[发明专利]一种多路超级电容充电特性检测系统

权利要求书

1.一种多路超级电容充电特性检测系统，其特征在于包括多路超级电容充电特性检测工作硬件平台、八选一模拟开关电路、双通道运放隔离电路、MCU控制器核心电路、转换接口与串口电路、超级电容测试夹具、超级电容检测公共导线以及超级电容特性检测导线；所述多路超级电容充电特性检测工作硬件平台一侧设置测试电路安装槽，所述测试电路安装槽旁侧设置多个超级电容测试槽，所述每个超级电容测试槽左右两侧分别设置超级电容测试槽夹具横向固定孔，所述超级电容测试槽上下两侧分别设置超级电容测试槽夹具纵向固定孔；所述八选一模拟开关电路经MCU控制该芯片片选引脚进行数据选择；所述双通道运放隔离电路用于对前级充电电路与后级控制电路进行隔离；所述MCU控制器核心电路用于将数据通过转换接口与串口电路上传至上位机进行读取；所述超级电容测试夹具用于夹持被测超级电容开展测试；所述超级电容测试夹具一侧左右两端分别设置超级电容测试夹具横向固定孔，所述超级电容检测公共导线与一个超级电容测试夹具横向固定孔进行连接，用于构成通路；所述超级电容特性检测导线与超级电容测试槽夹具横向固定孔右侧相连，并与八选一模拟开关电路相连。

2.根据权利要求1所述的一种多路超级电容充电特性检测系统，其特征在于所述超级电容测试夹具中部设置超级电容测试夹具中间隔离支撑板，所述超级电容测试夹具中间隔离支撑板一侧上下分别设置超级电容测试夹具纵向固定孔，所述超级电容测试夹具中间隔离支撑板左右两侧分别设置超级电容测试夹具夹持板。

3.根据权利要求2所述的一种多路超级电容充电特性检测系统，其特征在于还包括正温度系数热敏电阻R1至R100，所述正温度系数热敏电阻个数为100个，所述超级电容测试槽用于安装超级电容测试夹具；所述超级电容测试槽夹具纵向固定孔用于与超级电容测试夹具纵向固定孔进行连接；所述超级电容测试槽夹具横向固定孔左侧与超级电容检测公共导线连接，并与一个超级电容测试夹具横向固定孔进行连接，用于构成通路；所述超级电容测试槽夹具横向固定孔右侧与超级电容特性检测导线连接，并与另一个超级电容测试夹具横向固定孔进行连接，构成通路；所述超级电容特性检测导线用于与八选一模拟开关电路相连，所述每个正温度系数热敏电阻一端与3V电源正极相连，所述每个正温度系数热敏电阻另一端与对应超级电容特性检测导线连接，接入检测电路为超级电容供电，同时可以防止电容短路造成系统损坏。

4.根据权利要求3所述的一种多路超级电容充电特性检测系统，其特征在于所述八选一模拟开关电路包括第一八选一模拟开关芯片U1至第十三八选一模拟开关芯片U13,超级电容充电电压模拟值流入八选一模拟开关芯片IN0至IN7引脚，并通过OUT引脚输出，八选一模拟开关芯片的片选引脚cntlA、cntlB、cntlC、INH与其余八选一模拟开关芯片对应引脚相连接，并最终连接到MCU，通过MCU程序对高低电平的控制实现选择功能。

5.根据权利要求4所述的一种多路超级电容充电特性检测系统，其特征在于所述双通道运放隔离电路包括第一运算放大器芯片U14、第二运算放大器芯片U15至第七运算放大器芯片U20、第一分压电阻R101、第二分压电阻R102至第二十八分压电阻R128以及第一去耦电容C101、第二去耦电容C102至第十四去耦电容C114。

6.根据权利要求5所述的一种多路超级电容充电特性检测系统，其特征在于所述MCU控制器核心电路包括MCU核心控制器与转换接口与串口电路；所述转换接口与串口电路包括USB转TTL芯片U21、第十五去耦电容C115、第十六去耦电容C116、第十七去耦电容C117、第十八去耦电容C118，晶振X1，USB接口D1。