[发明专利]薄膜晶体管在审
申请号: | 202310143346.6 | 申请日: | 2023-02-21 |
公开(公告)号: | CN115954382A | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 张国瑞;陈文泰;江启圣;廖昱筌;翁健森;孙铭伟 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/786 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 | ||
一种薄膜晶体管,包括基板、半导体层、栅极绝缘层、栅极、源极以及漏极。半导体层位于基板之上。栅极绝缘层位于半导体层上。栅极位于栅极绝缘层之上,且重叠于半导体层。栅极包括第一部分、第二部分以及第三部分。第一部分沿着栅极绝缘层的表面延伸,且直接接触栅极绝缘层。第二部分分离于栅极绝缘层。以栅极绝缘层的表面为基准,第二部分的顶面高于第一部分的顶面。第三部分连接第一部分至第二部分。源极以及漏极电性连接至半导体层。
技术领域
本发明涉及一种薄膜晶体管。
背景技术
一般而言,电子装置中都包含有许多的主动元件。举例来说,显示装置中常包含有许多薄膜晶体管,且这些薄膜晶体管是利用在基板上沉积各种不同的薄膜(例如半导体、金属、介电层等)来形成。在显示装置中,薄膜晶体管可以设置于像素结构中,也可设置于驱动电路中。
随着科技的进步,各种工艺技术的临界尺寸(Critical size)逐渐缩小。栅极与半导体层之间的间距越来越小,因此,栅极所产生的电场容易影响半导体层之间的载子,进而导致薄膜晶体管的效能变差。
发明内容
本发明提供一种薄膜晶体管,能改善垂直电场所造成的漏电问题。
本发明的至少一实施例提供一种薄膜晶体管。薄膜晶体管包括基板、半导体层、栅极绝缘层、栅极、源极以及漏极。半导体层位于基板之上。栅极绝缘层位于半导体层上。栅极位于栅极绝缘层之上,且重叠于半导体层。栅极包括第一部分、第二部分以及第三部分。第一部分沿着栅极绝缘层的表面延伸,且直接接触栅极绝缘层。第二部分分离于栅极绝缘层。以栅极绝缘层的表面为基准,第二部分的顶面高于第一部分的顶面。第三部分连接第一部分至第二部分。源极以及漏极电性连接至半导体层。
本发明的至少一实施例提供一种薄膜晶体管。薄膜晶体管包括基板、半导体层、栅极绝缘层、栅极、源极以及漏极。半导体层位于基板之上。栅极绝缘层位于半导体层上。栅极位于栅极绝缘层之上,且重叠于半导体层。第一部分的栅极直接接触栅极绝缘层,且第二部分的栅极与栅极绝缘层之间具有真空空隙。源极以及漏极电性连接至半导体层。
附图说明
图1是依照本发明的一实施例的一种薄膜晶体管的剖面示意图。
图2A至图2I是图1的薄膜晶体管的制造方法的剖面示意图。
附图标记说明:
100:基板
110:半导体层
110’:半导体图案
112:源极区
114:第二轻掺杂区
115,115’:通道区
116:第一轻掺杂区
118:漏极区
120:闸绝缘层
130:栅极
130’:栅极图案层
130”:栅极材料层
132:第一部分
132a,134a,136a:底面
132b,134b,136b:顶面
134:第二部分
136:第三部分
140:层间介电层
142,144,162,164,OP:开口
152:源极
154:漏极
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