[实用新型]芯片加热系统有效
| 申请号: | 202320330552.3 | 申请日: | 2023-02-15 |
| 公开(公告)号: | CN219610362U | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
| 发明(设计)人: | 殷文亮;汪培鑫 | 申请(专利权)人: | 杭州富芯半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 丁俊萍 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 芯片 加热 系统 | ||
1.一种芯片加热系统(100),其特征在于,包括:
加热腔室(20);
加热单元(60),设置于所述加热腔室(20)内,用于加热所述芯片;
进气单元(70),连接于所述加热腔室(20),用以朝向所述加热腔室(20)输送工艺气体;
冷泵(10),连接于所述加热腔室(20),用以抽取所述加热腔室(20)内的气体;以及
水汽监测单元(80),设置于加热腔室(20)上,用以实时测量所述加热腔室(20)内的水汽含量,以调整所述加热单元(60)的加热时间。
2.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,还包括闸门阀(40),设置于所述加热腔室(20)与所述冷泵(10)之间,所述闸门阀(40)用以根据水汽监测单元(80)的监测情况作开启或关闭。
3.根据权利要求2所述的芯片加热系统,其特征在于,还包括手阀(50),安装于所述加热腔室(20)外部,所述手阀(50)用以开启或关闭所述闸门阀(40),使得所述加热腔室(20)与所述冷泵(10)连通或隔绝。
4.根据权利要求3所述的芯片加热系统,其特征在于,当所述手阀(50)控制所述加热腔室(20)密闭时,所述闸门阀(40)呈开启状态,所述冷泵(10)对所述加热腔室(20)进行抽气,所述水汽监测单元(80)监测所述水汽含量。
5.根据权利要求2所述的芯片加热系统,其特征在于,所述闸门阀(40)以及所述冷泵(10)位于所述加热腔室(20)的底部。
6.根据权利要求2所述的芯片加热系统,其特征在于,所述闸门阀(40)以及所述冷泵(10)位于所述加热腔室(20)的侧部。
7.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,还包括基座(90),设置于所述加热腔室(20)内,用于承载所述芯片。
8.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,所述加热单元(60)通过热辐射的方式进行加热。
9.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,所述加热单元(60)还通过热传导的方式进行加热。
10.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,所述水汽监测单元(80)具备处理器,以将所述加热腔室(20)内的水汽状态数字化。
11.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,还包括耦接于所述水汽监测单元(80)的电脑装置(200),用以存储所述水汽监测单元(80)侦测到的水汽数据。
12.根据权利要求1所述的芯片加热系统,其特征在于,还包括耦接于所述水汽监测单元(80)的警报单元(300),用以于所述水汽监测单元(80)侦测到的水汽数据达到阈值时发出警报信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州富芯半导体有限公司,未经杭州富芯半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202320330552.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种低温甲醇洗工段的冷量回收及节能系统
- 下一篇:一种试剂卡
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





