[发明专利]延迟时间测定方法及延迟时间测定用脉冲发生装置无效

专利信息
申请号: 97190033.7 申请日: 1997-01-24
公开(公告)号: CN1178009A 公开(公告)日: 1998-04-01
发明(设计)人: 马场忠彦 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 柳沈知识产权律师事务所 代理人: 马莹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 延迟时间 测定 方法 脉冲 发生 装置
【权利要求书】:

1.一种延迟时间测定方法,构成包含应测定延迟时间的信号路径的回路振荡电路,并通过测量所述回路振荡电路的振荡信号的周期而测定所述信号路径的延迟时间,其特征在于,所述延迟时间测定方法,在所述回路振荡电路的振荡信号的周期内,插入与在所述信号路径处于实工作状态下、在所述信号路径中传送的信号的频率相等或与其相近频率的信号,并将所述振荡信号和插入于所述振荡信号的周期内的信号在所述信号路径中传送而使所述信号路径处于实质上与实工作状态相同的状态,取出所述回路振荡电路的振荡信号并测量其周期,将测得的所述周期作为所述信号路径的延迟时间。

2.如权利要求1所述的延迟时间测定方法,其特征在于,所述信号路径是由CMOS结构的IC构成。

3.如权利要求1所述的延迟时间测定方法,其特征在于,插入于所述振荡信号的周期内的信号是脉冲信号,将插入的所述脉冲信号的数量预先设定在存储器中,当计数到比所述设定的数量的脉冲信号多一个的脉冲信号时,测量从计数器输出的信号的周期作为所述信号路径的延迟时间。

4.如权利要求1所述的延迟时间测定方法,其特征在于,在各种测定装置中,所述信号路径是从时标信号发生部向被测定芯片提供时标信号的多个信号路径中的一个。

5.如权利要求1所述的延迟时间测定方法,其特征在于,在IC试验装置中,所述信号路径是从模式发生器向被试验IC提供模式试验信号的多个信号路径中的一个。

6.一种延迟时间测定用脉冲发生装置,其特征在于,所述延迟时间测定用脉冲发生装置是为实施权利要求1至5的任一项中所述的延迟时间测定方法而使用,包括:开始脉冲发生器,产生用于使包含应测定延迟时间的信号路径的回路振荡电路进行回路振荡的开始脉冲;同步振荡电路,同步于所述回路振荡电路的回路振荡信号而振荡,且使与在所述信号路径处于实工作状态下、在所述信号路径中传送的脉冲信号的频率相等或与其相近频率的脉冲信号在所述回路振荡信号的周期内振荡;存储器,存储所述同步振荡电路在所述回路振荡信号的周期内振荡的脉冲信号的数量;计数器,对所述同步振荡电路在所述回路振荡信号的周期内振荡的脉冲信号的数量进行计数;门电路,所述计数器对只以存储于所述存储器中的数值在所述回路振荡信号的周期内振荡的脉冲信号的数量进行计数之后,如果再计数一个脉冲信号,则停止所述同步振荡电路的振荡;脉冲取出器,从由在所述信号路径中传送而反馈的所述回路振荡信号和在所述回路振荡信号的周期内振荡的所述脉冲信号所组成的脉冲串中,只取出所述回路振荡信号;控制器,由通过所述脉冲取出器取出的所述回路振荡信号使所述计数器返回到初始状态,并重新开始所述同步振荡电路的振荡。

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