[发明专利]半导体设备、电机驱动系统及其控制方法

权利要求书

1.一种半导体设备，用于控制被配置为驱动三相电机的驱动电路，所述半导体设备包括：

电流检测电路，被配置为通过驱动所述驱动电路来检测流过所述三相电机的电流；以及

控制器，被配置为基于所检测的所述电流来控制所述驱动电路，

其中所述三相电机具有第一相、第二相和第三相，并且

其中所述控制器被配置为在所述三相电机静止时，控制通电模式以使得检波电流从所述驱动电路顺序地流向所述第一相和所述第二相之间的第一相间、所述第二相和所述第三相之间的第二相间、以及所述第三相和所述第一相之间的第三间相，

从由所述电流检测电路检测的所述检波电流中获得第一相间电流差、第二相间电流差和第三相间电流差，所述第一相间电流差、所述第二相间电流差和所述第三相间电流差中的每个相间电流差是针对所述第一相间、所述第二相间和所述第三相间中的每个的在彼此相反的方向上流动的检波电流之间的差异；以及

基于所述第一相间电流差、所述第二相间电流差和所述第三相间电流差之间的幅值关系来确定在所述三相电机的初始驱动中使用的所述通电模式。

2.根据权利要求1所述的半导体设备，

其中当所述三相电机静止时，所述控制器控制所述驱动电路以使得第一电流根据第一通电模式从所述第一相流向所述第二相，第二电流根据第二通电模式从所述第一相流向所述第三相，第三电流根据第三通电模式从所述第二相流向所述第三相，第四电流根据第四通电模式从所述第二相流向所述第一相，第五电流根据第五通电模式从所述第三相流向所述第一相，并且第六电流根据第六通电模式从所述第三相流向所述第二相，

其中所述电流检测电路检测第一至第六电流，以及

其中所述第一相间电流差是所述第一电流和所述第四电流之间的差异，所述第二相间电流差是所述第二电流和所述第五电流之间的差异，并且所述第三相间电流差是所述第三电流和所述第六电流之间的差异。

3.根据权利要求2所述的半导体设备，

其中所述控制器被配置为基于所述第一相间电流差、所述第二相间电流差和所述第三相间电流差之间的所述幅值关系来检测所述三相电机的转子位置，以及

参考检测到的转子位置作为基本位置，来确定在所述初始驱动中使用的所述通电模式。

4.根据权利要求3所述的半导体设备，

其中所述控制器被配置为基于所述第一相间电流差、所述第二相间电流差和所述第三相间电流差中的最大相间电流差来检测所述转子位置。

5.根据权利要求4所述的半导体设备，

其中所述控制器被配置为基于如下的两个电流之间的幅值关系来检测所述转子位置，所述最大相间电流差根据所述两个电流被计算出。

6.根据权利要求3所述的半导体设备，

其中所述控制器

基于所述第一相间电流差、所述第二相间电流差和所述第三相间电流差之间的所述幅值关系来确定被附加到所述基本位置的附加参数，

基于所述附加参数的附加结果来确定在所述初始驱动中使用的所述通电模式。

7.根据权利要求6所述的半导体设备，

其中所述控制器基于所述第一相间电流差、所述第二相间电流差和所述第三相间电流差中除最大相间电流差之外的两个相间电流差之间的幅值关系来确定所述附加参数。

8.根据权利要求6所述的半导体设备，

其中所述附加参数对应于所述三相电机的电角度。