[实用新型]一种承载装置、承载盘以及检测设备有效
申请号: | 202222317894.X | 申请日: | 2022-08-31 |
公开(公告)号: | CN218333741U | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 路纪亚;张鹏斌;陈鲁;张嵩 | 申请(专利权)人: | 深圳中科飞测科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/66 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 廖金晖;彭家恩 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区观澜*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 承载 装置 以及 检测 设备 | ||
1.一种承载装置,其特征在于,包括:底座(1)、承载盘(2)、定位组件(3)以及压紧部件(4);
所述承载盘(2)设置在所述底座(1)上,用于承载待测件(200);所述承载盘(2)具有居中设置的第一凹槽(23);
所述定位组件(3)设置在所述承载盘(2)的边缘部位,所述定位组件(3)被配置为在所述待测件(200)被所述承载盘(2)承托后,通过与所述待测件(200)的侧边的预设定位部(210)相抵接从而将所述待测件(200)以第一预设姿态定位在所述承载盘(2)上;
所述压紧部件(4)设置在所述承载盘(2)的周侧,所述压紧部件(4)被配置为通过施加预设压力于所述待测件(200)的可接触部位上,以将所述待测件(200)固定在所述承载盘(2)上。
2.如权利要求1所述的承载装置,其特征在于,所述承载盘(2)具有第一定位部(21),所述底座(1)具有与所述第一定位部(21)匹配的第二定位部(11),所述承载盘(2)通过所述第一定位部(21)与所述第二定位部(11)匹配后可拆卸连接在所述底座(1)上。
3.如权利要求1所述的承载装置,其特征在于,所述承载盘(2)还具有让位槽(22),外部机械手通过所述让位槽(22)将所述待测件(200)放置于所述承载盘(2)上,或者,外部机械手通过所述让位槽(22)将所述待测件(200)从所述承载盘(2)上抓取移走。
4.如权利要求1-3任一项所述的承载装置,其特征在于,所述待测件(200)为带贴片环的晶圆,包括裸硅片和贴片环,所述裸硅片为不可接触部位,所述贴片环为可接触部位;所述预设定位部(210)具有至少三个,所述预设定位部(210)间隔地分布于贴片环的侧边,所述定位组件(3)与预设定位部(210)一一对应,所述压紧部件(4)为至少三个,至少三个所述压紧部件(4)相对于所述承载盘(2)中心对称或圆周分布设置,所述压紧部件(4)用于施加预设压力于所述贴片环的表面。
5.如权利要求1-3任一项所述的承载装置,其特征在于,所述定位组件(3)包括定位块,所述定位块与所述预设定位部(210)匹配,所述定位块用于定位所述待测件(200),所述定位块可拆卸连接在所述承载盘(2)上,所述承载盘(2)具有多个用于安装所述定位块的第一安装孔(24),至少两个所述第一安装孔(24)与所述承载盘(2)的中心的距离不同。
6.如权利要求1-3任一项所述的承载装置,其特征在于,所述承载装置(100)还包括滑动组件,所述定位组件(3)通过所述滑动组件与所述承载盘(2)滑动连接,所述滑动组件用于调整所述定位组件(3)在所述承载盘(2)的位置。
7.如权利要求1-3任一项所述的承载装置,其特征在于,所述压紧部件(4)包括驱动组件(40)以及压块(41);
在所述待测件(200)承载于所述承载盘(2)的情况下,所述驱动组件(40)用于驱动所述压块(41)靠近或远离所述待测件(200);
所述压块(41)用于与所述待测件(200)的所述可接触部位接触,以将所述待测件(200)固定在所述承载盘(2)上。
8.如权利要求7所述的承载装置,其特征在于,所述压块(41)与所述驱动组件(40)的动力输出端转动连接,在所述驱动组件(40)的驱动下可转动至第一预设角度或第二预设角度;
在所述压块(41)相对于所述驱动组件(40)转动至第一预设角度时,所述压块(41)按压于所述待测件(200)的可接触部位;
在所述压块(41)相对于所述驱动组件(40)转动至第二预设角度时,所述压块(41)断开与所述待测件(200)之间的接触。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造