[发明专利]一种闪存阵列及闪存芯片在审

专利信息
申请号: 202310104404.4 申请日: 2023-01-30
公开(公告)号: CN115988879A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 王春明 申请(专利权)人: 北京知存科技有限公司
主分类号: H10B41/10 分类号: H10B41/10;H10B41/35;H10B41/41;G11C5/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 苏舒音
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 闪存 阵列 芯片
【说明书】:

发明公开了一种闪存阵列及闪存芯片。闪存阵列包括阵列排布的多个闪存模块;闪存模块包括一个存算单元和至少一个虚设单元;存算单元与虚设单元相间排布;虚设单元包括第一衬底、位于第一衬底内的第一漏极区域、第一源极区域和第一沟道区域、及位于第一衬底上的第一选择栅极、第一控制栅极和第一浮置栅极;其中,第一控制栅极与第一浮置栅极位于第一选择栅极的第一侧;第一漏极区域在第一衬底的正投影位于第一选择栅极在第一衬底的正投影的第二侧;虚设单元还包括第一硅化物结构,第一硅化物结构位于第一漏极区域远离第一衬底的表面,且第一硅化物结构与第一衬底不连接。本发明实施例的技术方案提高了对存算单元的编程效率和准确性。

技术领域

本发明涉及闪存技术领域,尤其涉及一种闪存阵列及闪存芯片。

背景技术

闪存(Flash Memory)是一种非易失性存储器,断电不会丢失数据,因此得到广泛应用。随着闪存技术的要求越来越高,存算一体的闪存单元得到了快速发展。

闪存芯片中包含存算闪存单元时,需要将两个存算闪存单元的选择栅极隔开,避免存算闪存单元在编程操作时,对相邻存算闪存单元产生干扰。在隔开存算闪存单元的选择栅极时,为了避免存算闪存单元被破坏,在两个存算闪存单元之间设置虚设闪存单元。

但现有方案的虚设闪存单元的沟道较容易受到工艺偏差影响,使得虚设闪存单元漏电较大,对编程中的存算闪存单元的电压产生干扰,从而对存算闪存单元的编程能力或编程效率产生影响。

发明内容

本发明提供了一种闪存阵列及闪存芯片,以解决虚设闪存单元对存算闪存单元的编程能力或编程效率产生影响的问题。

根据本发明的一方面,提供了一种闪存阵列,其特征在于,包括阵列排布的多个闪存模块;所述闪存模块包括一个存算单元和至少一个虚设单元;

所述存算单元与所述虚设单元相间排布;

所述虚设单元包括第一衬底、位于所述第一衬底内的第一漏极区域、第一源极区域和第一沟道区域、及位于所述第一衬底上的第一选择栅极、第一控制栅极和第一浮置栅极;其中,所述第一控制栅极与所述第一浮置栅极位于所述第一选择栅极的第一侧;所述第一漏极区域在所述第一衬底的正投影位于所述第一选择栅极在所述第一衬底的正投影的第二侧;

所述虚设单元还包括第一硅化物结构,所述第一硅化物结构位于所述第一漏极区域远离所述第一衬底的表面,且所述第一硅化物结构与所述第一衬底不连接。

可选地,所述存算单元包括第二衬底、位于所述第二衬底内的第二漏极区域、第二源极区域和第二沟道区域、及位于所述第二衬底上的第二选择栅极、第二控制栅极和第二浮置栅极;其中,所述第二控制栅极与所述第二浮置栅极位于所述第二选择栅极的第一侧;所述第二漏极区域在所述第二衬底的正投影位于所述第二选择栅极在所述第二衬底的正投影的第二侧;

所述第一漏极区域与所述第二漏极区域的尺寸相同。

可选地,所述闪存阵列还包括多条源极线;

所述源极线与所述存算单元的源极一一对应连接;其中,在对目标存算单元进行编程时,目标源极线相邻的源极线用于向其对应的存算单元写入保护电压;其中,所述目标源极线为所述目标存算单元对应的源极线。

可选地,所述第一漏极区域为浅槽。

可选地,所述第一选择栅极在所述第一衬底的正投影包括:与所述第一沟道区域在所述第一衬底的正投影交叠的第一部分、及外露于所述第一沟道区域的第二部分;

所述第一部分的长度大于第一预设长度;其中,所述预设长度为所述第一选择栅极的宽度的二分之一;所述第一部分的长度与所述第一选择栅极的宽度为第一方向的尺寸,所述第一方向为所述第一选择栅极的第一侧指向其第二侧的方向;

所述第二部分的宽度大于工艺偏差值。

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