[发明专利]一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法、系统及存储介质在审
申请号: | 202310903881.7 | 申请日: | 2023-07-24 |
公开(公告)号: | CN116664613A | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 马愿;王志明;袁建辉;杨晨飞;曹桂平;董宁 | 申请(专利权)人: | 合肥埃科光电科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13;G06T7/136;G06T7/70 |
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地址: | 230000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 fpga 像素 边缘 位置 检测 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法,其特征在于,包括:
FPGA获取一行像素,判断连续的N个像素的像素值,是否均位于设定的亮区阈值和暗区阈值之间;其中N是根据实际应用场景预设的亮暗过渡区域计数;
若是,则FPGA计算所述N个像素的梯度值;所述梯度值为每一个像素的像素值,与上一个像素的像素值之间的差值的绝对值;
FPGA输出所述N个像素中梯度值最大的像素的位置作为边缘位置。
2.根据权利要求1所述的基于FPGA的像素边缘位置检测方法,其特征在于,所述判断连续的N个像素的像素值,是否均位于设定的亮区阈值和暗区阈值之间,还包括:
判断是否满足:所述N个像素一侧有连续的L个像素的像素值均高于亮区阈值,另一侧有连续的M个像素的像素值均低于暗区阈值;其中,L是根据实际应用场景预设连续亮区像素计数、M是根据实际应用场景预设连续暗区像素计数。
3.根据权利要求1或2任一所述的基于FPGA的像素边缘位置检测方法,其特征在于,还包括:
若检测出的边缘位置不在预设范围内,则该位置不是实际待测边缘。
4.根据权利要求3所述的基于FPGA的像素边缘位置检测方法,其特征在于,所述预设范围是根据实际应用场景的待检测边缘对应至行像素位置的漂移距离。
5.根据权利要求1或2任一所述的基于FPGA的像素边缘位置检测方法,其特征在于,若干所述行像素检测出的边缘拟合,排除拟合边缘外异常边缘。
6.根据权利要求2所述的基于FPGA的像素边缘位置检测方法,其特征在于,还包括亚像素边缘位置检测:
所述N个像素内,每个像素的位置为x,梯度值为D;
亚像素边缘位置xedge为:;
FPGA输出所述亚像素边缘位置作为边缘位置。
7.一种基于FPGA的像素边缘位置检测系统,其特征在于,FPGA内设有边缘判定模块和梯度提取模块;
所述边缘判定模块,用于判断一行像素中,连续的N个像素的像素值,是否均位于设定的亮区阈值和暗区阈值之间;其中N是根据实际应用场景预设的亮暗过渡区域计数;
所述梯度提取模块,用于计算像素的梯度值,所述梯度值为每一个像素的像素值,与上一个像素的像素值之间的差值的绝对值;
若边缘判定模块执行的判断结果为是,则边缘判定模块获取所述N个像素的梯度值,输出所述N个像素中梯度值最大的像素的位置作为边缘位置。
8.根据权利要求7所述的基于FPGA的像素边缘位置检测系统,其特征在于,所述边缘判定模块,还用于判断是否满足:所述N个像素一侧有连续的L个像素的像素值均高于亮区阈值,另一侧有连续的M个像素的像素值均低于暗区阈值;其中,L是根据实际应用场景预设连续亮区像素计数、M是根据实际应用场景预设连续暗区像素计数。
9.根据权利要求7或8任一所述的基于FPGA的像素边缘位置检测系统,其特征在于,还包括亚像素计算模块,所述亚像素计算模块,用于计算亚像素边缘,包括:
所述N个像素内,每个像素的位置为x,梯度值为D;
亚像素边缘位置xedge为:。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质内保存有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至6任一所述的基于FPGA的像素边缘位置检测方法。
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