[发明专利]透过物体的辐射强度测量方法

权利要求书

1.一个测量透过物体(2)的辐射强度的方法；该方法包括的步骤是：把电磁辐射的入射光束(16a)射向物体(2)，以得到与入射光束(16a)同轴的输出光束(16b)，测量输出光束(16b)的能量；上述每个光束(16a；16b)由相关的光线(18；21)确定；每个光束(16a；16b)的每条光线(18；21)与另一光束(16b；16a)的相应光线(21；18)对准，并具有通过物体(2)的相关光程(20)和相关的给定长度(d)；其方法的特征是它还包括这样的步骤：修正上述每条光线(18；21)所透过能量，使成为相关光程(20)长度(d)的函数。

2.权利要求1中的方法特征在于：上述入射光束(16a)基本上照到整个物体(2)的断面上。

3.权利要求1或2中的方法特征在于：上述两个光束(16a；16b)沿着大致垂直于物体(2)的传播方向延伸。

4.权利要求1至3任一个中的方法特征在于：依靠对每条光线(18；21)规定一个测量参数(I_ri；I_rt；s；w)，修正上述每条光线(18；21)透过的能量，其值正比于相关光程(20)的长度(d)。

5.权利要求4中的方法特征在于：上述参数(I_ri；I_rt；s；w)正比于相关光程(20)长度(d)的平方。

6.权利要求4中的方法特征在于：上述参数(I_ri；I_rt；s；w)正比于相关光程(20)长度(d)的幂指数。

7.权利要求1至6任一个中的方法特征在于：采用具变光学密度(p)、处于垂直于光线(18；21)位置的滤光片(10；22)来遮断每条光线(18；21)，由此修正上述每条光线(18；21)透过的能量；在每个滤光片(10；22)上相关光线(18；21)的照射区具有一个光学密度(p)，它与对准光线(18；21)的光程(20)长度(d)成反比。

8.权利要求1至6任一个中的方法特征在于：采用处于垂直于光束(16a；16b)位置的衍射镜片(23)来遮断光束(16a；16b)，由此修正至少上述光束(16a；16b)之一的光线(18；21)透过的能量。

9.权利要求1至6任一个中的方法特征在于：采用变反射性能的衍射装置(26；28)来遮断光束(16a；16b)，由此修正至少上述光束(16a；16b)之一的光线(18；21)透过的能量；在每个装置(26；28)上相关光线(18；21)的照射区具有一个反射率(r)，它与对准光线(18；21)的光程(20)长度(d)有关。

10.权利要求1至6任一个中的方法特征在于：包括了输出光束(16b)的每条光线(21)透过的能量修正步骤，上述修正步骤包括的分步骤是：确定每条输出光线(21)的能量以得出一个模拟信号，根据正比于相关光程(20)长度(d)的修正参数(w)，在数学上修正上述模拟信号。

11.权利要求1至6中任一个中的方法特征在于：每条输出光线(21)的能量由相应的光敏感器(24)确定；每个光敏感器(24)具有与相关光程(20)的长度成比例的灵敏度(5)。

12.权利要求1至11任一个中的方法特征在于：上述入射光束(16a)是红外光谱中的电磁辐射光束。