[实用新型]实时跟踪比较式集成电路测试装置无效
| 申请号： | 93230839.2 | 申请日： | 1993-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN2179593Y | 公开（公告）日： | 1994-10-12 |
| 发明（设计）人： | 孙海文;孙胜文 | 申请（专利权）人： | 孙海文;孙胜文 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 青岛市专利服务中心 | 代理人： | 赵航 |
| 地址： | 266100 山东省青岛*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 实时 跟踪 比较 集成电路 测试 装置 | ||
1、一种实时跟踪比较式集成电路测试装置，其特征在于它是由单片机电路，移位寄存器电路，三态缓冲器电路，电平变换电路，数据选择器电路，数据比较器电路和显示电路连接而成，电平变换电路设有与被测芯片连接的被测芯片接口，三态缓冲器电路设有与标准芯片连接的标准芯片接口。
2、根据权利要求1所述的实时跟踪比较式集成电路测试装置，其特征在于三态缓冲器电路与可编程模块电路连接。
3、根据权利要求1或2所述的实时跟踪比较式集成电路测试装置，其特征在于所述的单片机电路是由集成芯片8751构成，移位寄存器电路是由集成芯片9125构成，三态缓冲器电路是由集成芯片74HC125构成，电平变换电路是由集成芯片LM324和74HC4050构成，数据选择器电路是由集成芯片74HC157A构成，数据比较器电路是由集成芯片74HC688构成，显示电路是由集成芯片74HC00和发光二极管构成。
4、根据权利要求3所述的实时跟踪比较式集成电路测试装置，其特征在于所述的可编程模块电路是由集成芯片ISPGAL16Z8、集成芯片74HC164、9125和CD4067连接构成。
5、根据权利要求4所述的实时跟踪比较式集成电路测试装置，其特征在于所述的被测芯片接口通过电平变换电路和三态缓冲器电路与标准芯片接口或可编程模块电路接口相连接。
6、根据权利要求5所述的实时跟踪比较式集成电路测试装置，其特征在于所述的单片机芯片8751通过由集成芯片MC1489和VA1488组成的电平转换电路与RS－232接口相连接。
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