[实用新型]实时跟踪比较式集成电路测试装置

说明书

本实用新型涉及一种集成电路的实时跟踪比较式测量装置，尤其是涉及一种数字集成电路芯片在线或离线实时跟踪比较式测量电路。

公知的数字集成电路测试仪，它是给在线或离线状态的集成器件施加以测试信号，对该器件所得到的输出响应信号用软件进行分析，从而判断该器件的逻辑功能是否正常。上述测量仪器存在这样一些缺点：一是需要复杂的信号源，即测试信号复杂；二是对输出响应信号的分析判断比较复杂；三是在线测试时需要严格控制施加信号的状态和性质，否则可能损坏相关的芯片；四是不能实时跟踪检测，对那种不稳定的间歇性故障的诊断无能为力。

本实用新型的目的就是要克服和避免已有技术的缺点，而提供一种新的实时跟踪比较式集成电路测试装置，该装置不需要复杂的信号源，而激励信号源直接来自原来的机器；同时，亦不需要对输出响应进行复杂的软件分析判断，而是直接用硬件比较代替软件分析；另外该装置应能对芯片进行实时跟踪测试，对出现不稳定的间歇性故障立即诊断指示，本装置结构简单，功能齐全，应能提高测试速度，并能适应于集成电路的高频测试，使用方便。

本实用新型是采用以下措施来实现其目的的。

本实用新型是由单片机电路，移位寄存器电路，三态缓冲器电路，电平变换电路，数据选择器电路，数据比较器电路和显示电路连接而成，电平变换电路设有与被测芯片连接的被测芯片接口，三态缓冲器电路设有与标准芯片连接的标准芯片接口。三态缓冲器电路与可编程模块电路连接。而单片机电路是由集成芯片8751构成，移位寄存器电路是由集成芯片9125构成，三态缓冲器电路是由集成芯片74HC125构成，电平变换电路是由集成芯片LM324和74HC4050构成，数据选择器电路是由集成芯片74HC157构成，数据比较器电路是由集成芯片74HC688构成，显示电路是由集成芯片74HC00和发光二极管构成。可编程模块电路是由集成芯片ISPGAL16Z8，集成芯片74HC164，9125和CD4067连接构成。被测芯片接口通过电平变换电路和三态缓冲器电路与标准芯片接口或可编程模块电路接口相连接。单片机芯片8751通过由集成芯片MC1489和UA1488组成的电平转换电路与RS－232接口相连接。

附图的图面说明如下：

图1为本实用新型的电路连接方框图，

图2为可编程模块电路的连接方框图，

图3为电平变换电路图，

图4为三态缓冲器电路图，

图5为单片机电路、通讯接口电路和移位寄存器电路图，

图6为数据选择器、数据比较器和显示电路图，

图7、图8、图9、图10连接构成可编程模块电路图，

图11为在与RS－232接口相连的通用微机中的管理程序的流程图，

图12为单片机内部程序的流程图。

下面结合附图对本实用新型做进一步描述。

本实用新型是由单片机电路（DP），移位寄存器电路（YG），三态缓冲器电路（SH），电平变换电路（DB），数据选择器电路（SX），数据比较器电路（SB）和显示电路（XS）连接而成，电平变换电路（DB）设有一个与被测芯片连接的被测芯片接口（G₁）、三态缓冲器电路（SH）设有与标准芯片连接的标准芯片接口（G₂），三态缓冲器电路（SH）与可编程模块电路（KB）连接。单片机电路（DP）是由集成芯片8751构成，移位寄存器电路（YG）是由两块集成芯片9125构成，三态缓冲器电路（SH）是由集成芯片74HC125构成，电平变换电路（DB）是由集成芯片LM324和74HC4050构成。数据选择器电路（SX）是由集成芯片74HC157A构成，数据比较器电路（SB）是由集成芯片74HC688构成，而显示电路（XS）是由集成芯片74HC00和发光二极管构成。可编程模块电路（KB）是由集成芯片ISPGAL16Z8，集成芯片74HC164、9125和CD4067连接构成。被测芯片接口（G₁）通过电平变换电路（DB）和三态缓冲器电路（SH）与标准芯片接口（G₂）或可编程模块电路（KB）接口相连接。单片机芯片8751通过由集成芯片MC1489和UA1488组成的电平转换电路与RS－232接口相连接。

本实用新型所依据的基本原理是：如果给两块逻辑功能相同的数字电路同时施加相同的输入激励，则其输出响应必是相同。反之，如果给两块逻辑电路施加相同的输入激励其输出响应不同，则这两块电路的逻辑功能必定不同。