[发明专利]基于机器视觉的目标检测方法、装置、电子设备以及介质

说明书

本发明公开了一种基于机器视觉的目标检测方法、装置、电子设备以及介质。所述方法包括确定待检测目标的待检测图像；确定待检测图像采用的至少两个目标滑动窗口，采用目标滑动窗口对待检测图像进行切分得到对应的待检测切分子图像，至少两个目标滑动窗口包括至少两个不同预设尺寸的滑动窗口；依据至少两个目标滑动窗口切分的待检测切分子图像对待检测目标进行缺陷检测。本实施例方案，通过配置至少两个不同预设尺寸的滑动窗口作为目标滑动窗口，能够实现适应图像中不同尺寸的缺陷进行切分，尽可能避免因为图像中部分缺陷尺寸较小而无法被检出，同时避免高分辨率图像在缺陷识别过程中占用过大的显存空间，造成出现显存溢出的问题。

技术领域

本发明涉及图像识别技术领域，尤其涉及一种基于机器视觉的目标检测方法、装置、电子设备以及介质。

背景技术

在目标检测领域，在图像中进行缺陷检测的要求越来越高，不仅要检出明显、尺寸很大的缺陷，而且对于微小、不明显的缺陷也要检测出来。

相关方案中，对于明显、尺寸很大的缺陷不必采用高分辨率图像就可以检出，而对于微小、不明显的缺陷而言，缺陷在图像中占用的像素非常低，通常采用视野和精度较高的相机得到高分辨率图像进行检测，比如达到8192x15000甚至更高分辨率的图像进行缺陷检测。

但是，采用高分辨率图像进行缺陷检测时存在以下问题，一方面会占用较大的显存空间，对于普通的GPU显存来说，处理高分辨率图像经常会出现显存溢出的问题，无法很好应用；另一方面是微小缺陷在图像中占比很小，其在整幅图像中占比很低信息特征会丢失甚至消失，导致无法检出。

发明内容

本发明提供了一种基于机器视觉的目标检测方法、装置、电子设备以及介质，以解决对高清图像中缺陷检测存在的检出率低和高计算量的问题。

根据本发明的一方面，提供了一种基于机器视觉的目标检测方法，所述方法包括：

确定待检测目标的待检测图像；

确定所述待检测图像采用的至少两个目标滑动窗口，采用所述目标滑动窗口对待检测图像进行切分得到对应的待检测切分子图像，所述至少两个目标滑动窗口包括至少两个不同预设尺寸的滑动窗口；

依据所述至少两个目标滑动窗口切分的待检测切分子图像，对所述待检测目标进行缺陷检测。

根据本发明的另一方面，提供了一种基于机器视觉的目标检测装置，所述装置包括：

图像确定模块，用于确定待检测目标的待检测图像；

图像切分模块，用于确定所述待检测图像采用的至少两个目标滑动窗口，采用所述目标滑动窗口对待检测图像进行切分得到对应的待检测切分子图像，所述至少两个目标滑动窗口包括至少两个不同预设尺寸的滑动窗口；

缺陷检测模块，用于依据所述至少两个目标滑动窗口切分的待检测切分子图像，对所述待检测目标进行缺陷检测。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的基于机器视觉的目标检测方法。

根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的基于机器视觉的目标检测方法。