[发明专利]基于高频电磁波电阻率测井的高阻地层井眼校正方法在审

专利信息
申请号: 202310514413.0 申请日: 2023-05-09
公开(公告)号: CN116661008A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 王琳婧;邓少贵;冯世博;孙维江;杜宇;裴培;蔡联云 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38;E21B49/00;G01V3/18;G01V3/30
代理公司: 青岛润集专利代理事务所(普通合伙) 37327 代理人: 王爱丽
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 基于 高频 电磁波 电阻率 测井 地层 校正 方法
【权利要求书】:

1.基于高频电磁波电阻率测井的高阻地层井眼校正方法,其特征在于,包括如下步骤:

s1.建立高阻地层电磁波电阻率测井方法;

s2.基于高阻地层中不同含井眼柱状成层地层模型开发磁偶极子源电磁场伪解析快速算法;

s3.模拟分析由于井眼的存在而导致的地层电阻率异常的问题;

s4.高阻地层条件下不同井眼因素参数的选择,确定井眼校正数据库中包含的数据范围;

s5.对泥浆电阻率、井径、偏心率、相对介电常数井眼影响因素进行正演模拟与分析;

s6.详述在高阻地层中不同影响因素其响应结果的变化规律;

s7.将模拟结果得到的数据组合并建立井眼校正数据库,形成基于高频电磁波电阻率测井的高阻地层井眼校正方法。

2.根据权利要求1所述的基于高频电磁波电阻率测井的高阻地层井眼校正方法,其特征在于,所述步骤s2中,基于高阻地层中不同含井眼柱状成层地层模型开发磁偶极子源电磁场伪解析快速算法的步骤,具体为:

步骤s21、电磁场伪解析解快速计算方法

对于位于(ρT,0,0)处的磁偶极子,在介质中的场在柱坐标系下z分量场展开为:

步骤s22、通过匹配边界条件导出狭义的反射/透射系数的表达式,即:

公式(2)中,表示两层之间的狭义反射系数,表示两层之间的狭义透射系数;

经过对狭义反射/透射系数的扩展及讨论,得到柱状成层介质中驻波和外向波经广义反射/透射求解后的表达式,即:

3.根据权利要求1所述的基于高频电磁波电阻率测井的高阻地层井眼校正方法,其特征在于,所述步骤s5中,高阻地层条件下井眼影响因素参数的选择,具体为:

井眼泥浆电导率Rm、井径a、仪器偏心率Ecc以及相对介电常数εr,(1)井眼泥浆电阻率的范围是从淡水泥浆到完全不导电的纯油泥浆,即Rm=1Ω·m-100000Ω·m;(2)井径的取值范围是a=0.05m-0.22m;(3)偏心率的选择为Ecc=0-0.8,其中Ecc=ρEcc/a,ρEcc为偏心的距离;(4)相对介电常数的取值范围选择为εr=1-20。

4.根据权利要求1所述的基于高频电磁波电阻率测井的高阻地层井眼校正方法,其特征在于,所述步骤s7中,建立井眼校正数据库步骤为:

步骤s71、先计算各种地层和井眼条件下的相位差和幅度比;

步骤s72、根据均匀地层介质中的相位差、幅度比和地层电阻率的关系,把实际测量得到的响应结果转换成视电阻率。

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