[实用新型]一种半导体分立器件动态特性测试机柜

说明书

本实用新型公开了一种半导体分立器件动态特性测试机柜，包括接地处理的柜体，柜体的前部无门，两侧及后部分别设置有侧门及后门，侧门及后门独立开合，柜体一侧设置有总空开，柜体顶部设置有报警灯，柜体前部设置有多个安装槽位，柜体前部还设置有显示器，显示器与柜体通过摇臂连接，所述安装槽位下端设置有出线孔；柜体前部还设置有急停开关、存储位、托盘；所述柜体内部设置有多个排插。本实用新型组装灵活，外形美观、结构坚固，将不同的测试仪器集中在一起，便于在同一位置检测不同的产品或不同项目，同时保证测试工作的安全性。

技术领域

本实用新型涉及电力电子技术领域，特别涉及一种半导体分立器件动态特性测试机柜。

背景技术

半导体分立器件作为电子系统中的基本单元，其应用场景广泛，范围已经从传统的消费电子、工业控制、电力传输、新能源等领域，扩展到物联网、大数据等新兴应用领域，随着市场新增需求的不断扩大，全球功率半导体的市场规模整体出现波动增长的态势，因此对于半导体分立器件参数要求也随之更高。现有半导体分立器件动态测试装置，高低压源设备摆放堆叠，不仅占用空间，而且在测试不同项目时需要经常移动位置进行相应的测试；在测试过程中需手动切换连线，并且长期手动切换连线容易出现接线端口接触不良的现象；测试设备与数据处理区域混合，且无保护措施，连接复杂容易出错；日常移动位置需单独对每个设备进行搬运，麻烦且不利于搬运。

发明内容

有鉴于此，本实用新型提供了一种半导体分立器件动态特性测试机柜装置，可靠、安全且利于搬运，并兼顾电路元件的收纳存储。

本实用新型实施例的技术方案是：

一种半导体分立器件动态特性测试机柜，包括接地处理的柜体，柜体的前部无门，两侧及后部分别设置有侧门及后门，侧门及后门独立开合，柜体一侧设置有总空开，柜体顶部设置有报警灯，柜体前部设置有多个安装槽位，柜体前部还设置有显示器，显示器与柜体通过摇臂连接，所述安装槽位下端设置有出线孔；柜体前部还设置有急停开关、存储位、托盘；所述柜体内部设置有多个排插。

所述柜体为不可拆分的并柜。

所述侧门及后门上设置有散热孔。

所述柜体前部还设置有高压电源空开、指示灯、电压表及显示面板。

所述柜体前部的安装槽位设置有翻转门，所述翻转门通过支撑杆与柜体连接。

所述翻转门为透明材质。

所述柜体底部设置有底部支撑，包括多个万向脚轮和调平支架。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

（1）组装灵活，外形美观、结构坚固；

（2）柜体上设置多个安装槽位，能够将不同的测试仪器集中在一起，不但减少了占用空间、方便运输，而且便于在同一位置检测不同的产品或不同项目；

（3）设有散热孔，保证测试仪器在指定的环境规格条件下正常工作；

（4）设有高压电源空开、指示灯、电压表及显示面板，便于及时控制及监测测试工况；

（5）通过翻转门将测试电路与操作隔离，增加外部环境与测试电路的绝缘性，从而确保测试过程中操作的安全性；

（6）增加抽屉与储物柜，便于测试电路中所需测试原件的存放与更换；

（7）设置急停开关与报警灯，便于在突发故障时控制设备停止运行，确保人身和设备安全。

附图说明

图1是本实用新型的半导体分立器件动态测试机柜的结构示意图。

图2是本实用新型的半导体分立器件动态测试机柜的主视图。