[发明专利]全局3D配准方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种全局3D配准方法，其特征在于，包括：

获取多个术前配准点和多个术中配准点；

确定所述多个术前配准点中的第一目标点和所述多个术中配准点中的第二目标点，其中，所述第一目标点的数量和所述第二目标点的数量分别至少有多个；

基于所述第一目标点和所述第二目标点，分别确定多个第一特征参数和多个第二特征参数；

基于所述多个第一特征参数和所述多个第二特征参数，确定目标配准点集；

基于所述目标配准点集，确定目标配准矩阵；

基于所述目标配准矩阵，确定所述多个术前配准点与所述多个术中配准点之间的对应关系。

2.根据权利要求1所述的全局3D配准方法，其特征在于，确定所述多个术前配准点中的第一目标点，包括：

选取所述多个术前配准点中的第一特征点；

确定所述第一特征点在第一预设距离内的第三特征点的第一数量；

若所述第一数量满足第一预设数量要求，则确定所述第一特征点为第一目标点；

确定所述多个术中配准点中的第二目标点，包括：

选取所述多个术中配准点中的第二特征点；

确定所述第二特征点在第二预设距离内的第四特征点的第二数量；

若所述第二数量满足第二预设数量要求，则确定所述第二特征点为第二目标点。

3.根据权利要求2所述的全局3D配准方法，其特征在于，基于所述第一目标点确定多个第一特征参数，包括：

基于所述第一目标点构建第一坐标系；

基于所述第一目标点和多个所述第三特征点，确定所述第一目标点在所述第一坐标系中的多个第一特征参数；

基于所述第二目标点确定多个第二特征参数，包括：

基于所述第二目标点构建第二坐标系；

基于所述第二目标点和多个所述第四特征点，确定所述第二目标点在所述第二坐标系中的多个第二特征参数；

其中，多个第一特征参数和多个第二特征参数包括以下至少之一：

角度参数；

距离参数。

4.根据权利要求1至3任一项所述的全局3D配准方法，其特征在于，所述基于所述多个第一特征参数和所述多个第二特征参数，确定目标配准点集，包括：

确定所述多个术前配准点中的每个第一目标点的多个第一特征参数与所述多个术中配准点中的每个第二目标点的多个第二特征参数的匹配关系；

在确定匹配关系满足预设匹配要求时，则确定该匹配关系对应的第一目标点和第二目标点为对应的目标配准点，多个目标配准点组成目标配准点集。

5.根据权利要求4所述的全局3D配准方法，其特征在于，所述基于所述目标配准点集，确定目标配准矩阵，包括：

确定所述多个术前配准点中的多个第一目标配准点的第一中心和所述多个术中配准点中的多个第二目标配准点的第二中心；

分别计算多个第一目标配准点至所述第一中心的多个第一距离，以及多个第二目标配准点至所述第二中心的多个第二距离；

基于所述多个第一距离和所述多个第二距离，确定目标配准矩阵的旋转部分和平移部分；

基于所述旋转部分和所述平移部分，得到目标配准矩阵。

6.根据权利要求2所述的全局3D配准方法，其特征在于，所述第一数量满足第一预设数量要求，包括：

所述第一数量大于或等于M且小于或等于N，其中，N为多个术前配准点个数的六分之一。