机污染物膜层。本发明能够实时、快速、准确的检测继电器触点是否存在表面产生有机污染物的异常现象。
一种继电器触点含有有机污染物检测方法

[发明专利]一种薄膜材料的光学特性及几何特性测量方法-CN202310784054.0在审
发明人：陈修国;刘硕;刘世元 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种薄膜材料的光学特性及几何特性测量方法，属于椭偏测量领域，该方法包括：利用样条模型和正向光学特性模型生成训练集；训练神经网络模型；将测量光学表征量输入至神经网络获得的材料的几何参数和样条参数的初步结果依次输入样条模型和正向光学特性模型得到理论光学表征量，利用理论与测量光学表征量之间的偏差对神经网络模型进行优化后，其输出的预测值即为该材料最终的几何及光学特性参数。本发明不依赖操作人员的经验，可实现智能化表征；具有较强泛化能力，可解决训练数据不充分造成的预测不准确的问题，实现对不同于训练集中的测量配置的样品测试；适用于多种几何结构的测量；提取结果准确，且对噪声的鲁棒性好。
一种薄膜材料光学特性几何测量方法

[发明专利]薄膜介质材料本征禁带宽度的确定方法、装置及设备-CN202311010723.5在审
发明人：胡建平;王健;许乔;张飞;唐明 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2023-08-11 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请提供了一种薄膜介质材料本征禁带宽度的确定方法、装置、及设备，其中，该方法包括：对待测量单晶或多晶态薄膜介质材料进行椭偏测量，得到椭偏测量参数；基于预先构建的测量模型，生成椭偏模拟参数；根据椭偏测量参数以及椭偏模拟参数迭代和拟合，生成光谱吸收色散曲线；基于光谱吸收色散曲线进行高斯函数分峰拟合处理，得到分峰拟合高斯函数参数和参考色散曲线；提取与薄膜介质材料特征吸收峰相对应的目标拟合高斯函数参数和目标参考色散曲线并进行归一化以及直线外插，确定薄膜介质材料的本征禁带宽度。通过对目标拟合高斯函数参数和目标参考色散曲线归一化和直线外插，确定待测量单晶或多晶态薄膜介质材料的本征禁带宽度。
薄膜介质材料征禁带宽度确定方法装置设备

[发明专利]一种能够实现任意偏振态调制的起偏器及其优化方法-CN202110811657.6有效
发明人：马辉;赵千皓;黄彤宇;胡峥 -专利权人：清华大学深圳国际研究生院
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种能够实现任意偏振态调制的起偏器及其优化方法，该起偏器包括照明系统、可旋转的偏振片和可旋转的波片，其中，所述照明系统用于产生入射光；通过所述偏振片和所述波片不同转动角度的组合，将入射光调制为所需偏振光。该优化方法包括：将所述偏振片的取向和所述波片的快轴角度作为优化目标，通过电势最低迭代的方法，求解相应偏振态在邦加球上的最优均匀分布状态，该状态满足最优条件数的条件。
一种能够实现任意偏振调制起偏器及其优化方法

[实用新型]一种旋光仪滤光片的定位机构-CN202320360078.9有效
发明人：江国华 -专利权人：北京信田科技有限公司
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种旋光仪滤光片的定位机构，涉及旋光仪技术领域，该旋光仪滤光片的定位机构旨在解决现有技术的旋光仪滤光片通常难以快速定位安装在旋光仪的内部，缺少滤光片的定位安装结构，在需要对滤光片更换时难以对滤光片进行快速更换的技术问题，该旋光仪滤光片的定位机构包括底板和活动设置于底板上方的活动块；底板的上端固定安装有底座，底座的上端固定安装有旋光仪本体，旋光仪本体的下端固定安装有定位块，定位块的左右两端贯穿开设有第一槽体，活动块活动设置于第一槽体的内壁，该旋光仪滤光片的定位机构可快速定位安装在旋光仪的内部，具备滤光片的定位安装结构，在需要对滤光片更换时可对滤光片进行快速更换。
一种旋光仪滤光定位机构

[实用新型]一种应用于在线测量的激光椭偏仪-CN202320999649.3有效
发明人：何丽;刘蕾;姚凌飞;田晶晶 -专利权人：系科仪器（上海）有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本实用新型提供一种应用于在线测量的激光椭偏仪，包括机箱及安装在机箱下端的测量组件、调节测量组件高度的Z轴运动机构，所述机箱的下端两侧设有底架，并通过底架跨接安装在生产线上，以利用测量组件对生产线上的光伏电池片进行测量；所述测量组件包括安装在Z轴运动机构上的支架、倾斜安装在支架下端的墙板、可调节安装在墙板两侧的发射光组件和收光组件。该设备通过模块化的设计，实现了设备整体结构的简洁、牢固、美观。椭偏仪墙板及各关键部件整体倾角，保证了电池片正膜的水平测试。本发明设计的在线激光椭偏仪结构既稳定牢固，又能便捷的安装于各类光伏电池片生产线，满足激光椭偏仪在线测量的需求。
一种应用于在线测量激光椭偏仪

[发明专利]一种插装集成式光谱偏振实时成像系统-CN202310580624.4在审
发明人：虞益挺;周俊焯;郝佳 -专利权人：西北工业大学宁波研究院;西北工业大学
申请日： 2023-05-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明提供了一种插装集成式光谱偏振实时成像系统，涉及光电器件技术领域，本系统包括依次设置在入射光路上的前置望远镜头、可插装光谱偏振滤光模块及图像传感器。入射光束经前置望远镜头压缩并消除设计波段内的球差和场曲后，孔径处的多通道光谱偏振滤光芯片分通道对其进行光谱偏振滤光，透镜阵列再将不同光谱偏振特性的光束会聚到图像传感器的对应区域。多通道光谱偏振滤光芯片和透镜阵列组装为可插装光谱偏振滤光模块，根据目标探测的需要可插换滤光功能不同的模块。滤光芯片通过分区域制备亚波长金属线栅和多层膜系结构实现多通道光谱偏振滤光功能。本系统具有信息探测维数高、可动态实时成像、光谱偏振滤光模块可插换的优势。
一种集成光谱偏振实时成像系统

[发明专利]用于光学镜面的水滴检测系统、方法和水滴擦除系统-CN202110905638.X有效
发明人：禹智斌;赵明光 -专利权人：哈尔滨工业大学（深圳）
申请日： 2021-08-09 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本申请涉及公开了一种用于光学镜面的水滴检测系统，用于检测附着在光学镜片表面的水滴，包括偏振光获取装置、图像获取装置和控制处理器。偏振光获取装置用于对光学镜片表面的反射光进行偏振折射，以获取偏振光。图像获取装置用于获取偏振光图像。控制处理器用于依据偏振光图像对光学镜片表面的水滴进行检测。由于通过光学镜片表面的反射光的偏振光成像来进行水滴检测，在一定程度上可以过滤掉反射背景的影响，提高粘附水滴的识别准确率和对环境的鲁棒性。
用于光学水滴检测系统方法擦除

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