[实用新型]晶圆上下料移载装置有效
申请号: | 202222039031.0 | 申请日: | 2022-08-03 |
公开(公告)号: | CN217903098U | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 林邦羽;李勇春;刘卫东 | 申请(专利权)人: | 立川(无锡)半导体设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/677;H01L21/67 |
代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 葛莉华 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 上下 料移载 装置 | ||
本申请涉及晶圆加工的技术领域,尤其是公开了晶圆上下料移载装置,包括旋转机构、取料臂一和取料臂二,旋转机构包括旋转架,其中旋转架能够沿竖向进行自转;取料臂一和取料臂二均通过滑移组件与旋转架水平滑移连接,取料臂一和取料臂二均具有伸出和收回两个状态,在竖直方向上,取料臂一和取料臂二的滑移方向的投影共线,且取料臂二和取料臂一之间留有大于一个晶圆厚度的间距。本申请中通过旋转架的往复转动,取料臂一将待检晶圆从存储工位上取下后转运至检测工位,取料臂二伸出将检测完成的晶圆从检测工位上的取下转运至存储工位,晶圆实现自动上料、转移和收料,且适用于不同规格的晶圆,通用性高。
技术领域
本申请涉及晶圆加工的技术领域,尤其涉及晶圆上下料移载装置。
背景技术
晶圆作为制造半导体器件和芯片的基本材料,是半导体产业中的重要元件之一。当前市面上主要通过专用机器人或者专用机械手装置对晶圆进行上料、转移和收料,以装置配合检测设备完成对晶圆的检验。
由于每个转移工序都需要一个对应的专用机器人或专用机械手,同时,现有的专用机器人以及专用机械手购买成本高、安装调试复杂,导致生产成本高昂。
实用新型内容
为了能够解决上述技术问题,本申请的技术方案提供了晶圆上下料移载装置。技术方案如下:
本申请提供了晶圆上下料移载装置,包括旋转机构、取料臂一和取料臂二,所述旋转机构包括旋转架,其中所述旋转架能够沿竖向进行自转;所述取料臂一和所述取料臂二均通过滑移组件与所述旋转架水平滑移连接,所述取料臂一和所述取料臂二均具有伸出和收回两个状态,在竖直方向上,所述取料臂一和所述取料臂二的滑移方向的投影共线,且所述取料臂二和所述取料臂一之间留有大于一个晶圆厚度的间距。
进一步地,还包括电连接的边缘检测传感器和调节组件,所述边缘检测传感器包括设置在所述旋转架上的上激光发射器和下激光接收器,当所述取料臂一和所述取料臂二处于收回状态时,所述取料臂一上晶圆的缺口位于所述上激光发射器和所述下激光接收器之间,所述取料臂一和所述取料臂二上相对于所述边缘检测传感器的位置均设开有透光口,所述边缘检测传感器未检测到缺口时,所述调节组件驱使晶圆沿竖向自转。
具体的,所述调节组件包括同轴相连的调节电机和真空吸盘、以及竖向连接于所述旋转架的升降气缸,所述升降气缸的活塞端通过承载板与所述调节电机的固定端固定连接。
特别地,所述调节组件还包括位于所述升降气缸和所述真空吸盘之间的检测盘和感应件,所述检测盘与所述真空吸盘同轴连接,所述感应件固定连接于所述承载板,所述检测盘上开设有检测通槽,所述检测盘位于所述感应件的感应范围内。
进一步地,所述升降气缸通过固定块与所述旋转架相连,所述固定块和所述旋转架之间连接有竖向设置的导杆,所述承载板上固定嵌设有花键,所述花键套设在所述导杆上并与所述导杆滑动配合。
具体的,所述旋转机构还包括底座和旋转驱动部,所述旋转架转与所述底座转动连接,所述旋转驱动部和所述旋转架传动连接。
特别地,所述旋转驱动部包括套设在所述旋转架上的从动圈、转动连接于所述底座的主动轮、绕设在所述从动圈和所述主动轮上的传动带,所述底座上还设有用于驱使所述主动轮转动的旋转电机。
进一步地,所述旋转驱动部还包括转动连接于所述底座的两个涨紧轮,所述传动带从两个所述涨紧轮之间通过并与两个所述涨紧轮保持抵接。
具体的,所述滑移组件包括沿所述取料臂二的滑动方向依次设置在所述旋转架上的两个转动轮、绕设在两个所述转动轮上的同步带、以及连接于所述旋转架的滑移电机,所述滑移电机与任一转动轮同轴连接,所述同步带上连接有用于与所述取料臂一或所述取料臂二相连的同步件。
特别地,所述滑移组件还包括导轨、滑动套设在所述导轨上的滑块,所述导轨沿所述取料臂二的滑移方向设置在所述旋转架上,所述滑块通过转接部与所述取料臂一或所述取料臂二相连。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造