[发明专利]一种陶瓷基板及其制备方法和用途有效
申请号: | 202310568417.7 | 申请日: | 2023-05-19 |
公开(公告)号: | CN116313833B | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 刘逢春;施元军;陆亚锋;殷岚勇 | 申请(专利权)人: | 苏州晶晟微纳半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;G01R3/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 赵颖 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 陶瓷 及其 制备 方法 用途 | ||
1.一种陶瓷基板的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:
(1)将陶瓷粉末成型制备生瓷片,并在生瓷片上打孔;
(2)将步骤(1)打孔后的生瓷片表面丝网印刷感光银浆,所用丝网的孔径为325~400目,所述感光银浆在黄光条件下使用,采用紫外光进行曝光,曝光所用紫外光的波长为355~375nm,所述曝光的能量为100~300mJ/cm2,再经显影后得到表面覆盖电路图形的生瓷片,所述显影为采用碱液对生瓷片进行喷射,所述喷射的压力为0.15~0.25MPa;
(3)将步骤(2)显影后的生瓷片进行叠层压合,所述叠层压合为:将至少两个生瓷片叠压在一起,所述生瓷片平行设置,电路图形的朝向一致,所述叠层压合的压力为5~30MPa;通过等静压粘接后进行烧结,所述等静压操作的温度为70~90℃,压力为20~70MPa,得到陶瓷基板;
所述陶瓷基板用于探针卡结构中。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)所述陶瓷粉末包括氧化铝和/或氧化硅;
步骤(1)所述成型的方式包括流延成型;
步骤(1)所述陶瓷粉末先制备成陶瓷浆料,再采用流延设备形成生瓷带,经干燥后得到生瓷片;
所述陶瓷浆料的固含量为40~60wt%;
所述生瓷片的厚度为20~200μm。
3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)所述打孔采用激光机进行;
步骤(1)所述打孔形成的是圆孔,所述圆孔的孔径为40~200μm;
所述孔的类型为贯穿通孔。
4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)所述曝光时,采用掩模板进行部分遮蔽,控制曝光线路。
5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)所述碱液包括碳酸钠溶液,其浓度为0.1~1wt%;
步骤(2)所述显影后进行清洗,生瓷片上未被曝光的感光银浆被清洗;
步骤(2)所述电路图形中,线宽和线距的比例为(0.5~2):1。
6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(3)所述等静压的保压时间为5~30min;
步骤(3)所述等静压粘接后得到的多层陶瓷片进行切割,得到所需尺寸的多层陶瓷片;
所述切割前进行预热,所述预热的温度为70~90℃;
所述预热的时间为2~5min;
所述切割采用钨钢刀片上下运动。
7.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤(3)所述烧结在烧结炉中进行;
步骤(3)所述烧结的温度为800~900℃,时间为30~60min;
步骤(3)所述烧结的升温速率为0.2~2℃/min;
步骤(3)所述烧结的气氛为空气;
步骤(3)所述烧结后随炉冷却进行降温。
8.根据权利要求1-7任一项所述的制备方法制备得到的陶瓷基板。
9.根据权利要求8所述的陶瓷基板的用途,其特征在于,所述陶瓷基板用于探针卡结构中,所述探针卡用于半导体芯片的测试。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造