[实用新型]一种反应离子蚀刻系统有效

专利信息
申请号: 202222992949.7 申请日: 2022-11-10
公开(公告)号: CN218730792U 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 苏宜鹏 申请(专利权)人: 东莞市晟鼎精密仪器有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01L21/67
代理公司: 北京智行阳光知识产权代理事务所(普通合伙) 11738 代理人: 朱兴明
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 反应 离子 蚀刻 系统
【说明书】:

本实用新型涉及数控机床技术领域,具体为一种反应离子蚀刻系统,包括机架,所述机架内安装有真空泵组,所述机架的顶部固定有真空管道,所述真空管道与真空泵组连接,所述真空管道的一侧安装有RF匹配器,所述RF匹配器的上方设置有工艺壳体,所述工艺壳体内开设有工艺腔体;本实用新型通过设置电极间距调节机构,使该装置的电极片间距能够调节,代替传统的固定式电极方式作业,当对产品批量性作业时,能够适用于多种产品,且活动是电极片在制作时,不需要通过测试匹配,使该结构无论是在制作还是在使用过程中,均能提高便捷性和批量性作业的工作效率,同时能够通过免去测试匹配降低成本。

技术领域

本实用新型涉及半导体材料干法刻蚀技术领域,具体为一种反应离子蚀刻系统。

背景技术

在半导体工艺中,光刻胶在每道工艺结束后,或者在下一道工艺之前都需要进行表面处理或直接去除。等离子体刻蚀或去胶作为半导体工艺中关键一步。等离子体刻蚀或去胶的工作原理为将工艺气体(如氩气Ar、氧气O2、氮气N2、氯气Cl2、四氟化碳CF4、六氟化硫SF6等)通入工艺腔内,通过电激励或光激励方式将工艺气体进行解离、激发或电离等,被离化的自由基或离子通过自由扩散至晶圆表面,并与晶圆相互作用进行相应的刻蚀或去胶。

如中国专利CN214753638U公开的一种等离子体蚀刻装置。等离子体蚀刻装置包括腔体;进气口,进气口设于腔体的一侧,用于供目标气体通入腔体;排气口,排气口设于腔体远离进气口的一侧,用于排气;第一电极组件,第一电极组件设于腔体远离进气口的一侧,第一电极组件的不同区域相独立,能够接入不同的电压;第二电极组件,第二电极组件设于腔体远离第一电极组件的一侧,且与第一电极组件相对。通过第一电极组件的不同区域可接入不同的电压,能够实现差异化的电压控制,在一些蚀刻过程中,通过上述等离子体蚀刻装置能够达到改善蚀刻均一性的效果。

现有技术方案多采用反应离子方式,但现有技术设备中大部分搭载的仍然为间距固定式电极方式作业,对于批量性或实验频繁性的作业而言有一定限制,且制作固定电极装配间距时需通过测试匹配方式实现,相较而言成本偏高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种反应离子蚀刻系统,用以解决现有技术存在匹配间距切换耗时长,成本高的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种反应离子蚀刻系统,包括机架,所述机架内安装有真空泵组,所述机架的顶部固定有真空管道,所述真空管道与真空泵组连接,所述真空管道的一侧安装有RF匹配器,所述RF匹配器的上方设置有工艺壳体,所述工艺壳体内开设有工艺腔体,所述工艺腔体内设置有喷淋组件和电极片本体,所述工艺壳体内设置有电极密封支撑柱,所述电极密封支撑柱的底端设置有电极片本体的间距调节机构,所述工艺壳体的一侧设置有真空连接组件,所述工艺壳体的顶部设置有产品装载平台。

优选的,所述真空连接组件包括真空挡板阀,所述工艺壳体的一侧安装有真空计,所述真空计与工艺腔体连通,所述工艺壳体的底部安装有真空抽口,所述真空挡板阀通过管道与真空抽口连接,所述工艺壳体的一侧安装有真空门阀,所述真空门阀与工艺腔体连通。

优选的,所述喷淋组件包括匀气喷淋板,所述匀气喷淋板安装在工艺腔体内,所述匀气喷淋板呈圆盘形设置,所述匀气喷淋板的上表面设置有若干圆形通孔。

优选的,所述电极片本体包括上电极片和下电极片,所述上电极片安装在工艺腔体的顶部,所述下电极片安装在电极密封支撑柱的顶部,所述电极密封支撑柱的底端贯穿工艺壳体且与工艺壳体滑动连接。

优选的,所述间距调节机构包括支架,所述支架通过螺丝与RF匹配器的上表面固定连接,所述支架内转动连接有螺杆,所述支架内设置有驱动螺杆转动的驱动机构,所述支架的上表面设置有导向柱。

优选的,所述驱动机构包括伺服电机和传动带,所述伺服电机与基板固定连接,所述螺杆设置有两个,每个所述螺杆的一端均固定有传动轮,所述伺服电机的输出端通过转轴与其中一个传动轮固定连接,所述传动带的两端位于两个传动轮外。

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