[实用新型]支撑平台有效
申请号: | 202223375823.1 | 申请日: | 2022-12-15 |
公开(公告)号: | CN218677113U | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 姜宗帅 | 申请(专利权)人: | 拓荆科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/677 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 徐良栋 |
地址: | 201306 上海市浦东新区中国(上海)*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支撑 平台 | ||
本实用新型提供了一种支撑平台,涉及半导体设备制造的技术领域,包括机架和安装于机架的机械手;机架包括:第一支撑平台、第二支撑平台和多个支撑立柱,第一支撑平台设置于第二支撑平台的底部,且第一支撑平台和第二支撑平台之间形成维护区;多个支撑立柱绕维护区的周侧间隔设置;多个支撑立柱两两之间设置有拆卸板,拆卸板可拆卸连接于机架,缓解现有技术中存在的工作人员在进行机械手维护时,通常需要通过吊车等运送工具将机械手从传输平台拆除后,进行驱动器总成的维护,操作流程繁复,现场工作人员劳动强度较大的技术问题,提升了工作效率。
技术领域
本实用新型涉及半导体设备制造的技术领域,尤其是涉及一种支撑平台。
背景技术
为满足半导体加工的工艺需求,需采用半导体设备传输平台用于晶元的加工,即现有的半导体加工设备大都为两级传送腔结构,功能传送腔和工艺传送腔两个腔体;每个传送腔根据工艺需求可外挂多个功能模块及工艺模块;并且两级传送腔之间采用“双通道”的连接方式进行对接,在机械手的操作下实现晶圆的“进出”传送,因此,工作人员需定期对机械手进行维护,以保障机械手的使用可靠性。
现有技术中,机械手的主要维护部分在于其驱动器总成,但是,由于传输平台设计不合理,由于机械手组成部件较为复杂,且机械手的驱动器总成部分通常嵌合于传输平台的内部,工作人员在进行机械手维护时,通常需要通过吊车等运送工具将机械手从传输平台拆除后,进行驱动器总成的维护,操作流程繁复,现场工作人员劳动强度较大,且工作效率较低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种支撑平台,以缓解现有技术中存在的由于机械手组成部件较为复杂,且机械手的驱动器总成部分通常嵌合于传输平台的内部,工作人员在进行机械手维护时,通常需要通过吊车等运送工具将机械手从传输平台拆除后,进行驱动器总成的维护,操作流程繁复,现场工作人员劳动强度较大,且工作效率较低的技术问题。
第一方面,本实用新型提供的支撑平台,包括机架和安装于所述机架的机械手;
所述机架包括:第一支撑平台、第二支撑平台和多个支撑立柱,所述第一支撑平台设置于所述第二支撑平台的底部,且所述第一支撑平台和所述第二支撑平台之间形成维护区;多个所述支撑立柱绕所述维护区的周侧间隔设置;
所述第二支撑平台设有限位孔,所述机械手中控制器总成沿所述限位孔安装于所述维护区内,多个所述支撑立柱两两之间设置有拆卸板,所述拆卸板可拆卸连接于所述机架。
结合第一方面的第一种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,所述维护区的高度大于所述控制器总成的高度。
结合第一方面,本实用新型提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,所述限位孔的内径大于所述控制器总成的最大外径。
结合第一方面的第一种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,多个所述支撑立柱呈多边形设置。
结合第一方面的第三种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,多个所述支撑立柱背离所述维护区的端部设有支撑板,所述支撑板用于支撑传输腔体。
结合第一方面的第四种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第五种可能的实施方式,其中,还包括移动脚轮,所述支撑立柱设有连接件,所述移动脚轮与所述连接件可拆卸连接。
结合第一方面的第四种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第六种可能的实施方式,其中,所述第一支撑平台的底部设有叉车横梁,所述叉车横梁用于所述机架的搬运。
结合第一方面的第六种可能的实施方式,本实用新型提供了第一方面的第七种可能的实施方式,其中,所述第一支撑平台的底部还设有多个支撑座,所述支撑座用于调节所述第一支撑平台的高度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造